射频测试装置及其测试方法制造方法及图纸

公开一种射频测试装置及其测试方法，包括：分路模块，具有输入端、第一输出端和第二输出端，第一输出端用于连接第一待测试器件，第二输出端用于连接第二待测试器件；分路模块配置为，将第一输出端与第二输出端中的至少一者与输入端导通，且第一输出端的输出信号与第二输出端的输出信号的功率之和等于输入端的输入信号的功率；测试仪，具有第一信号端和第二信号端，第一信号端与分路模块的输入端连接，第二信号端用于连接第二待测试器件；测试仪配置为向第一信号端输出射频检测信号，并根据射频检测信号和第一信号端接收到的信号，确定第一待测试器件的参数；根据射频检测信号和第二信号端接收到的信号，确定第二待测试器件的参数。数。数。

RF test device and its test method

【技术实现步骤摘要】
射频测试装置及其测试方法


[0001]本专利技术涉及射频
，具体涉及射频测试装置及其测试方法。

技术介绍

[0002]在使用射频系统进行信号传输之前，需要对射频器件的性能进行测试，例如，对天线的反射系数、移相器在不同电压下的相位进行测试。而目前的测试过程中，难以将天线和移相器在同一测试平台上进行测试，从而导致测试效率较低。

技术实现思路

[0003]本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提出了一种射频测试装置及其测试方法。
[0004]为了实现上述目的，本专利技术提供一种射频测试装置，包括：
[0005]分路模块，具有输入端、第一输出端和第二输出端，所述第一输出端用于连接第一待测试器件，所述第二输出端用于连接第二待测试器件的第一端；所述分路模块配置为，将所述第一输出端与所述第二输出端中的至少一者与所述输入端导通，且所述第一输出端的输出信号与所述第二输出端的输出信号的功率之和等于所述输入端的输入信号的功率；
[0006]测试仪，具有第一信号端和第二信号端，所述第一信号端与所述分路模块的输入端连接，所述第二信号端用于连接所述第二待测试器件的第二端；所述测试仪配置为，向所述第一信号端输出射频检测信号，并根据所述射频检测信号和所述第一信号端接收到的、来自所述第一待测试器件的信号，确定所述第一待测试器件的参数；以及，根据所述射频检测信号和所述第二信号端接收到的、来自所述第二待测试器件的信号，确定所述第二待测试器件的参数。
[0007]在一些实施例中，所述分路模块具体配置为，将所述第一输出端和所述第二输出端依次与所述输入端导通。
[0008]在一些实施例中，所述分路模块包括：
[0009]射频开关，所述射频开关具有第一射频端、第二射频端和公共端，所述公共端作为所述分路模块的输入端，所述第一射频端作为所述分路模块的第一输出端，所述第二射频端作为所述分路模块的第二输出端；
[0010]开关控制单元，与所述射频开关连接，所述开关控制单元配置为控制所述射频开关的公共端与所述第一射频端之间的通断，以及控制所述射频开关的公共端与所述第二射频端之间的通断。
[0011]在一些实施例中，所述分路模块包括：功分器，所述功分器的输入端作为所述分路模块的输入端，所述功分器的两个输出端分别作为所述分路模块的第一输出端和第二输出端。
[0012]在一些实施例中，所述第一待测试器件为液晶天线，所述第二待测试器件为移相器；
[0013]所述射频测试装置还包括：第一偏置器和第二偏置器；其中，
[0014]所述第一偏置器的射频输入端与所述第一待测试器件连接，所述第一偏置器的直流输入端与第一直流电源端连接，所述第一偏置器的耦合端与所述分路模块的第一输出端连接；所述第二偏置器的射频输入端与所述分路模块的第二输出端连接，所述第二偏置器的直流输入端与第二直流电源端连接，所述第二偏置器的耦合端与所述第二待测试器件连接。
[0015]在一些实施例中，所述射频测试装置还包括：第一隔直器，所述第一隔直器连接在所述测试仪的第二信号端与所述第二待测试器件的第二端之间。
[0016]在一些实施例中，所述射频测试装置还包括：第二隔直器和第三隔直器，所述第二隔直器连接在所述分路模块的第一输出端与所述第一偏置器之间；
[0017]所述第三隔直器连接在所述分路模块的第二输出端与所述第二偏置器之间。
[0018]在一些实施例中，所述射频测试装置还包括：第一直流电源和第二直流电源，
[0019]所述第一直流电源端为所述第一直流电源的输出端，所述第二直流电源端为所述第二直流电源的输出端。
[0020]在一些实施例中，所述射频测试装置还包括：双通道直流电源，所述第一直流电源端和所述第二直流电源端分别为双通道直流电源的两个输出端。
[0021]在一些实施例中，所述射频测试装置还包括：
[0022]控制器，所述控制器与所述分路模块连接，所述控制器配置为，在不同时刻分别向所述分路模块提供第一控制信号和第二控制信号，所述第一控制信号用于控制所述分路模块的第一输出端与输入端导通，所述第二控制信号用于控制所述分路模块的第二输出端与输入端导通。
[0023]本专利技术实施例还提供一种应用于上述射频测试装置的测试方法，包括：
[0024]所述测试仪向所述第一信号端输出射频检测信号，并根据所述射频检测信号与所述第一信号端所接收到的、来自所述第一待测试器件的信号，确定所述第一待测试器件的参数；以及根据所述射频检测信号与所述第二信号端所接收到的、来自所述第二待测试器件的信号，确定所述第二待测试器件的参数。
附图说明
[0025]附图是用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本专利技术，但并不构成对本专利技术的限制。在附图中：
[0026]图1为本专利技术的一些实施例中提供的射频测试装置的示意图。
[0027]图2为本专利技术的一些实施例中提供的分路模块的示意图。
[0028]图3A为本专利技术的一些实施例中提供的第一偏置器与其他器件的连接示意图。
[0029]图3B为本专利技术的一些实施例中提供的第二偏置器与其他器件的连接示意图。
[0030]图4为本专利技术的另一些实施例中提供的射频测试装置的示意图。
[0031]图5为本专利技术的另一些实施例中提供的射频测试装置的示意图。
[0032]图6为本专利技术的另一些实施例中提供的射频测试装置的示意图。
[0033]图7为本专利技术的另一些实施例中提供的射频测试装置的示意图。
具体实施方式
[0034]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例的附图，对本专利技术实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本专利技术的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0035]这里用于描述本专利技术的实施例的术语并非旨在限制和/或限定本专利技术的范围。例如，除非另外定义，本专利技术使用的技术术语或者科学术语应当为本专利技术所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。应该理解的是，本专利技术中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。除非上下文另外清楚地指出，否则单数形式“一个”、“一”或者“该”等类似词语也不表示数量限制，而是表示存在至少一个。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现在“包括”或者“包含”前面的元件或者物件涵盖出现在“包括”或者“包含”后面列举的元件或者物件及其等同，并不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。
[0036]图1为本专利技术的一些实施例中提供的射频测试装置的示意图，如图1所示，该射频测试装置包括：测试仪10本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种射频测试装置，其特征在于，包括：分路模块，具有输入端、第一输出端和第二输出端，所述第一输出端用于连接第一待测试器件，所述第二输出端用于连接第二待测试器件的第一端；所述分路模块配置为，将所述第一输出端与所述第二输出端中的至少一者与所述输入端导通，且所述第一输出端的输出信号与所述第二输出端的输出信号的功率之和等于所述输入端的输入信号的功率；测试仪，具有第一信号端和第二信号端，所述第一信号端与所述分路模块的输入端连接，所述第二信号端用于连接所述第二待测试器件的第二端；所述测试仪配置为，向所述第一信号端输出射频检测信号，并根据所述射频检测信号和所述第一信号端接收到的、来自所述第一待测试器件的信号，确定所述第一待测试器件的参数；以及，根据所述射频检测信号和所述第二信号端接收到的、来自所述第二待测试器件的信号，确定所述第二待测试器件的参数。2.根据权利要求1所述的射频测试装置，其特征在于，所述分路模块具体配置为，将所述第一输出端和所述第二输出端依次与所述输入端导通。3.根据权利要求2所述的射频测试装置，其特征在于，所述分路模块包括：射频开关，所述射频开关具有第一射频端、第二射频端和公共端，所述公共端作为所述分路模块的输入端，所述第一射频端作为所述分路模块的第一输出端，所述第二射频端作为所述分路模块的第二输出端；开关控制单元，与所述射频开关连接，所述开关控制单元配置为控制所述射频开关的公共端与所述第一射频端之间的通断，以及控制所述射频开关的公共端与所述第二射频端之间的通断。4.根据权利要求1所述的射频测试装置，其特征在于，所述分路模块包括：功分器，所述功分器的输入端作为所述分路模块的输入端，所述功分器的两个输出端分别作为所述分路模块的第一输出端和第二输出端。5.根据权利要求1至4中任意一项所述的射频测试装置，其特征在于，所述第一待测试器件为液晶天线，所述第二待测试器件为移相器；所述射频测试装置还包括：第一偏置器和第二偏置器；其中，所述第一偏置器的射频输入端与所述第一待测试器件连接，...

【专利技术属性】
技术研发人员：曲峰，刘宗民，李伟，李必奇，范西超，郭俊伟，郭景文，王亚丽，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：