一种测试系统技术方案

本申请提供一种测试系统，包括：屏蔽箱，内部具有一收容空间，用于放置待测件；多个天线耦合板，间隔地设置在屏蔽箱的内表面，各天线耦合板分别用于和待测件上的天线耦接；切换开关，与多个天线耦合板连接，用于切换各天线耦合板的工作状态，工作状态包括开启状态及关闭状态；测试装置，分别与切换开关和待测件连接，用于对待测件的各天线的性能进行测试，通过将多个天线耦合板间隔地设置在屏蔽箱的内表面，使得待测件的天线分别与一天线耦合板耦接，通过切换不同天线耦合板的工作状态，可实现对待测件的天线分别进行测试；通过设置多个天线耦合板，使得待测件上的各天线可与匹配性较佳的天线耦合板耦接，提高测试各天线的测试效率及测试准确性。测试准确性。测试准确性。

A test system

【技术实现步骤摘要】
一种测试系统


[0001]本申请涉及产品测试领域，具体而言，涉及一种测试系统。

技术介绍

[0002]随着无线通信技术的发展，通讯产品在日常生活中的应用范围也越来越广。其中，通讯产品在出厂前，通常需要对该通讯产品中各天线进行测试。而测试的方式包括非信令测试以及信令测试，对于非信令测试而言，由于某些产品的天线较多且分布在不同位置，因此，导致在进行测试时，需要不断变化产品的位置，使待测的天线靠近天线耦合板，测试效率较低，并且各天线只能与一个天线耦合板连接，导致无法确定天线此时是否是最佳测试状态，由此导致测试各天线的性能的准确性较差的问题。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本申请实施例的目的在于提供一种测试系统，用以提高测试各天线的测试效率以及测试准确性。
[0004]本申请提供一种测试系统，所述系统包括：屏蔽箱，内部具有一收容空间，用于放置待测件；多个天线耦合板，间隔地设置在所述屏蔽箱的内表面，各天线耦合板分别用于和所述待测件上的天线耦接；切换开关，与所述多个天线耦合板连接，用于切换各天线耦合板的工作状态，所述工作状态包括开启状态及关闭状态；测试装置，分别与所述切换开关和所述待测件连接，用于对所述待测件的各天线的性能进行测试。
[0005]在本申请实施例中，通过将多个天线耦合板间隔地设置在屏蔽箱的内表面，并将待测件放置在屏蔽箱内部的收容空间中，使得待测件上的各天线可以与一天线耦合板耦接，避免由于待测件中的天线距离天线耦合板的距离过远，而导致在测试时引入误差，通过切换开关与天线耦合板连接，切换不同天线耦合板的工作状态，使得无需改变待测件的位置，即可获得距离天线耦合板较近的天线的信号，提高测试各天线的测试效率，通过测试装置分别与切换开关与待测件连接，实现对待测件的天线分别进行测试，通过设置多个天线耦合板，使得待测件上的各天线可与匹配性较佳的天线耦合板耦接，提高测试各天线的性能的准确性。
[0006]一实施例中，所述测试装置包括：频谱仪，所述频谱仪与所述切换开关连接，用于测量与处于开启状态的天线耦合板耦接的天线的信号；第一终端，与所述待测件连接，用于控制所述待测件中各天线的工作状态以及控制所述待测件所发射信号的功率；与所述频谱仪连接，用于根据所述频谱仪所测得的天线信号和所述待测件发射信号的功率对所述天线的发射性能进行分析；以及与所述切换开关连接，用于控制所述切换开关切换各天线耦合板的工作状态。
[0007]在本申请实施例中，通过将频谱仪与切换开关连接，以测量与处于开启状态的天线耦合板耦接的天线的信号，再通过将第一终端与切换开关连接，控制切换开关切换各天线耦合板的工作状态，进一步通过将第一终端与待测件连接，由此控制待测件中各天线的
工作状态以及控制待测件所发射信号的功率，进而根据待测件所发射信号的功率和频谱仪所测得的天线信号对天线发射性能进行分析。
[0008]一实施例中，所述频谱仪通过射频线与所述切换开关连接。
[0009]一实施例中，所述第一终端通过通用接口总线或通用串行总线或网线与所述频谱仪连接。
[0010]一实施例中，所述第一终端通过RJ45网线与所述待测件连接。
[0011]一实施例中，所述测试装置还包括：信号发生器，分别与所述切换开关和所述第一终端连接，用于产生测试信号并将所述测试信号发送至处于开启状态的天线耦合板；所述第一终端还用于控制所述信号发生器所产生的所述测试信号的功率，以及根据与所述处于开启状态的天线耦合板连接的天线所接收的信号和所述信号发生器产生所述测试信号的功率对该天线的接收性能进行分析。
[0012]在本申请实施例中，通过将信号发生器与切换开关连接，以产生测试信号并将测试信号发送至处于开启状态的天线耦合板，使得待测件中的与处于开启状态的天线耦合板耦接的天线能够收到测试信号，通过将第一终端分别与待测件和信号发生器连接，实现控制信号发生器产生的测试信号的功率，并根据待测件中天线所接收的测试信号和信号发生器产生的测试信号的功率对天线的接收性能进行分析。
[0013]一实施例中，所述测试装置包括：信号发生器，与所述切换开关连接，用于产生测试信号并将所述测试信号发送至处于开启状态的天线耦合板；第二终端，与所述信号发生器连接，用于控制所述信号发生器所产生的所述测试信号的功率；与所述待测件连接，用于根据与所述处于开启状态的天线耦合板连接的天线所接收的信号和所述信号发生器所产生的所述测试信号的功率对所述天线的接收性能进行分析；与所述切换开关连接，用于控制所述切换开关切换各天线耦合板的工作状态。
[0014]在本申请实施例中，通过将第二终端与切换开关连接，以控制切换开关切换各天线耦合板的工作状态，通过将信号发生器与切换开关连接，以产生测试信号并将测试信号发送至处于开启状态的天线耦合板，进一步通过将第二终端与信号发生器连接，以实现控制信号发生器所产生测试信号的功率，并根据信号发生器所产生测试信号的功率和与处于开启状态的天线耦合板连接的天线所接收的信号对天线的接收性能进行分析。
[0015]一实施例中，所述信号发生器通过射频线与所述切换开关连接。
[0016]一实施例中，所述第二终端通过通用接口总线或通用串行总线或网线与所述信号发生器连接。
[0017]一实施例中，所述第二终端通过RJ45网线与所述待测件连接。
[0018]一实施例中，所述切换开关为射频开关。
[0019]本申请的一个或多个实施例的细节在下面的附图和描述中提出。本申请的其它特征、目的和优点将从说明书、附图以及权利要求书变得明显。
附图说明
[0020]为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以
根据这些附图获得其他相关的附图。
[0021]图1为本申请一实施例提供的测试系统的结构框图。
具体实施方式
[0022]为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
[0023]请参阅图1，图1为本申请一实施例提供的测试系统的结构框图，该测试系统包括：屏蔽箱、多个天线耦合板、切换开关及测试装置。
[0024]屏蔽箱的内部具有一收容空间，用于放置待测件。多个天线耦合板间隔地设置在屏蔽箱的内表面，各天线耦合板分别用于和待测件上的天线耦接。切换开关与多个天线耦合板连接，用于切换各天线耦合板的工作状态，工作状态包括开启状态及关闭状态。测试装置分别与切换开关和待测件连接，用于对待测件的各天线的性能进行测试。
[0025]可以理解，通过将多个天线耦合板间隔地设置在屏蔽箱的内表面，并将待测件放置在屏蔽箱内部的收容空间中，使得待测件上的各天线可以与一天线耦合板耦接，避免由于待本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试系统，其特征在于，包括：屏蔽箱，内部具有一收容空间，用于放置待测件；多个天线耦合板，间隔地设置在所述屏蔽箱的内表面，各天线耦合板分别用于和所述待测件上的天线耦接；切换开关，与所述多个天线耦合板连接，用于切换各天线耦合板的工作状态，所述工作状态包括开启状态及关闭状态；测试装置，分别与所述切换开关和所述待测件连接，用于对所述待测件的各天线的性能进行测试。2.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试装置包括：频谱仪，所述频谱仪与所述切换开关连接，用于测量与处于开启状态的天线耦合板耦接的天线的信号；第一终端，与所述待测件连接，用于控制所述待测件中各天线的工作状态以及控制所述待测件所发射信号的功率；与所述频谱仪连接，用于根据所述频谱仪所测得的天线信号和所述待测件发射信号的功率对所述天线的发射性能进行分析；以及与所述切换开关连接，用于控制所述切换开关切换各天线耦合板的工作状态。3.如权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述频谱仪通过射频线与所述切换开关连接。4.如权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述第一终端通过通用接口总线或通用串行总线或网线与所述频谱仪连接。5.如权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述第一终端通过RJ45网线与所述待测件连接。6.如权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述测试装置还包括：信号发生器，分别与所述切...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱团，
申请(专利权)人：上海移远通信技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：