【技术实现步骤摘要】
一种基于激光减材的工件残余应力深度分布自动测量装置
[0001]本专利技术涉及一种残余应力检测设备，尤其是一种基于激光减材的工件残余应力深度分布自动测量装置。
技术介绍
[0002]在现代工程和科研当中，工件经过各种加工或处理，都会产生残余应力，残余应力会对材料性能产生影响，为了探究以及控制残余应力的产生，首先需要对工件进行准确的残余应力分布检测，X射线衍射法是目前较为成熟的残余应力检测方法，但是此方法只能测量工件表面的残余应力，无法测量内部，要想精确测量工件深度方向的残余应力分布，必须要精确定量的去除工件表面的材料，并且不能在去除过程中使工件改性导致残余应力的局部状态发生改变，目前常用的材料去除方法为电解抛光法，但是电解抛光法效率低，可控性差，很难进行高分辨率的精准高效材料去除，为此我们提出一种基于高频脉冲激光实现无二次应力表层材料剥离的工件残余应力深度分布自动测量装置。
技术实现思路
[0003]本专利技术提供了一种基于激光减材的工件残余应力深度分布自动测量装置，解决了上述
技术介绍
中提及的技术问题。
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于激光减材的工件残余应力深度分布自动测量装置，其特征在于：包括基体和测量单元，所述基体包括底座、机架和移动平台，所述移动平台设置在所述底座上侧，待测工件可拆卸固定在所述移动平台上，所述机架设置在所述底座上侧，且位于所述移动平台的侧后方，所述测量单元包括X射线残余应力测量系统、高频脉冲激光系统、光学深度测量系统和控制系统，所述X射线残余应力测量系统、高频脉冲激光系统、光学深度测量系统可拆卸设置在所述机架上，所述控制系统设置在所述底座上，所述X射线系统残余应力测量系统对待测工件的待测点进行定位且对待测工件进行残余应力深层分布测量，所述高频脉冲激光系统在所述控制系统和光学深度测量系统的辅助下对待测工件进行定量自动材料去除，所述光学深度测量系统通过光学测量原理对待测工件的表面形貌进行测量，以获取去除深度，通过测量形貌过后计算出平均材料去除深度，所述控制系统用于控制所述X射线残余应力测量系统、高频脉冲激光系统、光学深度测量系统和移动平台的启闭。2.根据权利要求1所述的基于激光减材的工件残余应力深度分布自动测量装置，其特征在于：所述X射线残余应力测量系统包括探头、万向支架、纵向导轨和驱动电机二，所述探头安装在所述万向支架上，且可以根据待测工件的材料和形状调解测量角度，所述万向支架安装在所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：张雷，
申请(专利权)人：山东鼎泰昇交通科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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