一种波环阻值测量设备的结构制造技术

本发明专利技术公开了一种波环阻值测量设备的结构，包括下治具和上治具，下治具设有下凹台阶，上治具设有与下凹台阶配合的下凸结构，下凹台阶的外边缘设有下导电块，下凸结构的底部边缘处设有上导电块，上导电块和下导电块错位设置，上导电块与上PCB板连接，下导电块与下PCB板连接。上下治具合模，下凸结构的边缘伸入波环中并且作用于内凸点，使内凸点外移，内凸点两侧的折弯处与下导电块接触，与两块PCB板连接的电阻测量仪能够测出波环上相邻点位之间的电阻。的电阻。的电阻。

【技术实现步骤摘要】
一种波环阻值测量设备的结构


[0001]本专利技术涉及手表零件的检测设备，具体涉及手表内导体件电阻的检测设备。

技术介绍

[0002]手表中的波环，是一种导体，一般为铜制品，用于连接手表内圈的导电端子，该导电端子与手表内环形分布的电子器件连接。如此，该波环能够实现环形分布的各电子器件的电连接，用于实现对各电子器件的供电。被波环连接的相邻两个导电端子之间具有一定的电阻值，该电阻值主要决定于与该两个导电端子连接的波环两点之间的阻值。因此，需要对波环上与导电端子连接的各点之间的电阻值进行测量，以判断阻值是否达标。

技术实现思路

[0003]本专利技术所解决的技术问题：提供一种用于测量波环电阻值的设备结构。
[0004]为解决上述技术问题，本专利技术提供如下技术方案：一种波环阻值测量设备的结构，包括下治具和上治具，下治具设有下凹台阶，上治具设有与下凹台阶配合的下凸结构，下凹台阶的外边缘设有下导电块，下凸结构的底部边缘处设有上导电块，上导电块和下导电块错位设置，上导电块与上PCB板连接，下导电块与下PCB板连接。
[000本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种波环阻值测量设备的结构，包括下治具(10)和上治具(20)，其特征在于：下治具设有下凹台阶(11)，上治具设有与下凹台阶配合的下凸结构(21)，下凹台阶的外边缘设有下导电块(13)，下凸结构的底部边缘处设有上导电块(23)，上导电块和下导电块错位设置，上导电块与上PCB板(24)连接，下导电块与下PCB板(14)连接。2.如权利要求1所述的一种波环阻值测量设备的结构，其特征在于：下治具(10)上设有下导电块槽(15)，下PCB板(14)安装在下治具的底部，下导电块槽内设有与下治具底部连通的下探针孔(16)，下探针孔内配合有下探针(160)，下探针电连接下导电块(13)和下PCB板。3.如权利要求1所述的一种波环阻值测量设备的结构，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈建平，闫朝旭，
申请(专利权)人：苏州启航电子有限公司，
类型：发明
国别省市：