【技术实现步骤摘要】
障碍物检测方法、装置、系统及非易失性存储介质
[0001]本专利技术涉及测量
，具体而言，涉及一种障碍物检测方法、装置、系统及非易失性存储介质。
技术介绍
[0002]现有的方法在检测一个平面上是否存在障碍物时，通常采用的方法是通过面tof等三维传感器检测距离来确定是否存在障碍物，但是采用这种方法的精度较低，且成本较高。
[0003]针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
[0004]本专利技术实施例提供了一种障碍物检测方法、装置、系统及非易失性存储介质，以至少解决由于现有技术中通过三维传感器检测距离来确定是否存在障碍物造成的精度低且成本高的技术问题。
[0005]根据本专利技术实施例的一个方面，提供了一种障碍物检测方法，包括：确定反射图片中的反射像素点的相位，并依据相位确定投影图片中的投影像素点和反射图片中的反射像素点的对应关系，其中，反射图片为目标区域基于投影图片反射的图片；在目标区域中确定基准平面，并依据基准平面和对应关系确定单应矩阵，其中，单应矩阵用于确定在目...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种障碍物检测方法，其特征在于，包括：确定反射图片中的反射像素点的相位，并依据所述相位确定投影图片中的投影像素点和所述反射图片中的反射像素点的对应关系，其中，所述反射图片为目标区域基于所述投影图片反射的图片；在所述目标区域中确定基准平面，并依据所述基准平面和所述对应关系确定单应矩阵，其中，所述单应矩阵用于确定在所述目标区域为平面的情况下，任意所述反射像素点对应的所述投影像素点；依据所述对应关系，确定第一目标像素点对应的第二目标像素点，以及依据所述单应矩阵，确定所述第一目标像素点对应的第三目标像素点，其中，所述第一目标像素点为所述反射像素点或所述投影像素点；确定所述第二目标像素点和所述第三目标像素点之间的距离；在所述距离不小于预设距离阈值的情况下，确定所述第二目标像素点对应的子目标区域为障碍物区域，其中，所述子目标区域位于所述目标区域中。2.根据权利要求1所述的障碍物检测方法，其特征在于，所述反射像素点的相位包括水平相位和竖直相位，其中，依据所述相位确定所述投影图片中的投影像素点和所述反射图片中的反射像素点的对应关系包括：确定所述投影图片的水平方向像素点的第一数量，以及竖直方向像素点的第二数量；依据所述第一数量和所述水平相位，确定与所述反射像素点对应的所述投影像素点的投影横坐标值表达式，其中，所述投影像素点的投影横坐标值为所述投影像素点在投影坐标系中的坐标的横坐标值，所述投影坐标系为依据所述投影图片创建的坐标系；依据所述第二数量和所述竖直相位，确定与所述反射像素点对应的所述投影像素点的投影纵坐标值表达式，其中，所述投影像素点的投影纵坐标值为所述投影像素点在所述投影坐标系中的所述坐标的纵坐标值；确定所述投影横坐标值表达式和所述投影纵坐标值表达式为所述对应关系。3.根据权利要求2所述的障碍物检测方法，其特征在于，确定反射图片中的反射像素点的相位包括：确定所述反射像素点对应的水平方向灰度值，以及竖直方向灰度值；确定所述反射图片的总数量；依据所述反射图片的总数量，所述水平方向灰度值确定所述反射像素点的水平相位，以及，依据所述反射图片的总数量，所述竖直方向灰度值确定所述反射像素点的竖直相位。4.根据权利要求2所述的障碍物检测方法，其特征在于，依据所述基准平面和所述对应关系确定单应矩阵包括：在所述基准平面中确定多个基准投影像素点，并确定所述多个基准投影像素点中的每个基准投影像素点在所述投影坐标系中的坐标值；依据所述对应关系，确定所述每个基准投影像素点对应的基准反射像素点在反射坐标系中的坐标值，其中，所述反射坐标系为依据所述反射图片创建的坐标系；依据所述每个基准投影像素点在所述投影坐标系中的投影坐标值，以及所述每个基准投影像素点对应的所述基准反射像素点在所述反射坐标系中的反射坐标值，确定所述单应矩阵。
5.根据权利要求4所述的障碍物检测方法，其特征在于，确定所述第二目标像素点和所述第三目标像素点之间的距离包括：确定所述第二目标像素点在目标坐标系中的第一坐标值，以及所述第三目标像素点在所述目标坐标系中的第二坐标值，其中，在所述第二目标像素点和所述第三目标像素点为所述投影像素点的情况下，所述目标坐标系为所述投影坐标系，在所述第二目标像素点和所述第三目标像素点为所述反射像素点的情况下，所述目标坐标系为所述反射坐标系；依据所述第一坐标值和所述第二坐标值，确定所述第二目标像素点和所述第三目标像素点之间的距离。6.根据权利...
【专利技术属性】
技术研发人员：苏博文，余金清，冉鹏，罗廷，
申请(专利权)人：成都极米科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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