【技术实现步骤摘要】
一种基于初值
‑
速率相关退化模型的可靠性评估方法
[0001]本专利技术涉及一种可靠性评估方法,尤其是一种基于初值
‑
速率相关退化模型的可靠性评估方法,属于电子元器件产品可靠性分析
技术介绍
[0002]随着科学技术的进步与发展,现有电子元器件产品普遍具有高可靠、长寿命的特点,导致传统基于寿命数据的可靠性评估方法难以应用。相较于传统方法,基于退化模型的可靠性评估方法关注电子元器件产品的退化数据,通过追踪产品的退化过程,结合给定的失效阈值预测产品的伪寿命,能够在短时间内准确评估产品的可靠性,被广泛应用于工程实际当中。
[0003]在退化过程当中,电子元器件产品的性能参数初值与其对应的退化速率间通常存在相关性。然而,为便于推导和计算,现有基于退化模型的可靠性评估方法通常将其转换为增量形式(即使得初值强制置零)或假设初值与退化速率相互独立,从而忽略了上述相关性,进而降低了所得可靠性评估结果的准确度。因此,亟需对现有基于退化模型的可靠性评估方法进行优化,考虑性能参数初值与退化速率 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于初值
‑
速率相关退化模型的可靠性评估方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤1:随机抽选同一批次的N只产品开展退化试验,并在试验过程中定期采集能够表征产品性能的特征参数,在t
ij
时刻下对第i只产品开展第j次测试,测得的特征参数值为Y
ij
,其中,i=1,2,...,N,j=0,1,...,d
i
,N为样本总数,d
i
为第i个样本的特征参数测试总数,将得到的第i只产品特征参数的退化数据记录为:步骤2:针对产品的特征参数,建立初值与退化速率相关的退化模型:其中,Y(t)表示t时刻下产品的特征参数测试值,X(t)表示t时刻下产品的真实特征参数,ε表示测试过程中的测量误差,其服从均值为0,方差为的正态分布:且在不同测试时刻下ε相互独立,X0表示产品的特征参数的初值,其服从均值为μ0,方差为的正态分布:λ表示产品的退化速率,其服从均值为μ
λ
,方差为的正态分布:Λ(t)和τ(t)均为时间尺度函数,σ为扩散系数,B(
·
)为布朗运动,σB(τ(t))表征产品退化过程中由于环境和人为因素造成的波动,考虑初值与退化速率间的相关性,令X0和λ服从相关系数为ρ的二元联合正态分布;步骤3:根据步骤二的退化模型,建立其对应的对数似然函数,基于步骤一的退化数据,确定退化模型中的时间尺度函数形式,并利用极大似然方法估计退化模型中的待定参数:3.1、根据步骤二的退化模型的性质,第i只产品特征参数的退化数据Y
i
服从均值向量为μ
i
协方差矩阵为Σ
i
的多元正态分布,μ
i
和Σ
i
可表示为...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈岑,郑博恺,张东,杜俊亮,叶雪荣,翟国富,
申请(专利权)人:哈尔滨工业大学,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。