一种硬盘拔插测试方法、系统及相关组件技术方案

本申请公开了一种硬盘拔插测试方法、系统及相关组件，涉及硬盘测试领域，应用于测试主机，该方法包括：当收到目标硬盘对目标接口的插入信息，识别目标硬盘的盘符；根据当前测试模式进行测试，收集目标硬盘的数据；当收到目标硬盘的拔出信息并等待当前测试模式对应的时间段后再次收到目标硬盘插入目标接口的插入信息，根据当前测试模式进行测试，收集目标硬盘的数据，重复执行该步骤直至执行次数达到预设次数；将所有目标硬盘的数据打包，作为目标硬盘对目标接口的测试数据结果；其中目标接口为硬盘机柜或硬盘背板中的任一硬盘接口。本申请用于测试硬盘拔插，由测试主机执行硬盘拔插测试方法，大幅节省了人力消耗，同时提高了测试效率和准确度。测试效率和准确度。测试效率和准确度。

A hard disk unplugging test method, system and related components

【技术实现步骤摘要】
一种硬盘拔插测试方法、系统及相关组件


[0001]本专利技术涉及硬盘测试领域，特别涉及一种硬盘拔插测试方法、系统及相关组件。

技术介绍

[0002]硬盘热插拔测试的设计目的主要是验证硬盘的热插拔功能、异常场景下自恢复能力以及在IO(Input/Output，输入输出)压力下热插拔是否会导致硬盘故障信息增加。当前硬盘热插拔一般由人工手动执行查验，每次插拔都需要工作人员手动检查插拔前后的数据结果进而比对硬盘是否故障，一次测试需要几十次插拔的前后比对和结果记录，工作人员的工作量过大，耗时较大，且容易发生错误。尤其是在测试硬盘机柜例如4U108JOBD这种待测硬盘接口非常多的情况下，人工成本较高，测试的效率太低。
[0003]因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是目前本领域技术人员需要解决的问题。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种高效的硬盘拔插测试方法、系统及相关组件。其具体方案如下：
[0005]一种硬盘拔插测试方法，应用于测试主机，包括：
[0006]当收到目标硬盘对目标接口的插入信息，识别所述目标硬盘的盘符；
[0007]根据当前测试模式进行测试，收集所述目标硬盘的数据；
[0008]当收到所述目标硬盘的拔出信息并等待所述当前测试模式对应的时间段后再次收到所述目标硬盘插入所述目标接口的插入信息，根据当前测试模式进行测试，收集所述目标硬盘的数据，重复执行该步骤直至执行次数达到预设次数；
[0009]将所有所述目标硬盘的数据打包，作为所述目标硬盘对所述目标接口的测试数据结果；
[0010]其中所述目标接口为硬盘机柜或硬盘背板中的任一硬盘接口。
[0011]优选的，所述识别所述目标硬盘的盘符之前，还包括：
[0012]清除所述目标接口和/或所述目标接口对应的日志。
[0013]优选的，所述收集所述目标硬盘的数据的过程，包括：
[0014]收集所述目标硬盘测试中盘故障信息。
[0015]优选的，所述识别所述目标硬盘的盘符之后、所述根据当前测试模式进行测试，收集所述目标硬盘的数据之前，还包括：
[0016]收集所述目标硬盘测试前盘故障信息。
[0017]优选的，所述当前测试模式为带IO拔插测试模式、无IO慢速插拔模式或无IO快速插拔模式。
[0018]优选的，若所述当前测试模式为所述带IO拔插测试模式，则所述根据当前测试模式进行测试的过程，包括：
[0019]对所述目标硬盘进行fio读写。
[0020]优选的，所述硬盘拔插测试方法还包括：
[0021]根据所述测试数据结果，判断所述目标硬盘和/或所述目标接口是否通过测试。
[0022]相应的，本申请还公开了一种硬盘拔插测试系统，应用于测试主机，包括：
[0023]识别模块，用于当收到目标硬盘对目标接口的插入信息，识别所述目标硬盘的盘符；
[0024]测试模块，用于根据当前测试模式进行测试，收集所述目标硬盘的数据，还用于当收到所述目标硬盘的拔出信息并等待所述当前测试模式对应的时间段后再次收到所述目标硬盘插入所述目标接口的插入信息，根据当前测试模式进行测试，收集所述目标硬盘的数据，重复执行该步骤直至执行次数达到预设次数；
[0025]打包模块，用于将所有所述目标硬盘的数据打包，作为所述目标硬盘对所述目标接口的测试数据结果；
[0026]其中所述目标接口为硬盘机柜或硬盘背板中的任一硬盘接口。
[0027]相应的，本申请还公开了一种硬盘拔插测试装置，包括：
[0028]存储器，用于存储计算机程序；
[0029]处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上文任一项所述硬盘拔插测试方法的步骤。
[0030]相应的，本申请还公开了一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上文任一项所述硬盘拔插测试方法的步骤。
[0031]本申请公开了一种硬盘拔插测试方法，应用于测试主机，包括：当收到目标硬盘对目标接口的插入信息，识别所述目标硬盘的盘符；根据当前测试模式进行测试，收集所述目标硬盘的数据；当收到所述目标硬盘的拔出信息并等待所述当前测试模式对应的时间段后再次收到所述目标硬盘插入所述目标接口的插入信息，根据当前测试模式进行测试，收集所述目标硬盘的数据，重复执行该步骤直至执行次数达到预设次数；将所有所述目标硬盘的数据打包，作为所述目标硬盘对所述目标接口的测试数据结果；其中所述目标接口为硬盘机柜或硬盘背板中的任一硬盘接口。本申请由测试主机执行硬盘拔插测试方法，在收到插入信息后，测试主机主动识别盘符、进行测试并收集数据，多次拔插测试后，将所有的数据打包作为测试数据结果，从而完成目标硬盘插入目标接口的拔插测试，该过程中不需要人工记录或分析数据，大幅节省了人力消耗，同时提高了测试效率和测试准确度。
附图说明
[0032]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0033]图1为本专利技术实施例中一种硬盘拔插测试方法的步骤流程图；
[0034]图2为本专利技术实施例中一种硬盘拔插测试系统的结构分布图。
具体实施方式
[0035]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0036]当前硬盘热插拔一般由人工手动执行查验，每次插拔都需要工作人员手动检查插拔前后的数据结果进而比对硬盘是否故障，一次测试需要几十次插拔的前后比对和结果记录，工作人员的工作量过大，耗时较大，且容易发生错误。尤其是在测试硬盘机柜例如4U108JOBD这种待测硬盘接口非常多的情况下，人工成本较高，测试的效率太低。
[0037]本申请由测试主机执行硬盘拔插测试方法，在收到插入信息后，测试主机主动识别盘符、进行测试并收集数据，多次拔插测试后，将所有的数据打包作为测试数据结果，从而完成目标硬盘插入目标接口的拔插测试，该过程中不需要人工记录或分析数据，大幅节省了人力消耗，同时提高了测试效率和测试准确度。
[0038]本专利技术实施例公开了一种硬盘拔插测试方法，应用于测试主机，参见图1所示，包括：
[0039]S1：当收到目标硬盘对目标接口的插入信息，识别目标硬盘的盘符；
[0040]其中，插入信息通过监测目标接口的在位信号获取，如果在位信号出现，则测试主机生成相应的插入信息。
[0041]可以理解的是，盘符的识别存在识别失败的可能，一旦识别失败则需要根据实际插入情况、识别本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种硬盘拔插测试方法，其特征在于，应用于测试主机，包括：当收到目标硬盘对目标接口的插入信息，识别所述目标硬盘的盘符；根据当前测试模式进行测试，收集所述目标硬盘的数据；当收到所述目标硬盘的拔出信息并等待所述当前测试模式对应的时间段后再次收到所述目标硬盘插入所述目标接口的插入信息，根据当前测试模式进行测试，收集所述目标硬盘的数据，重复执行该步骤直至执行次数达到预设次数；将所有所述目标硬盘的数据打包，作为所述目标硬盘对所述目标接口的测试数据结果；其中所述目标接口为硬盘机柜或硬盘背板中的任一硬盘接口。2.根据权利要求1所述硬盘拔插测试方法，其特征在于，所述识别所述目标硬盘的盘符之前，还包括：清除所述目标接口和/或所述目标接口对应的日志。3.根据权利要求1所述硬盘拔插测试方法，其特征在于，所述收集所述目标硬盘的数据的过程，包括：收集所述目标硬盘测试中盘故障信息。4.根据权利要求3所述硬盘拔插测试方法，其特征在于，所述识别所述目标硬盘的盘符之后、所述根据当前测试模式进行测试，收集所述目标硬盘的数据之前，还包括：收集所述目标硬盘测试前盘故障信息。5.根据权利要求1至4任一项所述硬盘拔插测试方法，其特征在于，所述当前测试模式为带IO拔插测试模式、无IO慢速插拔模式或无IO快速插拔模式。6.根据权利要求5所述硬盘拔插测试方法，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：万玲辉，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：