智能卡测试方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种智能卡测试方法、装置、电子设备及存储介质，其中该方法包括：通过配置模块对智能卡的测试信息进行配置，其中所述配置模块包括不同测试平台的测试配置，所述测试信息包括智能卡类型、所述智能卡测试的应用类型、所述智能卡的读卡器类型；根据所述读卡器类型确定目标读卡器，通过所述目标读卡器读取所述智能卡的智能卡数据；通过所述智能卡类型调用目标测试模块，根据所述目标测试模块获取目标测试用例；根据所述应用类型确定目标测试脚本，基于所述目标测试脚本，通过所述目标测试用例对所述智能卡数据中进行测试。本发明专利技术通过提出一种智能卡测试方法、装置、电子设备及存储介质，以兼容不同的智能卡测试平台、提高智能卡的测试效率。高智能卡的测试效率。

Smart card test method, device, electronic equipment and storage medium

【技术实现步骤摘要】
智能卡测试方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及智能卡测试领域，尤其是智能卡测试方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]目前，智能卡在银行、SIM卡、医疗卡、交通卡、门禁卡等上面的需求越来越大，同时对智能卡的功能验证测试也提出更高的要求，在各种不同的智能卡功能测试验证中，需要使用与其相对应的测试平台对其进行功能测试验证，当所有的测试平台都放在同一个测试系统时，如果每一个测试平台都是相互独立不交叉的、不兼容的，那么会造成测试系统非常臃肿，在测试过程中占用操作系统的空间过大造成测试效率低下。
[0003]同时，智能卡应用在不断产生，测试人员需要针对每一种智能卡应用开发对应的测试脚本，应用越复杂开发量越大，传统的方法是靠测试人员针对新应用的测试点逐个开发对应的测试用例，这样导致的工作效率非常低。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术实施例提供一种智能卡测试方法、装置、电子设备及存储介质。以兼容各种类型的智能卡测试平台并且提升智能卡的测试效率及开发效率。
[0005]本专利技术的第一方面提供了一种智能卡测试方法，包括：通过配置模块对智能卡的测试信息进行配置，其中所述配置模块包括不同测试平台的测试配置，所述测试信息包括智能卡类型、所述智能卡测试的应用类型、所述智能卡的读卡器类型；根据所述读卡器类型确定目标读卡器，通过所述目标读卡器读取所述智能卡的智能卡数据；通过所述智能卡类型调用目标测试模块，根据所述目标测试模块获取目标测试用例，其中所述目标测试模块用于提供生成目标测试用例的接口；根据所述应用类型确定目标测试脚本，基于所述目标测试脚本，通过所述目标测试用例对所述智能卡数据中进行测试。
[0006]根据本专利技术实施例的智能卡测试方法，至少具有如下有益效果：通过智能的测试信息进行配置，从而调用目标测试模块生成目标测试用例，并且得到目标读卡器用来对智能卡进行读卡操作，将目标测试用例根据目标测试脚本对智能卡数据进行测试。通过这种方法，使得支持、兼容不同的智能卡测试平台，提升测试效率，对降低测试系统的臃肿，缓解对计算机内存的占用率提升测试速度。
[0007]根据本专利技术的一些实施例，所述通过所述智能卡类型调用目标测试模块，根据所述目标测试模块获取目标测试用例，包括：确定所述智能卡类型为SIM卡，则调用第一测试模块，其中所述第一测试模块包括第一测试用例、第一指令测试集和第一算法，其中所述第一指令测试集封装了所述第一测试模块中的所有指令，通过所述第一指令测试集生成第一测试接口；通过所述第一算法调用第一测试接口加载应用测试模块，其中所述应用测试模块包括：应用测试用例；获取所述第一测试用例中符合所述应用测试用例的测试数据，生成所述目标测试用例，其中，所述第一测试模块和所述应用测试模块都属于目标测试模块，所
述目标测试用例由测试数据组成。
[0008]根据本专利技术的一些实施例，所述通过所述智能卡类型调用目标测试模块，根据所述目标测试模块获取目标测试用例，包括：确定所述智能卡类型为非SIM卡，则调用第二测试模块，其中所述第二测试模块包括第二测试用例、第二指令测试集和第二算法，其中所述第二指令测试集封装了所述第二测试模块中的所有指令，通过所述指令测试集生成第二测试接口；所述第二算法调用第二测试接口加载应用测试模块，其中所述应用测试模块包括：应用测试用例；获取所述第二测试用例中符合所述应用测试用例的测试数据，生成所述目标测试用例，其中，所述第二测试模块和所述应用测试模块都属于目标测试模块，所述目标测试用例由测试数据组成。
[0009]根据本专利技术的一些实施例，所述确定所述智能卡类型为非SIM卡，则调用第二测试模块包括：获取所述测试信息，确定所述测试信息中包括EMV标准中的信息，则调用的所述第二测试模块为EMV测试模块，否则调用的所述第二测试模块为非SIM卡测试模块。
[0010]根据本专利技术的一些实施例，生成所述应用测试用例的方法包括：确定添加新应用，获取应用的测试数据；通过所述应用测试模块的接口，使得应用添加模块获取测试模板，根据所述测试模板对所述测试数据进行调整得到模板测试用例，其中所述应用添加模块用于提供应用支持的指令接口，所述测试模板由测试指令构成，所述测试指令表征用于生成测试用例的指令；通过所述应用测试模块的接口，使得所述应用添加模块将所述模板测试用例传输到所述应用测试模块作为所述应用测试用例。
[0011]根据本专利技术的一些实施例，所述通过所述应用测试模块的接口，使得应用添加模块获取测试模板，根据所述测试模板对所述测试数据进行调整得到模板测试用例包括：确定所述目标读卡器为接触接口，则设置测试界面为接触界面；确定所述目标读卡器为非接触式接口，则设置测试界面为非接触界面；根据所述测试模板中所述测试指令，在所述测试界面上对所述测试数据进行调整。
[0012]根据本专利技术的一些实施例，所述根据所述读卡器类型确定目标读卡器，通过所述目标读卡器读取所述智能卡的智能卡数据包括：获取所述智能卡数据，确定所述智能卡数据中包含垃圾数据，则将所述垃圾数据进行删除，其中，所述垃圾数据包括写入到应用中的实例数据。
[0013]本专利技术的第二方面提供了一种智能卡测试装置，包括：第一模块，用于通过配置模块对智能卡的测试信息进行配置，其中所述配置模块包括不同测试平台的测试配置，所述测试信息包括智能卡类型、所述智能卡测试的应用类型、所述智能卡的读卡器类型；第二模块，用于根据所述读卡器类型确定目标读卡器，通过所述目标读卡器读取所述智能卡的智能卡数据；第三模块，用于通过所述智能卡类型调用目标测试模块，根据所述目标测试模块获取目标测试用例，其中所述目标测试模块用于提供生成目标测试用例的接口；第四模块，用于根据所述应用类型确定目标测试脚本，基于所述目标测试脚本，通过所述目标测试用例对所述智能卡数据中进行测试。
[0014]根据本专利技术实施例的智能卡测试装置，至少具有如下有益效果：通过智能的测试信息进行配置，从而调用目标测试模块生成目标测试用例，并且得到目标读卡器用来对智能卡进行读卡操作，将目标测试用例根据目标测试脚本对智能卡数据进行测试。通过这种方法，使得支持、兼容不同的智能卡测试平台，提升测试效率，对降低测试系统的臃肿，缓解
对计算机内存的占用率提升测试速度。
[0015]本专利技术的第三方面提供了一种电子设备，包括处理器以及存储器；所述存储器用于存储程序；所述处理器执行所述程序实现如上所述的任一项所述的智能卡测试方法。
[0016]根据本专利技术实施例的电子设备，至少具有与上述的智能卡测试方法同样的有益效果。
[0017]本专利技术的第四方面提供了一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储有程序，所述程序被处理器执行实现如上所述的任一项所述的智能卡测试方法。
[0018]根据本专利技术实施例的计算机可读存储介质，至少具有与上述的智能卡测试方法同样的有益效果。
[0019]本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种智能卡测试方法，其特征在于，包括：通过配置模块对智能卡的测试信息进行配置，其中所述配置模块包括不同测试平台的测试配置，所述测试信息包括智能卡类型、所述智能卡测试的应用类型、所述智能卡的读卡器类型；根据所述读卡器类型确定目标读卡器，通过所述目标读卡器读取所述智能卡的智能卡数据；通过所述智能卡类型调用目标测试模块，根据所述目标测试模块获取目标测试用例，其中所述目标测试模块用于提供生成目标测试用例的接口；根据所述应用类型确定目标测试脚本，基于所述目标测试脚本，通过所述目标测试用例对所述智能卡数据中进行测试。2.根据权利要求1所述的智能卡测试方法，其特征在于，所述通过所述智能卡类型调用目标测试模块，根据所述目标测试模块获取目标测试用例，包括：确定所述智能卡类型为SIM卡，则调用第一测试模块，其中所述第一测试模块包括第一测试用例、第一指令测试集和第一算法，其中所述第一指令测试集封装了所述第一测试模块中的所有指令，通过所述第一指令测试集生成第一测试接口；通过所述第一算法调用第一测试接口加载应用测试模块，其中所述应用测试模块包括：应用测试用例；获取所述第一测试用例中符合所述应用测试用例的测试数据，生成所述目标测试用例，其中，所述第一测试模块和所述应用测试模块都属于目标测试模块，所述目标测试用例由测试数据组成。3.根据权利要求1所述的智能卡测试方法，其特征在于，所述通过所述智能卡类型调用目标测试模块，根据所述目标测试模块获取目标测试用例，包括：确定所述智能卡类型为非SIM卡，则调用第二测试模块，其中所述第二测试模块包括第二测试用例、第二指令测试集和第二算法，其中所述第二指令测试集封装了所述第二测试模块中的所有指令，通过所述指令测试集生成第二测试接口；所述第二算法调用第二测试接口加载应用测试模块，其中所述应用测试模块包括：应用测试用例；获取所述第二测试用例中符合所述应用测试用例的测试数据，生成所述目标测试用例，其中，所述第二测试模块和所述应用测试模块都属于目标测试模块，所述目标测试用例由测试数据组成。4.根据权利要求3所述的智能卡测试方法，其特征在于，所述确定所述智能卡类型为非SIM卡，则调用第二测试模块包括：获取所述测试信息，确定所述测试信息中包括EMV标准中的信息，则调用的所述第二测试模块为EMV测试模块，否则调用的所述第二测试模块为非SI...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁雪焕，袁外平，邓振东，
申请(专利权)人：星汉智能科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：