【技术实现步骤摘要】
激光测距系统以及激光测距装置
[0001]本专利技术涉及光学测量、光学扫描
，尤其是激光雷达
，具体涉及一种激光测距系统以及激光测距装置。
技术介绍
[0002]激光雷达是以发射激光束探测目标的位置等特征量的雷达系统。激光雷达的光敏传感器可以将获取到的光脉冲信号转变为电信号，基于比较器获取该电信号对应的时间信息，从而得到激光雷达与目标物之间的距离信息。
[0003]在测距装置中，光源一般选用边缘出射激光器(EEL)，选用雪崩二极管(APD)作为接收元件，其中，EEL和APD均作为关键器件实现激光束的产生和探测。
[0004]在将光源组装到激光测量系统的安装座的时候，由于存在加工偏差以及安装偏差，因此，需要调整光源的位置(光源相对透镜沿光轴方向的相对位置、光源相对透镜中心的周向相对位置以及径向相对位置)，从而实现校准。
[0005]但是，由于发射光的光路路径与接收光的光路路径存在重合，发射光与接收光共用一块透镜，这就导致在调整光源位置的时候，也会使接收光的焦点位置发生变化，从而调整好的接收光...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种激光测距系统，其特征在于，包括：光源；第一光学元件，包括第一部分和第二部分，所述第一部分用于将所述光源的发射光转换成准直光，所述第二部分用于会聚所述准直光被目标物反射后的反射回光，所述第一部分的焦距不同于所述第二部分的焦距；感光芯片，用于接收所述反射回光并输出测量数据；第二光学元件，设置在所述光源和所述第一光学元件之间；以及扩束镜，镶嵌设置在所述第二光学元件并贯通所述第二光学元件，所述扩束镜的光轴与所述光源的光轴在同一直线上，所述光源所发出的发射光穿过所述扩束镜并入射至所述第一光学元件中，所述第二光学元件将所述反射回光反射至所述感光芯片。2.如权利要求1所述的激光测距系统，其特征在于，所述第一光学元件包括第一表面和第二表面，所述发射光从所述第一光学元件的第一表面入射，并从所述第一光学元件的第二表面射出，所述第二表面包括第一非球面区域和第二非球面区域，所述第一非球面区域与相应的第一表面组成所述第一部分，所述第二非球面区域与相应的第一表面组成所述第二部分；和/或，第一光学元件的第一部分和第二部分的光轴在同一直线上，第一非球面区域和第二非球面区域的光轴在同一直线上。3.如权利要求2所述的激光测距系统，其特征在于，所述第二非球面区域环绕所述第一非球面区域设置；和/或，所述第二非球面区域的焦距大于所述第一非球面区域的焦距。4.如权利要求1所述的激光测距系统，其特征在于，所述第二光学元件包括第三表面和第四表面，所述光源所发出的发射光从所述第二光学元件的第三表面入射，并从所述第二光学元件的第四表面出射，所述第一光学元件会聚的所述反射回光经过所述第二光学元件的第四表面反射后输出至所述感光芯片。5.如权利要求4所述的激光测距系统，其特征在于，所述第四表面包括第三区域和第四区域，所述扩束镜贯穿所述第三区域，所述第四区域环绕所述第三区域设置，所述光源所发出的发射光穿过所述第二光学元件的第三区域并入射至所述第一光学元件的第一表面，所述第一光学元件会聚的所述反射回光经过所述第四表面的第四区域反射后输出至所述感光芯片。6.如权利要求5所述的激光测距系统，其特征在于，所述第三表面涂覆有第一光学膜，所述第三区域涂覆有第一光学膜，所述第四区域涂覆有第二光学膜。7.如权利要求6所述的激光测距系统，其特征在于，所述第一光学膜包括增透膜；和/或，所述第二光学膜包括反射膜、半透半反膜中的任意一种。8.如权利要求1所述的激光测距系统，其特征在于，所述扩束镜包括输入部分和输出部分，所述输入部分朝向光源并伸出第二光学元件，所述输出部分朝向第一光学元件并伸出第二光学元件；和/或，所述第一光学元件、所述第二光学元件采用玻璃热压...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄柏良，
申请(专利权)人：湖南阿秒光学科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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