基板玻璃测量系统及基板玻璃测量方法技术方案

技术编号:34265051 阅读:47 留言:0更新日期:2022-07-24 14:43
本公开涉及一种基板玻璃测量系统及基板玻璃测量方法。基板玻璃测量系统包括机架、升降机构、至少两个直线驱动机构和至少两个测量件,所述升降机构设置于所述机架上,所述至少两个直线驱动机构分别与所述升降机构连接并由所述升降机构带动升降,至少两个所述直线驱动机构用于分别对应所述基板玻璃的相对两边,所述直线驱动机构与所述测量件连接以用于带动所述测量件远离或靠近所述基板玻璃。该基板玻璃测量系统可以及时发现研磨异常的基板玻璃,以有效控制研磨后的基板玻璃尺寸。以有效控制研磨后的基板玻璃尺寸。以有效控制研磨后的基板玻璃尺寸。

Substrate glass measurement system and substrate glass measurement method

【技术实现步骤摘要】
基板玻璃测量系统及基板玻璃测量方法


[0001]本公开涉及玻璃生产
,具体地,涉及一种基板玻璃测量系统及基板玻璃测量方法。

技术介绍

[0002]目前,对光电显示用玻璃(LCD玻璃、OLED玻璃、Cover玻璃等)玻璃进行深加工时,需要通过四边的切割、研磨、抛光,在切割工序后需要对切割的边部进行精磨以消除切割工序产生的缺陷(如微裂纹等),通常情况下研磨工序的研磨量很小,所以对研磨量的管控就成为关键技术,在研磨尺寸的工序管控中检测与测量研磨后产品尺寸的方法一般由人工检测,不但效率低,而且由于光电显示用玻璃的尺寸正在向大尺寸的G8.5、G8.6等方向发展,基板玻璃的尺寸很大,一个人无法运作,两人合作会导致人工抽检测量非常危险,碎片后对工艺和环境影响较大,影响了产品的质量,由于每个相对的边部的尺寸都需要测量两个点,所以需要的测量四次,费时较长,并且通过人工抽检测量之后的良品就成了废品,增加了生产成本。

技术实现思路

[0003]本公开的目的是提供一种基板玻璃测量系统及基板玻璃测量方法,该基板玻璃测量系统不仅避免了使用人工抽检造成本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基板玻璃测量系统,其特征在于,包括机架、升降机构、至少两个直线驱动机构和至少两个测量件,所述升降机构设置于所述机架上,所述至少两个直线驱动机构分别与所述升降机构连接并由所述升降机构带动升降,至少两个所述直线驱动机构用于分别对应所述基板玻璃的相对两边,所述直线驱动机构与所述测量件连接以用于带动所述测量件远离或靠近所述基板玻璃。2.根据权利要求1所述的基板玻璃测量系统,其特征在于,所述直线驱动机构的数量为至少四个,所述测量件的数量为至少八个,每至少两个所述测量件连接于每至少一个所述直线驱动机构,每至少两个所述直线驱动机构用于分别对应所述基板玻璃的四边中的相对两边,每至少两个所述直线驱动机构用于分别对应所述基板玻璃的四边中的另外相对两边。3.根据权利要求1所述的基板玻璃测量系统,其特征在于,所述升降机构包括第一电机、第一滚珠丝杆、升降轴承座、多根导柱和测量支架,所述第一电机安装在所述机架上,所述第一滚珠丝杆的一端与所述第一电机连接,所述测量支架连接在所述第一滚珠丝杆的另一端,所述第一滚珠丝杆通过所述升降轴承座支承于所述机架,所述多根导柱的一端分别连接于所述测量支架,所述多根导柱的另一端分别可伸缩地设置于所述机架,所述至少两个直线驱动机构均连接于所述测量支架。4.根据权利要求3所述的基板玻璃测量系统,其特征在于,所述机架呈倒U型且具有容纳空间,所述第一电机设在所述机架顶部,所述测量支架及所述直线驱动机构位于所述容纳空间中。5.根据权利要求1所述的基板玻璃测量系统,其特征在于,所述直线驱动机构包括安装部、第二电机、第二滚珠丝杆和滑块,所述安装部与所述升降机构连接,所述第二电机设置在所述安装部上,所述第二滚珠丝杆可转动地设置于所述安装部上,所述滑块分别与所述第二滚珠丝杆和所述测量件连接。6.根据权利要求1所述的基板玻璃测量系统,其特征在于,所述测量件为接触式传感器。7.根据权利要求1或6所述的基板玻璃测量系统,其特征在于,所述测量件用于面向所述基板玻璃的一侧设有缓冲件。8.一种基板玻璃测量方法,应用权利要求1
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【专利技术属性】
技术研发人员:李青李赫然任晓金赵艳军张桂龙郑连军刘志彪韩双库侯海波
申请(专利权)人:北京远大信达科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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