通过AEC重新配置启用的智能滤线栅处理制造技术

一种射线照相成像系统使用以默认关闭阈值配置的自动曝光控制设备。如果射线照相成像系统包括编程为通过对图像执行散射去除算法来处理图像的处理器，则在捕获射线照相图像之前，增加AEC的关闭阈值。增加AEC的关闭阈值。增加AEC的关闭阈值。

Intelligent grid processing enabled by AEC reconfiguration

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】通过AEC重新配置启用的智能滤线栅处理


[0001]本文中公开的主题涉及射线照相成像系统，特别地，涉及使用自动曝光控制（AEC）设备的射线照相成像系统。

技术介绍

[0002]在诊断x
‑
射线成像中，已知散射辐射会使图像质量降级。减少散射的传统方法包括准直（collimation）、利用气隙（air
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gap）和/或利用防散射滤线栅（anti
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scatter grid）。射线照相中的最佳实践规定每次检查时都要准直，并且，虽然这是有帮助的，但是由于受试者内会出现散射，所以这不完全足够。同样地，气隙技术虽然有帮助，但是在床边是不实用的。防散射滤线栅是便携式成像中减少x
‑
射线散射的最普遍的方法，但是它们给射线照相技师带来了诸如定位和对准之类的挑战。已经开发了诸如来自Carestream Health, Inc.的SmartGrid的图像处理工具，以补偿射线照相图像中的x
‑
射线散射的效应，并产生与物理防散射滤线栅的结果相当的结果。SmartGrid算法估计散射分布，并从射线照相图像中去除它，从而得到具有改善的对比度的图像。许多物理因素会影响散射：例如，x
‑
射线束的能谱，所成像的受试者的厚度和材料组成，以及准直。SmartGrid算法自动适应这些变量，并且因此，它的使用导致接近于防散射滤线栅的视觉表现的图像质量。
[0003]散射去除算法是一种通过抑制图像中的散射来改善射线照相图像对比度的增强算法。基本方法包括：开发散射分布图像，这是射线照相图像中所包含的散射的表示；并且然后从原始输入图像中减去它。散射分布图像利用图像在线性曝光空间以及衰减空间两者（它是线性数据的对数变换）中的信息进行开发。进行分割（segmentation）以将散射场的开发重点放在相关的解剖数据上，并利用分割来计算输入图像的平均线性曝光。确定用于估计散射的参数。它们包括散原比（scatter
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to
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primary ratio, SPR）和用于随着散射场的发展来控制散射分布的扰动的曲率参数。基于默认假设计算散射分布图像，所述默认假设由x
‑
射线所曝光的每个物体都具有基本（默认）的散射分布，散射分布由特定的能量水平和跨越整个物体视场的散射强度变化表征。基于规定的迭代次数的SPR参数以重复的方式执行跨越整个物体视场的散射强度的自适应更新。
[0004]提供以上论述仅仅是为了一般背景信息，并且不是旨在被用作帮助确定所要求保护的主题的范围。

技术实现思路

[0005]散射去除处理已经证明，在不使用防散射滤线栅的情况下，可以以与使用防散射滤线栅时的剂量水平相当的剂量水平来实现等效的射线照相图像质量。利用便携式成像可以容易地执行对防散射滤线栅布凯因子（bucky factor）的补偿，其中曝光水平由操作人员手动确定。然而，对于具有AEC的射线照相系统，探测仪对x
‑
射线束的暴露水平通常通过对AEC触发电平进行编程来预先配置。当在没有防散射滤线栅的情况下捕获射线照相图像时，与具有防散射滤线栅的相同曝光相比，将以对受试者更低的x
‑
射线曝光水平来更快速地触
发AEC。这种对受试者自动应用的更低曝光水平不允许散射去除算法充分实现它的好处。为了克服这个问题，每当要使用散射去除算法时，不管是没有滤线栅或是具有低比例滤线栅，都将以更高的触发电平预先配置AEC，以确保将足够的原曝光投递到受试者，就像在x
‑
射线束路径中使用高比例滤线栅一样。
[0006]射线照相成像系统使用以默认关闭阈值配置的自动曝光控制设备。如果射线照相成像系统包括编程为通过对图像执行散射去除算法来处理图像的处理器，则在捕获射线照相图像之前，增加AEC的关闭阈值。
[0007]在一个实施例中，一种射线照相成像系统包括x
‑
射线源、x
‑
射线探测仪和耦合到x
‑
射线源的自动曝光控制（AEC）设备。AEC配置成在AEC接收到满足预设阈值的量的x
‑
射线能量时触发x
‑
射线源的关闭。处理系统可接收执行用于捕获的射线照相图像中去除x
‑
射线散射的程序的请求，并且作为响应，处理系统增加用于触发AEC的预设阈值。
[0008]在另一个实施例中，一种捕获和处理受试者的射线照相图像的方法包括在要被射线照相成像的受试者附近定位x
‑
射线源和x
‑
射线探测仪。在配置成终止来自x
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射线源的x
‑
射线发射的AEC设备中预设默认阈值。响应于使用散射去除算法的请求，在捕获受试者的射线照相图像之前，增加AEC的预设默认阈值。
[0009]在另一个实施例中，一种在射线照相成像系统中使用AEC的方法包括提供具有程序化的默认关闭阈值的AEC。在确定射线照相成像系统配置成对由射线照相成像系统捕获的图像进行处理以去除散射辐射效应之后，在捕获受试者的射线照相图像之前，增加AEC的关闭阈值。
[0010]以上
技术实现思路
描述不是要描述其元素不可互换的各个独立实施例。事实上，被描述为与特定实施例相关的许多元素可以与其它描述的实施例的元素一起使用，并且可能与它们互换。在不背离本专利技术的精神的情况下，可在本专利技术的范围内进行许多改变和修改，并且本专利技术包括所有这样的修改。
[0011]对本专利技术的此简短描述仅仅旨在提供本文中根据一个或多个说明性实施例公开的主题的简要概述，并且不是充当用于解释权利要求或限定或限制本专利技术的范围的指导，本专利技术的范围只由随附的权利要求限定。提供该简短描述以便以简化的形式介绍将在下文在具体实施方式中进一步描述的概念的说明性选择。此简短描述不旨在标识要求所要求保护的主题的关键特征或基本特征，也不是旨在被用作帮助确定所要求保护的主题的范围。所要求保护的主题不限于解决
技术介绍
中提到的任何或所有缺点的实现方式。
附图说明
[0012]为了能够理解本专利技术的特征的方式，可通过参考某些实施例来对本专利技术进行详细描述，这些实施例中的一些实施例在所附附图中图示。但是，要注意的是，附图只图示本专利技术的某些实施例，并且因此不应被视为是限制本专利技术的范围，因为本专利技术的范围涵盖其它同样有效的实施例。以下附图既不旨在关于相对大小、角度关系、相对位置或时序关系按照任何精确的比例来绘制，也不旨在关于与所需实现方式的互换性、替代或表示按照任何组合关系来绘制，而是一般将重点放在图示本专利技术的某些实施例的特征上。在附图中，遍及各个视图，使用相同的数字来指示相同的部分。因此，为了进一步理解本专利技术，结合附图阅读，可对以下详细描述做出参考，在附图中：
图1是示例性x
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射线成像系统的示意性透视视图；图2是射线照相探测仪中的光电传感器阵列的示意图；图3是示例性DR探测仪的透视图；图4是示例性DR探测仪的横截面本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种射线照相成像系统，包括：x
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射线源；x
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射线探测仪；自动曝光控制设备，其耦合到所述x
‑
射线源并配置成在所述AEC接收到满足预设阈值的量的x
‑
射线能量时触发所述x
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射线源的关闭；以及处理系统，其用于控制所述x
‑
射线源、所述
‑
x射线探测仪并用于处理由所述探测仪捕获的射线照相图像，所述处理系统配置成接收执行用于减少所述捕获的射线照相图像中的x
‑
射线散射的程序的请求，其中，所述处理系统配置成根据是否请求过用于减少x
‑
射线散射的所述程序来设置所述自动曝光控制设备的触发电平，其中，所述处理系统配置成：如果请求过用于减少x
‑
射线散射的所述程序，则增加用于触发所述AEC的所述预设阈值。2.如权利要求1所述的系统，其中，所述处理系统进一步配置成根据所述公式T = (s+1)
ꢀ×ꢀ
t设置所述阈值T，其中，s表示在所述ACE设备处接收的x
‑
射线散射能量的散射值，并且t表示所述AEC的默认阈值。3.如权利要求2所述的系统，其中，所述系统基于指示由所述系统成像的受试者的大小的数据来确定增加所述预设阈值的量。4.一种捕获和处理受试者的射线照相图像的方法，所述方法包括以下步骤：在要被射线照相成像的所述受试者附近定位x
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射线源和x
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射线探测仪；设置AEC设备中的默认阈值，所述AEC设备配置成响应于接收到与所述默认阈值相对...

【专利技术属性】
技术研发人员：王晓辉，
申请(专利权)人：锐珂医疗公司，
类型：发明
国别省市：