用于中子散射实验的高温炉气氛插件制造技术

一种用于中子散射实验的高温炉气氛插件，包括：壳体，送样机构，进气机构，排气机构，抽真空连接组件，测压组件，以及测温组件；壳体的内部具有中空腔室；送样机构包括：样品杆以及储样组件，储样组件用于储放待测样品；进气机构包括：进气管路；排气机构包括：排气管路以及单向阀；抽真空连接组件的一端连通中空腔室，另一端用于外接抽真空设备；测压组件用于测量中空腔室的气压压强；测温组件用于测量中空腔室的温度。通过本气氛插件，可实现真空、惰性气体、低气压、快速降温、催化反应气体介质等多种实验条件下的中子散射实验的开展，以满足特殊实验条件的需要，助力材料科学的研究。助力材料科学的研究。助力材料科学的研究。

【技术实现步骤摘要】
用于中子散射实验的高温炉气氛插件


[0001]本专利技术涉及中子散射高温炉的
，具体涉及一种用于中子散射实验的高温炉气氛插件。

技术介绍

[0002]温度是一个基本物理量，在物质科学的研究中发挥着重要作用，尤其是高温环境。高温环境可用于材料的合成、热处理等工艺流程，提供高温环境的常用设备为高温炉。
[0003]中子散射是研究材料结构和动力学的重要手段，中子散射与高温环境相结合可以开展材料在高温环境条件下的热稳定性、结构相变及热动力学等研究。但在高温环境下，材料易与空气、水蒸气等反应，容易造成材料的氧化或变质，不仅影响实验结果的准确性，还难以满足真空、惰性气体、低气压、快速降温、催化反应等多种实验条件。

技术实现思路

[0004]本专利技术主要解决的技术问题是实现真空、惰性气体、低气压、快速降温、催化反应气体介质等多种实验条件下的中子散射实验的开展，以满足特殊实验条件的需要，助力材料科学的研究。
[0005]本申请提供了一种用于中子散射实验的高温炉气氛插件，包括：
[0006]壳体，所述壳体的内部具有本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于中子散射实验的高温炉气氛插件，其特征在于，包括：壳体，所述壳体的内部具有中空腔室，所述壳体包括：壳本体，盖本体，以及密封连接组件；所述壳本体上开设有开口，所述盖本体盖扣于所述开口；所述密封连接组件设于所述壳本体的外壁，用于与高温炉本体的炉口密封连接；送样机构，包括：样品杆以及储样组件，所述样品杆穿设、且密封连接于所述盖本体，所述储样组件设置于所述样品杆，所述储样组件用于储放待测样品；进气机构，包括：进气管路，所述进气管路的一端连通所述中空腔室，所述进气管路的另一端用于外接预设气源；排气机构，包括：排气管路以及单向阀；所述排气管路的一端连通所述中空腔室，所述排气管路的另一端与所述单向阀连通；抽真空连接组件，所述抽真空连接组件的一端连通所述中空腔室，所述抽真空连接组件的另一端用于外接抽真空设备；测压组件，所述测压组件用于测量所述中空腔室的气压压强；测温组件，所述测温组件用于测量所述中空腔室的温度。2.如权利要求1所述的用于中子散射实验的高温炉气氛插件，其特征在于，所述进气机构还包括：安全阀，所述安全阀连通在所述进气管路的另一端，用于在所述中空腔室中的气压压强大于预设压强范围时，进行泄压。3.如权利要求2所述的用于中子散射实验的高温炉气氛插件，其特征在于，所述进气机构还包括：进气阀门，所述进气阀门具有进口端和出口端，所述进气阀门的进口端用于外接预设气源，所述进气阀门的出口端连通所述安全阀。4.如权利要求1所述的用于中子散射实验的高温炉气氛插件，其特征在于，所述排气机构还包括：四通接头，所述四通接头的第一端口与所述排气管路的另一端连通，所述四通接头的第二端口与所述测压组件连通，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁宝，胡海韬，白波，童欣，柯于斌，何春勇，叶凡，黄志强，
申请(专利权)人：中国科学院高能物理研究所，
类型：发明
国别省市：