用于光学多模信道带宽分析器的设备和方法技术

一种测试装置，具有：至少一个光源；高速光电检测器；微控制器或处理器；以及电路系统，为该至少一个光源、光电检测器和微控制器或处理器供电和驱动该至少一个光源、光电检测器和微控制器或处理器，并且用于测量被测多模光纤的频率响应。该测试装置可以利用具有光适配器的光脉冲波形来测量被测信道。该装置还可以使用校正方法从环形通量模态色带宽中去嵌入源的色度带宽。当与VCSEL收发器一起使用时，该校正方法可以使用针对不同类型的VCSEL获得的校正函数来估计光学信道带宽。函数来估计光学信道带宽。函数来估计光学信道带宽。

【技术实现步骤摘要】
用于光学多模信道带宽分析器的设备和方法
相关申请的交叉引用
[0001]本申请要求于2021年1月8日提交的美国临时专利申请第63/135,183号的权益，该临时申请通过引用整体并入本文。


[0002]本专利技术大体涉及光纤的测量，并且更具体地，涉及在一个或多个光谱区域中测量多模光纤信道的带宽的手持设备。

技术介绍

[0003]具有激光优化带宽特性的渐变折射率多模光纤根据其测得的最小有效模态带宽(EMB)分为OM3、OM4或OM5。TIA和IEC标准中定义的最小EMB阈值，在850nm[1]的标称操作波长下为：OM3为2000MHz km，OM4和OM5为4700MHz km。
[0004]通常，EMB是使用与光纤的线轴的每一端相距小于1km的两个样本测量的，光纤的线轴通常包含约8.8km或17.6km光纤。EMB方法假设两个端部样本代表线轴中的所有光纤，这与一些光纤制造商观察到的制造变化不一致。
[0005]一般来说，当连接到基于VCSEL的收发器时，光纤的EMB和信道的误码率性能之间的相关性较低。相关性差的原本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测装置，包括：至少一个光源；高速光电检测器；微控制器或处理器；以及电路系统，所述电路系统为所述至少一个光源、光电检测器和微控制器或处理器供电和驱动所述至少一个光源、光电检测器和微控制器或处理器，并且用于测量被测多模光纤的频率响应，其中：所述测试装置利用具有光适配器的光脉冲波形来测量被测信道；所述装置使用校正方法从环形通量模态色度带宽中去嵌入所述源的色度带宽；以及当与VCSEL收发器一起使用时，所述校正方法使用针对不同类型的VCSEL获得的校正函数来估计光学信道带宽。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置验证能够在被测光纤信道上被支持的规定的数据速率和最大到达。3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述装置验证能够在用于以太网或光纤信道应用的被测光纤信道上被支持的规定的数据速率和最大到达。4.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述装置验证在以太网或SAN光纤信道光学信道的演变之后更新的所指定的数据速率和最大到达。5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，测量用于多个波长的信道带宽。6.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述装置验证能够针对多个波长被支持的规定的数据速率和最大到达。7.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，使用参考光纤获得所述校正函数，并且进一步，其中所述参考光纤具有已知的色散值、模态和色度带宽。8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，利用诸如锁模钛宝石激光器的光谱和时间窄源来测量所述参考光纤。9.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述光适配器是产生在环形通量发射的公差内的模式功率分布的模式调节器。10.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置使用校正方法，以使用多项式拟合从所述模态色度带宽中去嵌入所述源的所述色度带宽，其中所述系...

【专利技术属性】
技术研发人员：J，
申请(专利权)人：泛达公司，
类型：发明
国别省市：