用于多次经过光学信道监视器的光学器件制造技术

光学设备可以包括色散元件。该光学器件可以包括反射光学器件，以反射具有垂直于色散元件色散方向的固定偏移量和色散元件色散方向的负偏移量的光束。反射光学器件可以与色散元件对准，以相对于色散元件偏移光束，并使光束在多次经过中穿过色散元件，在多次经过中的每一次都偏移光束。一次都偏移光束。一次都偏移光束。

【技术实现步骤摘要】
用于多次经过光学信道监视器的光学器件
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本专利申请要求2020年12月28日提交的，标题为“MULTI
‑
PASS HIGH RESOLUTION SPECTROMETER”的美国临时专利申请第63/131,181号的优先权，其在先申请的公开内容被认为是本专利申请的一部分，并通过引用结合到本专利申请中。


[0003]本专利技术总体上涉及一种反射光学器件和一种光学装置，该光学装置包括与色散元件和微机电系统(MEMS)元件对准的反射光学器件，以使光束在多次经过时穿过色散元件和MEMS元件，光束具有在色散元件的色散方向上施加的固定垂直偏移量和在多次经过中的每一次时施加的光谱反转。

技术介绍

[0004]光信道监视器(optical channel monitor：OCM)是能够测量光信号的波长信道中的光功率的设备。OCM可以连接到光网络中的一个点，以便测量例如该点处的光信道的功率、频率和其他特性。在一些情况下，OCM可以扫描多个波长信道，以便测量多个信道中的光功率(例如，在一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学装置，包括:色散元件；和反射光学器件，用于反射具有垂直于色散元件的色散方向的固定偏移量和在色散元件的色散方向上的负偏移量的光束，其中反射光学器件与色散元件对准，以相对于色散元件偏移光束，并使光束在多次经过时穿过色散元件，在多次经过的每一次时偏移光束。2.根据权利要求1所述的光学设备，其中，所述色散方向上的负偏移量被配置为引起光谱反转。3.根据权利要求1所述的光学设备，其中所述光学设备是光学信道监视器或分光计中的至少一个。4.根据权利要求1所述的光学设备，其中所述色散元件包括衍射光栅。5.根据权利要求1所述的光学设备，进一步包括:微机电系统在色散元件和反射光学器件的光路中倾斜反射镜。6.根据权利要求1所述的光学设备，其中所述反射光学器件包括反射棱镜。7.根据权利要求1所述的光学设备，其中所述反射光学器件包括多个反射棱镜。8.根据权利要求1所述的光学设备，其中所述反射光学器件包括具有折射面的棱镜。9.根据权利要求1所述的光学设备，进一步包括:在色散元件和反射光学器件的光路中的透镜。10.根据权利要求1所述的光学设备，其中，所述反射光学器件被配置为在所述反射光学器件的连续反射中引起垂直方向上的光束偏移抵消。11.一种方法，包括:在光信道监视器的输入端口处接收光束；由光信道监视器的反射光学器件引导光束多次经过光信道监视器的色散元件，其中每次经过根据反射光学器件的固定垂直偏移量而偏移；和基于引导所述光束多次经过所述色散元件，由所述光信道监视器确定所述光束的特性。12.根据权利要求11所述的方法，其中引导光束经过色散元件包括:在多次经过中的第一次经过时将光束引导经过色散元件；基于在第一次经过时...

【专利技术属性】
技术研发人员：P科尔伯恩，
申请(专利权)人：朗美通经营有限责任公司，
类型：发明
国别省市：