一种相控阵检测用具有水平调整功能扫查机制造技术

技术编号:34133960 阅读:16 留言:0更新日期:2022-07-14 16:08
本实用新型专利技术属于相控阵技术领域,尤其为一种相控阵检测用具有水平调整功能扫查机,包括阵列组,还包括设置在阵列组一侧的扫查组件,所述扫查组件包括扫查板、连接轴、翻转板和滚轮,所述阵列组的表面贴合连接有所述扫查板,所述扫查板的内表面旋转连接有固定设置在所述翻转板上的所述连接轴,所述翻转板的表面固定设置有所述滚轮,本装置通过扫查组件上的与阵列组表面水平的扫查板与翻转板的工作可以对阵列组表面的灰尘进行顺利的清理工作,并使阵列组可以顺利的进行信号的接收以及发射工作,通过固定组件的工作,可以使翻转板以及滚轮在旋转之后得到有效的固定工作,使清理工作能够顺利的进行。能够顺利的进行。能够顺利的进行。

A scanning machine with horizontal adjustment function for phased array detection

【技术实现步骤摘要】
一种相控阵检测用具有水平调整功能扫查机


[0001]本技术属于相控阵
,具体涉及一种相控阵检测用具有水平调整功能扫查机。

技术介绍

[0002]相控阵指的是相位补偿基阵,它既可用以接收以及发射信号,在进行此项工作时,相控阵表面的清洁度对其工作效率具有一定的影响,那么就需要对阵列组的表面进行水平清理,但是现有的扫查机没有较好的灰尘清理工作,不利于阵列组的正常工作,并且在进行扫查工作时,阻力较大,使扫查工作难以顺利的进行的问题。
[0003]为解决上述问题,本申请中提出一种相控阵检测用具有水平调整功能扫查机。

技术实现思路

[0004]为解决上述
技术介绍
中提出的问题。本技术提供了一种相控阵检测用具有水平调整功能扫查机,通过扫查组件上的与阵列组表面水平的扫查板与翻转板的工作可以对阵列组表面的灰尘进行顺利的清理工作,并使阵列组可以顺利的进行信号的接收以及发射工作,通过固定组件的工作,可以使翻转板以及滚轮在旋转之后得到有效的固定工作,使清理工作能够顺利的进行。
[0005]为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种相控阵检测用具有水平调整功能扫查机,包括阵列组,还包括设置在阵列组一侧的扫查组件;
[0006]所述扫查组件包括扫查板、连接轴、翻转板和滚轮,所述阵列组的表面贴合连接有所述扫查板,所述扫查板的内表面旋转连接有固定设置在所述翻转板上的所述连接轴,所述翻转板的表面固定设置有所述滚轮。
[0007]作为本技术一种相控阵检测用具有水平调整功能扫查机优选的,所述连接轴的截面形状为“凸”状。
[0008]作为本技术一种相控阵检测用具有水平调整功能扫查机优选的,还包括设置在阵列组一侧的固定组件,所述固定组件包括拉杆、插条和弹簧,所述拉杆的表面滑动连接有所述扫查板,所述拉杆的一侧在所述扫查板的内表面固定连接有所述插条,所述插条与所述扫查板的内表面滑动连接,所述插条的表面与所述弹簧的一端固定连接。
[0009]作为本技术一种相控阵检测用具有水平调整功能扫查机优选的,所述翻转板的内表面开设有与所述插条截面形状相同的通槽。
[0010]与现有技术相比,本技术的有益效果是:通过扫查组件上的与阵列组表面水平的扫查板与翻转板的工作可以对阵列组表面的灰尘进行顺利的清理工作,并使阵列组可以顺利的进行信号的接收以及发射工作,通过固定组件的工作,可以使翻转板以及滚轮在旋转之后得到有效的固定工作,使清理工作能够顺利的进行。
附图说明
[0011]附图用来提供对本技术的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本技术的实施例一起用于解释本技术,并不构成对本技术的限制。在附图中:
[0012]图1为本技术的整体结构示意图;
[0013]图2为本技术中的翻转板与滚轮翻转结构示意图;
[0014]图3为本技术中的扫查板与翻转板剖面结构示意图;
[0015]图4为本技术中的扫查板剖面与翻转板结构示意图。
[0016]图中:
[0017]1、阵列组;
[0018]2、扫查组件;21、扫查板;22、连接轴;23、翻转板;24、滚轮;
[0019]3、固定组件;31、拉杆;32、插条;33、弹簧。
具体实施方式
[0020]下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。
[0021]如图1所示:
[0022]一种相控阵检测用具有水平调整功能扫查机,包括阵列组1。
[0023]本实施方案中:现有的扫查机没有较好的灰尘清理工作,不利于阵列组1的正常工作,并且在进行扫查工作时,阻力较大,使扫查工作难以顺利的进行的问题,为解决上述问题,在此基础上增加扫查组件2与固定组件3。
[0024]进一步而言:
[0025]如图1

图4所示:
[0026]结合上述内容:扫查组件2包括扫查板21、连接轴22、翻转板23和滚轮24,阵列组1的表面贴合连接有扫查板21,扫查板21的内表面旋转连接有固定设置在翻转板23上的连接轴22,翻转板23的表面固定设置有滚轮24。
[0027]本实施方案中:当需要需要对阵列组1的表面进行扫查时,可以使扫查板21放置于阵列组1的表面,随后再通过扫查板21对阵列组1进行有效的扫查,在不同尺寸的阵列组1进行扫查时,可以通过连接轴22使扫查板21与滚轮24之间进行旋转,在翻转板23与滚轮24旋转180度之后,可以使扫查板21对阵列组1进行顺利的扫查工作,并通过滚轮24进行有效的滚动,使摩擦力大幅度的降低。
[0028]更进一步而言:
[0029]在一个可选的实施例中,连接轴22的截面形状为“凸”状。
[0030]本实施例中:能够使扫查板21与翻转板23之间进行有效的连接,并在通过连接轴22的特殊形状能够使扫查板21与翻转板23进行有效的旋转,从而使翻转板23与滚轮24的翻转工作得到顺利的旋转。
[0031]需要说明的是:连接轴22设置在翻转板23靠近扫查板21一侧表面的中点,能够在翻转板23旋转时翻转板23与扫查板21两侧的表面保持在同一平面上,使阵列组1能够得到
有效的扫查。
[0032]更进一步而言:
[0033]在一个可选的实施例中,还包括设置在阵列组1一侧的固定组件3,固定组件3包括拉杆31、插条32和弹簧33,拉杆31的表面滑动连接有扫查板21,拉杆31的一侧在扫查板21的内表面固定连接有插条32,插条32与扫查板21的内表面滑动连接,插条32的表面与弹簧33的一端固定连接。
[0034]本实施例中:在需要对翻转板23进行翻转工作时,可以先向扫查板21中轴线的方向拉动拉杆31,同时拉杆31下方的插条32压缩位于扫查板21内部的弹簧33,在拉杆31移动的同时,与拉杆31一体的插条32从翻转板23的内部抽出,随后可以使翻转板23能够与扫查板21之间进行有效的旋转,在扫查板21翻转180度之后,可以将松开拉杆31,使拉杆31在弹簧33的复位工作下带动插条32再次伸入翻转板23中,从而使扫查板21与翻转板23之间再次固定,并可以通过滚轮24使扫查板21在阵列组1的表面可以有效的滑动。
[0035]需要说明的是:在滚轮24朝向阵列组1的方向时,滚轮24的最低点到扫查板21底面的高度,等于阵列组1的高度,可以在滚轮24滚动时扫查板21与阵列组1具有有效的接触面积,有利于通过扫查板21对阵列组1的扫查工作。
[0036]更进一步而言:
[0037]在一个可选的实施例中,翻转板23的内表面开设有与插条32截面形状相同的通槽。
[0038]本实施例中:可以通过翻转板23表面开本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种相控阵检测用具有水平调整功能扫查机,包括阵列组(1),其特征在于:还包括设置在阵列组(1)一侧的扫查组件(2);所述扫查组件(2)包括扫查板(21)、连接轴(22)、翻转板(23)和滚轮(24),所述阵列组(1)的表面贴合连接有所述扫查板(21),所述扫查板(21)的内表面旋转连接有固定设置在所述翻转板(23)上的所述连接轴(22),所述翻转板(23)的表面固定设置有所述滚轮(24)。2.根据权利要求1所述的相控阵检测用具有水平调整功能扫查机,其特征在于:所述连接轴(22)的截面形状为“凸”状。3.根据权利要求1所述的相控阵检测...

【专利技术属性】
技术研发人员:韩晓耕田文文管华礼刘金新段辉
申请(专利权)人:天津欣维检测技术有限公司
类型:新型
国别省市:

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