触摸屏面板的检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术揭示了一种触摸屏面板的检测方法及装置，方法包括：获取所述触摸屏面板的电容矩阵数据；比较所述电容矩阵数据中的每个电容值是否全部在第一预设范围内；若否，将不在所述第一预设范围内的电容值对应的电容标记为异常电容；判断所述异常电容的数量是否符合预设数量条件；若否，则将所述触摸屏面板判断为不良品。本发明专利技术可以至少从电容值的大小、异常电容的量的两个维度筛选，运用该方法，可以减小过度判断的几率，避免良品触摸屏面板被判定不良品的问题，降低了生产的成本，提高了生产效率。效率。效率。

Detection method and device of touch screen panel

【技术实现步骤摘要】
触摸屏面板的检测方法及装置


[0001]本专利技术涉及触摸屏面板
，尤其涉及一种触摸屏面板的检测方法及装置。

技术介绍

[0002]在对触摸屏面板检测时，可以对触摸屏面板的各个电容值进行判断，例如以某一基准值，上下浮动一定的百分比进行判断，当实际的电容值超过该百分比时，判断为电容值的大小异常，会将对应的屏幕判定为不良品。但这样的判断方式容易出现问题，具体地，若具体的百分比设置得过小，会使更多的触摸屏面板被判断为不良品，存在过度判断的问题，反之则存在漏判断的问题。为了防止漏判断，则会出现过判断的问题，将本来可以使用的面板判断为不良品，增大了企业生产的成本。

技术实现思路

[0003]为解决现有技术中触摸屏面板的良品判断存在过度判断的问题，本专利技术的目的在于提供一种合理判断是否为不良品的触摸屏面板的检测方法及装置。
[0004]为实现上述专利技术目的，本专利技术一实施方式提供一种触摸屏面板的检测方法，包括如下步骤：
[0005]获取所述触摸屏面板的电容矩阵数据；
[0006]比较所述电容矩阵数据中的每本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种触摸屏面板的检测方法，其特征在于，包括如下步骤：获取所述触摸屏面板的电容矩阵数据；比较所述电容矩阵数据中的每个电容值是否全部在第一预设范围内；若否，则进行如下步骤：将不在所述第一预设范围内的电容值对应的电容标记为异常电容；判断所述异常电容的数量是否符合预设数量条件；若否，则将所述触摸屏面板判断为不良品。2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，其中，所述异常电容包括超过所述第一预设范围上限的上限异常电容，所述预设数量条件包括上限数量条件；所述步骤“判断所述异常电容的数量是否符合预设数量条件”包括：判断所述上限异常电容的数量是否符合上限数量条件。3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述上限数量条件包括上限行连续值、上限行非连续值、上限列连续值、上限列非连续值；还包括步骤：判断所述上限异常电容的数量是否小于上限行连续值、上限行非连续值、上限列连续值、以及上限列非连续值；若否，则将所述触摸屏面板判断为不良品。4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，其中，所述异常电容包括低于所述第一预设范围下限的下限异常电容，所述预设数量条件包括下限数量条件；所述步骤“判断所述异常电容的数量是否符合预设数量条件”包括：判断下限异常电容的数量是否符合下限数量条件。5.根据权利要求4所述的检测方法，其特征在于，所述下限数量条件包括下限行连续值、下限行非连续值、下限列连续值、下限列非连续值；还包括步骤：判断所述下限异常电容的数量是否小于下限行连续值、下限行非连续值、下限列连续值、以及下限列非连续值；若否，则将所述触摸屏面板判断为不良品。6.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述步骤“获取所述触摸屏面板的电容矩阵数据”包括：获取电容采集数据组；获取所述触摸屏面板的电容的行数和列数；根据所述行数和所述列数，将所述电容采集数据组调整为所述电容矩阵数据。7.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述步骤“比较所述电容矩阵数据中的每个电容值是否全部在第一预设范围内”包括：比较所述电容矩阵数据中的每个电容值是否全部在第一预设范围内；若是，则进行混合计算判断，所述混合计算判断包括步骤：计算所述电容矩阵数据中相邻两行电容值的差值，生成行差值矩阵数据，计算所述行差值矩阵数据...

【专利技术属性】
技术研发人员：王成龙，向准高，
申请(专利权)人：苏州华兴源创科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：