用于测量脑参数的装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种用于测量脑参数的装置（１）。该装置（１）具有导管传感器单元（２），该导管传感器单元（２）可通过穿过颅骨（４）以最小侵入的方式在远端植入到软组织和／或脑室中。所述传感器单元（２）可在近端固定在颅骨（４）上。为此，所述传感器单元（２）的近端圆周部分具有用于将所述传感器单元（２）固定在所述颅骨（４）上的自攻外螺纹（５）。最终得到这样一种装置，该装置可实现稳固的、防止相对于颅骨的运动的、持久且同时廉价的固定。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】
用于测量脑参数的装置（１），－该装置包括导管传感器单元（２），该导管传感器单元－－可通过穿过颅骨（４）以最小侵入的方式在远端植入到软组织和／或脑室中，－－可在近端固定在所述颅骨（４）上，其特征在于，所述传感器 单元（２）的近端圆周部分具有用于将所述传感器单元（２）固定在所述颅骨（４）上的自攻外螺纹（５）。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：R雷切伯格，G昆泽，KH格勒，
申请(专利权)人：劳梅迪奇股份公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]