劣化判定装置(1)具有取得部(10)、选择部(40)、决定部(50)和劣化判定部(31)。选择部(40)作为提取范围而选择在决定阈值的阈值决定模式中对由取得部(10)取得的时间序列测量数据所包含的多个测量值之中的最小值至最大值为止的数值范围进行分割后的多个范围之中的所包含的测量值的数量最多的范围。决定部(50)基于由选择部(40)选择出的提取范围或者提取范围所包含的多个测量值而决定阈值。劣化判定部(31)在对加工设备(2)的劣化进行判定的劣化判定模式中，基于由取得部(10)取得的时间序列测量数据和由决定部(50)决定的阈值，对加工设备(2)的劣化进行判定。工设备(2)的劣化进行判定。工设备(2)的劣化进行判定。
Deterioration determination device, threshold determination device, threshold determination method and threshold determination procedure
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】劣化判定装置、阈值决定装置、阈值决定方法及阈值决定程序
[0001]本专利技术涉及对加工设备的劣化进行判定的劣化判定装置、阈值决定装置、阈值决定方法及阈值决定程序。
技术介绍
[0002]数控(NC：Numerical Control)加工机等加工设备有时仪器或者部件等的结构部件发生劣化、故障。因此，在专利文献1提出了基于从安装于加工设备的传感器输出的测量值对构成部件的劣化进行检测的技术即劣化检测技术。
[0003]专利文献1：日本特开2016－091414号公报
技术实现思路
[0004]但是，在上述专利文献1所记载的技术中，为了将从传感器输出的测量值向用于将劣化程度进行数值化的等级值分配而使用了表格，该表格需要事先由人进行设定。因此，在专利文献1所记载的技术中，用于劣化判定的事前设定花费工时。
[0005]本专利技术就是鉴于上述情况而提出的，其目的在于得到能够节省用于劣化判定的事前设定所花费的工时的劣化判定装置。
[0006]为了解决上述的课题并达到目的，本专利技术的劣化判定装置具有取得部、选择部、决定部和劣化判定部。取得部在加工设备进行针对被加工物的加工处理的期间取得从对加工设备的状态进行检测的传感器输出的包含多个测量值在内的时间序列测量数据。选择部作为提取范围而选择在决定阈值的阈值决定模式中对由取得部取得的时间序列测量数据所包含的多个测量值之中的最小值至最大值为止的数值范围进行分割后的多个范围之中的所包含的测量值的数量最多的范围。决定部基于由选择部选择出的提取范围或者提取范围所包含的多个测量值，决定阈值。劣化判定部在对加工设备的劣化进行判定的劣化判定模式中基于由取得部取得的时间序列测量数据和由决定部决定的阈值，对加工设备的劣化进行判定。
[0007]专利技术的效果
[0008]根据本专利技术，具有下述效果，即，能够节省用于劣化判定的事前设定所花费的工时。
附图说明
[0009]图1是表示本专利技术的实施方式1所涉及的劣化判定装置的结构的一个例子的图。
[0010]图2是表示由实施方式1所涉及的劣化判定装置选择的提取数值范围及提取时间范围和由劣化判定装置决定的判定阈值之间的关系的图。
[0011]图3是表示实施方式1所涉及的劣化判定装置的具体的结构例的图。
[0012]图4是用于对通过实施方式1所涉及的分割处理部进行的最大数值范围的分割处理进行说明的图。
[0013]图5是表示在实施方式1所涉及的1个循环期间中从传感器输出的测量值的变化的一个例子的图。
[0014]图6是将图5所示的最大数值范围分割为18个，对各范围所包含的测量值的数量进行绘制得到的图形。
[0015]图7是表示通过实施方式1所涉及的劣化判定装置的处理部进行的处理的一个例子的流程图。
[0016]图8是表示通过实施方式1所涉及的劣化判定装置的处理部进行的阈值决定处理的一个例子的流程图。
[0017]图9是表示通过实施方式1所涉及的劣化判定装置的处理部进行的判定对象区间决定处理的一个例子的流程图。
[0018]图10是表示通过实施方式1所涉及的劣化判定装置的处理部进行的提取数值范围选择处理的一个例子的流程图。
[0019]图11是表示通过实施方式1所涉及的劣化判定装置的处理部进行的劣化判定处理的一个例子的流程图。
[0020]图12是表示通过实施方式1所涉及的劣化判定装置的劣化判定部进行的判定处理的一个例子的流程图。
[0021]图13是表示实施方式1所涉及的劣化判定装置的硬件结构的一个例子的图。
[0022]图14是表示本专利技术的实施方式2所涉及的劣化判定装置的结构的一个例子的图。
[0023]图15是表示由实施方式2所涉及的劣化判定装置选择的提取数值范围及提取时间范围的一个例子的图。
[0024]图16是表示通过实施方式2所涉及的劣化判定装置的处理部进行的阈值决定处理的一个例子的流程图。
[0025]图17是表示本专利技术的实施方式3所涉及的劣化判定装置的结构的一个例子的图。
[0026]图18是表示通过实施方式3所涉及的劣化判定装置的处理部进行的比较值决定处理的一个例子的流程图。
[0027]图19是表示通过实施方式3所涉及的劣化判定装置的劣化判定部进行的比较范围选择处理的一个例子的流程图。
[0028]图20是表示通过实施方式3所涉及的劣化判定装置的劣化判定部进行的决定处理的一个例子的流程图。
具体实施方式
[0029]下面，基于附图对本专利技术的实施方式所涉及的劣化判定装置、阈值决定装置、阈值决定方法及阈值决定程序详细地进行说明。此外，本专利技术并不限定于本实施方式。
[0030]实施方式1.
[0031]图1是表示本专利技术的实施方式1所涉及的劣化判定装置的结构的一个例子的图。如图1所示，实施方式1所涉及的劣化判定装置1基于从对加工设备2的状态进行检测的传感器3输出的包含测量时刻不同的多个测量值在内的时间序列测量数据，对构成加工设备2的仪器或者部件的劣化进行判定。
[0032]加工设备2例如是针对被加工物进行车削加工、铣削加工或者开孔加工等的数控
加工机。下面，对加工设备2设为数控加工机进行说明，但加工设备2并不限定于数控加工机，也可以是数控加工机以外的加工设备。
[0033]传感器3例如是以预先设定的周期反复对在加工设备2的伺服电动机中流动的电流的瞬时值进行测量的电流传感器，输出时间序列测量数据，该时间序列测量数据将反复测量出的电流的瞬时值作为测量值而包含多个。
[0034]劣化判定装置1具有取得部10、处理部11、通信部12和显示部13。处理部11具有数据解析部30和劣化判定部31。
[0035]取得部10取得在由加工设备2进行针对未图示的被加工物的加工处理的期间中从传感器3输出的时间序列测量数据。另外，取得部10从加工设备2取得表示针对加工物的加工处理的开始或者结束的动作数据。下面，将通过加工设备2进行的针对被加工物的加工处理简记为加工设备2的加工处理或者加工处理。
[0036]数据解析部30在动作模式为阈值决定模式的情况下，基于在加工处理的1个循环的期间由取得部10取得的时间序列测量数据，决定在加工设备2的劣化的判定中使用的阈值即判定阈值。阈值决定模式是决定判定阈值的动作模式。另外，数据解析部30基于由取得部10取得的动作数据，对加工处理的开始和结束进行判定。
[0037]加工处理的1个循环的期间是从针对被加工物开始加工处理至该加工处理完成为止的期间。此外，在加工设备2针对被加工物进行多个加工处理的情况下，数据解析部30针对每个加工处理而决定判定阈值，针对每个加工处理对加工处理的开始和结束进行判定。下面，有时将加工处理的1个循环的期间记载为1个循环期间。
[0038]数据解析部30具有选择部40和决定部50。选择部40将在阈值决定模式中通过1个循环期间由取得部10取得的时间序列测量数据本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种劣化判定装置，其特征在于，具有：取得部，其在加工设备进行针对被加工物的加工处理的期间，取得从对所述加工设备的状态进行检测的传感器输出的包含多个测量值在内的时间序列测量数据；选择部，其作为提取范围而选择在决定阈值的阈值决定模式中对由所述取得部取得的所述时间序列测量数据所包含的所述多个测量值之中的最小值至最大值为止的数值范围进行分割后的多个范围之中的所包含的测量值的数量最多的范围；决定部，其基于由所述选择部选择出的所述提取范围或者所述提取范围所包含的多个测量值，决定所述阈值；以及劣化判定部，其在对所述加工设备的劣化进行判定的劣化判定模式中基于由所述取得部取得的所述时间序列测量数据和由所述决定部决定的所述阈值，对所述加工设备的劣化进行判定。2.根据权利要求1所述的劣化判定装置，其特征在于，所述选择部将对所述数值范围进行分割后的多个分割范围之中的所包含的测量值的数量最多的分割范围作为判定对象范围，在所述判定对象范围所包含的多个测量值的分布对于预先设定的条件而言充足的情况下，进行将所述判定对象范围作为所述提取范围进行选择的选择处理，在所述判定对象范围所包含的多个测量值的分布对于所述预先设定的条件而言不充足的情况下，将所述数值范围的分割数增加而反复进行所述选择处理。3.根据权利要求2所述的劣化判定装置，其特征在于，所述选择部具有：第1计算部，其对所述判定对象范围所包含的多个测量值的平均值和标准偏差进行计算；第2计算部，其对从所述平均值加上与所述标准偏差相对应的值而得到的第1值和从所述平均值减去与所述标准偏差相对应的值而得到的第2值进行计算；以及充足判定部，其对所述判定对象范围的中央值是否大于或等于所述第1值且小于或等于所述第2值进行判定，在所述判定对象范围的中央值大于或等于所述第1值且小于或等于所述第2值的情况下判定为所述判定对象范围所包含的多个测量值的分布满足所述预先设定的条件。4.根据权利要求3所述的劣化判定装置，其特征在于，所述选择部具有最频繁出现范围判定部，该最频繁出现范围判定部通过比所述分割范围的分割数大的分割数将所述数值范围分割为多个范围，对分割后的所述多个范围各自所包含的测量值的数量进行计算，将所述多个范围之中的所述测量值的数量最多的范围判定为最频繁出现范围，所述充足判定部在由所述最频繁出现范围判定部决定的所述最频繁出现范围大于或等于所述第1值且小于或等于所述第2值的情况下，判定为所述判定对象范围所包含的多个测量值的分布满足所述预先设定的条件。5.根据权利要求1至4中任一项所述的劣化判定装置，其特征在于，所述选择部根据将所述时间序列测量数据所包含的所述多个测量值之中的特定的时间范围的测量值排除在外的结果对所述提取范围进行选择。6.根据权利要求1至5中任一项所述的劣化判定装置，其特征在于，
所述选择部对通过所述加工设备进行的针对所述被加工物的加工处理的1个循环的期间之中的所述提取范围所存在的时间范围进行提取，所述劣化判定部在所述劣化判定模式中，基于由所述取得部取得的所述时间序列测量数据所包含的多个测量值之中的由所述选择部提取出的所述时间范围所包含的多个测量值和由所...
【专利技术属性】
技术研发人员：气比田晃士，秋山智彦，林勇，
申请(专利权)人：三菱电机株式会社，
类型：发明
国别省市：
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