一种改进的400GPAM4光模块测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种改进的400G PAM4光模块测试系统，涉及光模块测试系统技术领域。本实用新型专利技术包括光模块发射测试系统，包括：误码仪、测试板一、光开关、DCA，测试板一上装设有待测光模块，误码仪和测试板一上均设有TX和RX接口，误码仪与测试板一相连接，待测光模块与光开关相连接，光开关与DCA相连接，测试板一的TX、RX都使用一端SMA接口另一端并行高速连接器的同轴电缆与误码仪进行电气连接。本实用新型专利技术通过在充分利用同轴电缆的并行高速连接器一端与误码仪连接方便性的优点，根据光模块测试的内容调整接线方式。既保证了接线的方便性，又可以测试光模块的接收电眼图。又可以测试光模块的接收电眼图。又可以测试光模块的接收电眼图。

【技术实现步骤摘要】
一种改进的400G PAM4光模块测试系统


[0001]本技术属于光模块测试系统
，特别是涉及一种改进的 400G PAM4光模块测试系统。

技术介绍

[0002]随着大数据、云计算时代的来临，人们对于数据传输速率有着越来越高的要求，使用高阶的PAM4调制技术在相同信号带宽下可以传输更多数据。400G PAM4光模块，该模块包含8路发射、8路接收，单路速率53.125Gbps， 8路发射、接收可同时工作，最高传输速率425Gbps,是业界基于PAM4技术的一款主流光模块产品。传统的400G PAM4光模块测试系统,分为发射端测试板、接收端测试板。误码仪与这两块测试板间电气连接所采用的同轴电缆的规格，一般是一端SMA接口另一端并行高速连接器或两端都是并行高速连接器。使用一端SMA接口另一端并行高速连接器的同轴电缆进行误码仪与测试板电气连接时，发射端测试板、接收端测试板各需要旋钮16个SMA头，操作繁琐。在测试光模块发射高低温性能时需将测试光模块壳温的热电偶放在发射板上，并将热流仪罩在发射端测试板上；测试光模块接收高低温性能时，需将测试光模块壳温的热电偶放在接收端测试板上，并将热流仪罩在接收端测试板上。使用两端都为并行高速连接器的同轴电缆时，省去了连接SMA头的工作，但不能测试接收电眼图，也同样存在测发射、接收时需将热电偶及热流仪在发射端测试板、接收端测试板之间来回放置的缺陷。使用以上两种同轴电缆在进行测试时，热电偶、热流仪罩都需要根据测试内容是发射还是接收来回放置，不能设计工装夹具对热电偶、热流仪罩进行固定，对测试可靠性、方便性都带来了影响。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种改进的400G PAM4光模块测试系统，解决了现有的测发射、接收时需将热流仪罩在不同测试板上的技术问题。
[0004]为达上述目的，本技术是通过以下技术方案实现的：
[0005]一种改进的400G PAM4光模块测试系统，包括光模块发射测试系统，包括：误码仪、测试板一、光开关、DCA，测试板一上装设有待测光模块，误码仪和测试板一上均设有TX和RX接口，误码仪与测试板一相连接，待测光模块与光开关相连接，光开关与DCA相连接，测试板一的TX、RX都使用一端SMA接口另一端并行高速连接器的同轴电缆与误码仪进行电气连接。
[0006]可选的，误码仪的TX端口连接有测试板二，测试板二装设有标准光模块，标准光模的一端连接有光衰减器，误码仪与测试板二相连接，测试板二与光衰减器相连接，光衰减器与测试板一相连接，待测光模块与误码仪相连接。
[0007]可选的，待测光模块上固定装设有热流仪和热电偶，光开关与DCA、测试板二与光衰减器均用光纤连接。
[0008]可选的，误码仪为400G PAM4误码仪，光开关为8通道光开关，光衰减器为8通道光衰减器。
[0009]本技术的实施例具有以下有益效果：
[0010]1、本技术的一个实施例通过在充分利用同轴电缆的并行高速连接器一端与误码仪连接方便性的优点，根据光模块测试的内容调整接线方式。当测试光模块发射性能时，将测试板一的TX对应的并行高速连接器与误码仪TX端相连；测试光模块接收性能时，将测试板一RX对应的并行牛眼连接器与误码仪RX端相连，TX端对应的并行高速连接器与误码仪断开，测试板二使用的是两端都是并行高速连接器的同轴电缆，将测试板TX端与误码仪TX端相连。既保证了接线的方便性，又可以测试光模块的接收电眼图。
[0011]2、对于同一只光模块，测试发射、接收都统一到测试板一上，便于对热流仪、热电偶设计固定工装，提高测试系统稳定性。
[0012]当然，实施本技术的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。
附图说明
[0013]构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本技术的进一步理解，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。在附图中：
[0014]图1为本技术一实施例的光模块发射测试系统结构示意图；
[0015]图2为本技术一实施例的光模块接收测试系统结构示意图；
具体实施方式
[0016]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本技术及其应用或使用的任何限制。
[0017]为了保持本技术实施例的以下说明清楚且简明，本技术省略了已知功能和已知部件的详细说明。
[0018]请参阅图1
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2所示，在本实施例中提供了一种改进的400G PAM4光模块测试系统，包括：误码仪、测试板一、光开关、DCA，测试板一上装设有待测光模块，误码仪和测试板一上均设有TX和RX接口，用于发射和接收信号，误码仪与测试板一相连接，待测光模块与光开关相连接，光开关与 DCA相连接，测试板一的TX、RX都使用一端SMA接口另一端并行高速连接器的同轴电缆与误码仪进行电气连接，通过在充分利用同轴电缆的并行高速连接器一端与误码仪连接方便性的优点，根据光模块测试的内容调整接线方式。
[0019]本实施例一个方面的应用为：测试光模块发射性能时，将测试板一的 TX对应的并行高速连接器与误码仪TX端相连，插入待测光模块，固定热流仪罩、热电偶，通过切换8通道光开关完成光模块发射高低温性能测试；测试光模块接收性能时，将测试板一RX对应的并行高速连接器与误码仪RX 端相连，TX端对应的并行高速连接器与误码仪不相连。测试板二使用两端都是并行高速连接器的同轴电缆，将测试板二TX发与误码仪TX端相连。测试时，标准光模块插入测试板二，待测光模块插入测试板一，固定热流仪、热电偶保护罩，通过调节8通道光衰减器，完成光模块的接收高低温性能测试。
[0020]通过在充分利用同轴电缆的并行高速连接器一端与误码仪连接方便性的优点，根
据光模块测试的内容调整接线方式。当测试光模块发射性能时，将测试板一的TX对应的并行高速连接器与误码仪TX端相连；测试光模块接收性能时，将测试板一RX对应的并行牛眼连接器与误码仪RX端相连， TX端对应的并行高速连接器与误码仪断开，测试板二使用的是两端都是并行高速连接器的同轴电缆，将测试板TX端与误码仪TX端相连。既保证了接线的方便性，又可以测试光模块的接收电眼图。
[0021]请参阅图2所示，误码仪的TX端口连接有测试板二，测试板二装设有标准光模块，标准光模的一端连接有光衰减器，防止光饱和失真，误码仪与测试板二相连接，测试板二与光衰减器相连接，光衰减器与测试板一相连接，待测光模块与误码仪相连接，该种连接方式用于对光模块进行接收测试。
[0022]请参阅图1
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2所示，本实施例的误码仪为400G PAM4误码仪，光开关为8通道光开关，稳定性高、可持续工作；光衰减器为8通道光本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种改进的400G PAM4光模块测试系统，其特征在于，包括：光模块发射测试系统，包括：误码仪、测试板一、光开关、DCA，测试板一上装设有待测光模块，误码仪和测试板一上均设有TX和RX接口，误码仪与测试板一相连接，待测光模块与光开关相连接，光开关与DCA相连接，测试板一的TX、RX都使用一端SMA接口另一端并行高速连接器的同轴电缆与误码仪进行电气连接。2.如权利要求1所述的一种改进的400G PAM4光模块测试系统，其特征在于，误码仪的TX端口连接有测试板二，测试板二装设有标准光模块，标准光模的一端连接有光衰减器。3.如权利要求1
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2任一项...

【专利技术属性】
技术研发人员：王波，于佩，
申请(专利权)人：江苏奥雷光电有限公司，
类型：新型
国别省市：