【技术实现步骤摘要】
一种用于屏幕缺陷检测的图像采集装置及方法
[0001]本专利技术涉及图像采集
,尤其涉及一种用于屏幕缺陷检测的图像采集装置及方法。
技术介绍
[0002]车载显示屏幕是智能座舱内容呈现的主体,其外观性能的好坏直接决定了用户体验。在实际生产组装的过程中,需要针对性的将有缺陷的屏幕检测出来,避免将外观不良产品交付到客户手中。
[0003]传统的屏幕缺陷检测方法采用面阵相机来实现,在产品到达检测工位时,保持静止状态,然后面阵相机对屏幕表面做图像采样,采样结果输出给上位机,从而决定屏幕好坏。然而,由于目前屏幕采集的图像效果不佳,造成后续检测结果不准确,并且无法实现在运动中对屏幕缺陷做检测,使得检测效率不高。而且,对于大尺寸屏幕,例如双连屏、长宽屏等,在相同检测精度要求下,需要布置多个面阵相机对屏幕外观进行成像,使得成本上升。
技术实现思路
[0004]本专利技术所要解决的技术问题是针对现有技术的不足,提供一种用于屏幕缺陷检测的图像采集装置及方法。
[0005]本专利技术解决上述技术问题的技术方案如下:一种用于屏幕缺陷检测的图像采集装置,包括上位机和图像采样部件;
[0006]所述上位机,用于根据待检测屏幕的宽度进行采样次数的确定,根据所述采样次数确定每次采样的采样位置,并生成采样信号;
[0007]所述图像采样部件,用于根据所述采样信号移动所述待检测屏幕,移动至各个采样位置时,利用线阵相机模块按照预设采样频率对所述待检测屏幕进行图像采样,得到多个采样图像;
[00 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于屏幕缺陷检测的图像采集装置,其特征在于,包括上位机和图像采样部件;所述上位机,用于根据待检测屏幕的宽度进行采样次数的确定,根据所述采样次数确定每次采样的采样位置,并生成采样信号;所述图像采样部件,用于根据所述采样信号移动所述待检测屏幕,移动至各个采样位置时,利用线阵相机模块按照预设采样频率对所述待检测屏幕进行图像采样,得到多个采样图像;所述上位机,还用于分别将每次采样的采样图像进行拼接处理,得到屏幕拼接图像,并保存。2.根据权利要求1所述的图像采集装置,其特征在于,所述上位机还用于,当到达预设时间时,对所述屏幕拼接图像进行检测,若检测结果为不存在屏幕缺陷,则继续采样和检测,若检测结果为存在屏幕缺陷,控制所述图像采样部件停止采样。3.根据权利要求1所述的图像采集装置,其特征在于,所述图像采集部件包括第一滑动导轨、第二滑动导轨、屏幕承载平台、线阵相机模块、光电位置传感器、第一PLC模块和第二PLC模块;所述屏幕承载平台上表面的两侧设有条纹;所述第一滑动导轨设有两个,两个所述第一滑动导轨间隔且平行设置,所述屏幕承载平台位于两个所述第一滑动导轨之间,所述屏幕承载平台的两端分别滑动连接各自一侧的所述第一滑动导轨;所述第二滑动导轨位于所述第一滑动导轨的上方并横跨在两个所述第一滑动导轨之间,且与放置在所述屏幕承载平台上的待检测屏幕同侧,所述第二滑动导轨的两侧分别滑动连接各自一侧的所述第一滑动导轨;所述线阵相机模块滑动连接在所述第二滑动导轨上,所述光电位置传感器固定连接在所述第二滑动导轨上;所述第一PLC模块分别与所述上位机、所述第一滑动导轨和所述第二滑动导轨电连接,所述第二PLC模块与所述线阵相机模块电连接。4.根据权利要求3所述的图像采集装置,其特征在于,所述图像采样部件中,根据所述采样信号移动所述待检测屏幕,移动至各个采样位置时,利用线阵相机模块按照预设采样频率对所述待检测屏幕进行图像采样,得到多个采样图像,具体为:所述第一PLC模块,用于根据所述采样信号控制所述屏幕承载平台以预设运动速度V在所述第一滑动导轨由上至下依次经过每个采样位置;所述光电位置传感器,用于当感应到所述屏幕承载平台上的待检测屏幕时,向所述第二PLC模块发送拍摄信号;所述第二PLC模块,用于根据拍摄信号开启所述线阵相机模块;所述线阵相机模块,用于按照预设采样频率对所述待检测屏幕进行图像采样,得到当前采样位置的多个屏幕图像。5.根据权利要求4所述的图像采集装置,其特征在于,得到当前采样位置的多个屏幕图像时,所述图像采样部件还用于:所述光电位置传感器,还用于当感应不到所述屏幕承载平台上的待检测屏幕时,向所述第一PLC模块和所述第二PLC模块发送停止采集信号;所述第二PLC模块,还用于根据所述停止采集信号关闭所述线阵相机模块;
所述第一PLC模块,还用于根据所述停止采集信号控制所述第二滑动导轨向下一采样位置移动;所述光电位置传感器,还用于当再次感应到所述屏幕承载平台上的待检测屏幕时,向所述第二PLC模块发送拍摄信号;所述第二PLC模块,用于根据拍摄信号再次开启所述线阵相机模块;所述线阵相机模块,用于根据预设采样频率对所述待检测屏幕再次进行图像采样,得到下一采样位置的多个屏幕图像。6.根据权利要求1所述的图像采集装置,其特征在于,所述上位机中,根据待检测屏幕的宽度进行采样次数的确定,根据所述采样次数确定每次采样的采样位置,具体为:通过采样计算公式计算采样次数,所述采样计算公式为n=W/W
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【专利技术属性】
技术研发人员:李林峰,汪杨刚,胡伦庭,
申请(专利权)人:武汉海微科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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