一种快速调节下压行程的测试插座盖制造技术

本实用新型专利技术提供一种快速调节下压行程的测试插座盖，包括：上壳体、驱动螺杆、工作止动销、复位止动销及基座；上壳体轴向设置有圆柱形中空部，圆柱形中空部的内壁上设置有内螺纹；上壳体的上表面设置有间隔排布的止动销螺纹孔；上壳体的底部弹性连接一压块，通过驱动螺杆的下压向待测芯片传递压力；上壳体底部的一端与基座通过连接杆转动连接；驱动螺杆与内螺纹配套；驱动螺杆包括驱动螺杆本体、一体成型于驱动螺杆本体一侧的旋钮；旋钮上设置有工作止动销取放孔及复位止动销取放孔；在旋钮的下表面设置有位于驱动螺杆本体外围的凹槽。本实用新型专利技术的可调节手测盖使得在半导体芯片测试中的下压调节变得异常简单，具有很高的实用价值。价值。价值。

【技术实现步骤摘要】
一种快速调节下压行程的测试插座盖


[0001]本技术涉及半导体集成电路测试领域，特别是涉及一种快速调节下压行程的测试插座盖。

技术介绍

[0002]随着半导体集成电路产业的高速发展，各种类型的集成电路芯片已经在各种行业中得到广泛应用。在芯片性能参数的测试分析工作中，时常需要用到带有手测盖的测试插座，通过测试插座里面的探针导体，将测试仪表与芯片引脚连接起来，帮助工程人员完成样品的测试分析。为了适应芯片在厚度参数上的偏差，测试插座手测盖通常设计有一个螺柱驱动下压机构，如图1中A部分。当手测盖本体1与测试夹具通过螺栓2装配固定，卡扣3处于闭合状态时，操作人员旋转上方的旋钮翅4，进而使得驱动螺杆5推动下方的压块6向下运动，使得芯片的引脚与测试插座内的探针形成良好接触。其中手测盖框架上装配有一个限位销钉7，手测盖本体1上设有一个与限位销钉7配合的凹槽，旋钮翅4在按照驱动螺杆5的螺纹方向旋转并触碰到限位销钉7停止时，为手测盖的工作状态。限位销钉7的设置可以避免因为无限制驱动压块6下压而导致待测芯片被压碎的问题，使得旋转旋钮翅4时在探针与待测芯片形成良好接触的时候能及时停下来。旋钮翅4在按照驱动螺杆5的螺纹方向反向旋转并触碰到限位销钉7停止时，为手测盖的复位状态。驱动螺杆5的上方呈等间距有多个安装螺纹孔 9，可以与旋钮翅4在保持中心同轴条件下，旋转多个不同偏转角状态下进行装配，从而使得手测盖在实际工作中可以对驱动下压行程进行调节。其中驱动螺杆5与手测盖本体1为两个独立部件。在测试插座装配过程中，手测盖本体1是通过紧固件安装在测试插座本体上。在盖子首次装配时，先将芯片放入测试插座腔体内，合上盖子，将卡扣3闭合；然后将驱动螺杆5旋入盖子框架上的螺纹孔9内，接触到压块6后，继续旋动下压，直到芯片被推动与探针形成良好接触；然后将手测盖本体1放到驱动螺杆5上方，旋钮翅4向驱动螺杆5螺纹方向旋转直到触碰到限位销钉7，再用螺栓2把手测盖本体1和驱动螺杆5装配到一起，如图2 为测试插座的装配完成示意图。然后将旋钮翅4反向旋转，直到再次触碰到限位销钉7，此时为复位状态。需要再次调节下压深度时，需要将手测盖本体1拆下，再旋转驱动螺杆5进行调节。当插座内探针较少，对驱动螺杆5形成的反向推力较小时，操作人员用手即可轻松完成调节。但当插座内探针数量较多时，对螺杆5形成的反向推力会让操作人员用手很难完成旋转调节，必须借助一些工具。
[0003]因此，如何简化压块下压行程的调节过程，已经成为本领域人员亟待解决的问题之一。

技术实现思路

[0004]鉴于以上所述现有技术的缺点，本技术的目的在于提供一种快速调节下压行程的测试插座盖，用于解决现有技术中测试插座的手测盖下压不好调节的问题。
[0005]为实现上述目的及其他相关目的，本技术提供一种快速调节下压行程的测试
插座盖，包括：上壳体、驱动螺杆、工作止动销、复位止动销及基座；
[0006]所述上壳体轴向设置有圆柱形中空部，所述圆柱形中空部的内壁上设置有内螺纹；
[0007]所述上壳体的上表面设置有间隔排布的止动销螺纹孔；
[0008]所述上壳体的底部弹性连接一压块，通过所述驱动螺杆的下压向待测芯片传递压力；
[0009]所述上壳体底部的一端与所述基座通过连接杆转动连接；
[0010]所述驱动螺杆与所述内螺纹配套；所述驱动螺杆包括驱动螺杆本体、一体成型于所述驱动螺杆本体一侧的旋钮；所述旋钮上设置有工作止动销取放孔及复位止动销取放孔；在所述旋钮的下表面设置有位于所述压圈外围的凹槽；所述凹槽的一端端点和所述工作止动销取放孔对齐，另一端端点和所述复位止动销取放孔对齐；所述止动销螺纹孔位于所述凹槽在所述上壳体上的垂直投影区域内；
[0011]所述工作止动销及所述复位止动销的下部设置于所述止动销螺纹孔内，上部位于所述凹槽内。
[0012]可选地，所述止动销螺纹孔呈等间距间隔排布。
[0013]可选地，所述压块通过弹簧螺栓设置于所述上壳体的底部。
[0014]可选地，所述旋钮包括旋钮部及一体成型于所述旋钮部一侧的旋钮翅。
[0015]可选地，所述驱动螺杆手测盖本体为一空心圆柱。
[0016]可选地，所述驱动螺杆本体的下表面设置有缺口。
[0017]更可选地，所述上壳体的侧壁设置有与所述缺口相对应的卡扣。
[0018]更可选地，所述卡扣的中部通过转轴设置在所述上壳体的侧壁上。
[0019]更可选地，所述卡扣的上部与所述上壳体外壁之间设置有弹簧。
[0020]如上所述，本技术的快速调节下压行程的测试插座盖，具有以下有益效果：
[0021]1，本技术的快速调节下压行程的测试插座盖，减少了螺栓，整体加工成本得到降低。
[0022]2，本技术的快速调节下压行程的测试插座盖，在装配下压行程调节中变得异常简单。
附图说明
[0023]图1显示为现有技术中的测试插座爆炸示意图。
[0024]图2显示为现有技术中的测试插座的装配示意图。
[0025]图3显示为本技术的快速调节下压行程的测试插座盖的装配爆炸示意图。
[0026]图4显示为本技术的驱动螺杆的一个角度的立体图。
[0027]图5显示为本技术的驱动螺杆的另外一个角度的立体图。
[0028]图6显示为本技术的快速调节下压行程的测试插座盖的整体外观侧视图。
[0029]图7
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图12显示为本技术的快速调节下压行程的测试插座盖的使用状态图。
[0030]元件标号说明
[0031]1ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
手测盖本体
[0032]2ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
螺栓
[0033]3ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
卡扣
[0034]4ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
旋钮翅
[0035]5ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
驱动螺杆
[0036]6ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
压块
[0037]7ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
限位销
[0038]8ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
缺口
[0039]9ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
螺纹孔
[0040]10
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
基座
[0041]11
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
上壳体
[0042]111
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圆柱形中空部
[0043]112
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止动销螺纹孔...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种快速调节下压行程的测试插座盖，其特征在于，所述测试插座盖至少包括：上壳体、驱动螺杆、工作止动销、复位止动销及基座；所述上壳体轴向设置有圆柱形中空部，所述圆柱形中空部的内壁上设置有内螺纹；所述上壳体的上表面设置有间隔排布的止动销螺纹孔；所述上壳体的底部弹性连接一压块，通过所述驱动螺杆的下压向待测芯片传递压力；所述上壳体底部的一端与所述基座通过连接杆转动连接；所述驱动螺杆与所述内螺纹配套；所述驱动螺杆包括驱动螺杆本体、一体成型于所述驱动螺杆本体一侧的旋钮；所述旋钮上设置有工作止动销取放孔及复位止动销取放孔；在所述旋钮的下表面设置有位于所述驱动螺杆本体外围的凹槽；所述凹槽的一端端点和所述工作止动销取放孔对齐，另一端端点和所述复位止动销取放孔对齐；所述止动销螺纹孔位于所述凹槽在所述上壳体上的垂直投影区域内；所述工作止动销及所述复位止动销的下部设置于所述止动销螺纹孔内，上部位于所述凹槽内。2.根据权利要求1所述的快速调节下压行...

【专利技术属性】
技术研发人员：鹿梅，
申请(专利权)人：上海战旗电子有限公司，
类型：新型
国别省市：