频率补偿自动校正装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术关于一种频率补偿自动校正装置，频率补偿自动校正装置包含有衰减单元、放大单元、均方根值转换单元、类比数字转换单元、微控制单元、显示单元及一存储单元。衰减单元供接收一校正信号，并具有一数字可控电容，且校正讯号经由放大单元、均方根转换单元及类比数字转换单元转换成一均方根数字信号。微控制单元连接类比数字转换单元及衰减单元的一数字可控式电容的一控制接点，以接收均方根数字信号，并根据均方根数字信号控制数字可控式电容的一电容阶级值。由于微控制单元可根据数字信号控制衰减单元的数字可控式电容的电容阶级值，因此测试员无须手动作业调整衰减单元的电容大小，即能够精准且快速地调整，可有效节省校正时间。省校正时间。省校正时间。

Frequency compensation automatic correction device

【技术实现步骤摘要】
频率补偿自动校正装置


[0001]本技术有关于一种自动校正装置，尤其是一种用于泄漏电流测试机的频率补偿自动校正装置。

技术介绍

[0002]请参阅图5及图6所示，现有的泄漏电流测试机具有衰减单元81、放大单元82、均方根转换单元83、类比数字转换单元84、微控制单元85、显示单元86及存储单元87。
[0003]衰减单元81具有输入端I/P2、接地端GND2及输出端O/P3。
[0004]且衰减单元81还具有第五电阻R5、第六电阻R6、第三电容C3及一可变电容C4。第五电阻R5与第六电阻R6串联后，连接在输入端I/P2与接地端GND2之间。第三电容C3与可变电容C4串连后，连接在输入端I/P2与接地端GND2之间。输出端O/P3连接第五电阻R5及第六电阻R6的串接接点，以及连接第三电容C3及可变电容C4的串接接点。
[0005]当现有的泄漏电流测试机在校正频率响应时，先由输入端I/P2接收频率响应测试信号，且频率响应测试信号经由衰减单元81、放大单元82、均方根转换单元83及类比数字转换单元84转换成频率响应数字信号。微控制单元接收频率响应数字信号，并通过显示单元86显示频率响应数字信号。
[0006]而测试员通过显示单元86确认目前频率响应的状况，再由测试员逐步手动调整衰减单元81的可变电容C4，让高频的输出响应与低频的输出响应相同，借此完成泄漏电流测试机的频率响应校正。
[0007]然而，可变电容C4的调整并不容易，需要测试员手动作业，并于调整完成时，以点胶固定可变电容C4，让可变电容C4的电容阶级值固定，在这些过程中，不仅耗费时间，也容易出错，且精准度不佳。
[0008]因此，现有泄漏电流测试机仍需进一步的改良。

技术实现思路

[0009]有鉴于上述问题，本技术为一种频率补偿自动校正装置，供用于泄漏电流测试机，能自动校正以完成频率补偿。
[0010]本技术的频率补偿自动校正装置包含有一衰减单元、一放大单元、一均方根值转换单元、一类比数字转换单元及一微控制单元。
[0011]该衰减单元包含有一输入端、一输出端、一接地端、一第一电阻、一第二电阻、一数字可控制电容、一偏压电路、一第一电容及一第二电容。该第二电阻串接该第一电阻，且与该第一电阻串接后，共同连接在该输入端与该接地端之间。该数字可控式电容包含有一第一接点、一第二接点及一控制接点。该第二接点连接该接地端。该偏压电路具有一偏压输出端，且该偏压输出端连接该数字可控式电容的该第一接点。该第二电容串接该第一电容，且与该第一电容串接后，共同连接在该输入端与该数字可控式电容的该第一接点之间。该输出端连接该第一电阻及该第二电阻的串接接点，以及连接该第一电容及第二电容的串接接
点，并输出一衰减信号。
[0012]该放大单元连接该衰减单元的该输出端，接收该衰减信号，并根据该衰减信号产生一放大信号。
[0013]该均方根转换单元连接该放大单元，接收该放大信号，并根据该放大信号产生一均方根信号。
[0014]该类比数字转换单元连接该均方根转换单元，接收该均方根信号，并根据该均方根信号产生一均方根数字信号。
[0015]该微控制单元连接该类比数字转换单元及该衰减单元的该数字可控式电容的该控制接点，以接收该均方根数字信号，并根据该均方根数字信号控制该数字可控式电容的一电容阶级值。
[0016]由于该频率补偿自动校正装置系由该微控制单元根据该均方根数字信号控制该数字可控式电容的该电容阶级值，无须由测试员手动作业调整，因此能够更精准地控制该电容阶级值的大小，且能够快速的完成调整，得有效节省校正时间。
附图说明
[0017]图1为应用本技术频率补偿自动校正装置的泄漏电流测试机的外观示意图。
[0018]图2为本技术频率补偿自动校正装置的方块示意图。
[0019]图3为本技术频率补偿自动校正装置的衰减单元的电路架构示意图。
[0020]图4为本技术频率补偿自动校正装置的衰减单元的偏压电路的电路架构示意图。
[0021]图5为习用泄漏电流测试机的方块示意图。
[0022]图6为习用泄漏电流测试机的衰减单元的电路架构示意图。
具体实施方式
[0023]以下配合图式及本技术的较佳实施例，进一步阐述本技术为达成预定技术目的所采取的技术手段。
[0024]请参阅图1及图2所示，本技术的频率补偿自动校正装置1供应用于泄漏电流测试机2，能自动校正泄漏电流测试机2以完成频率补偿。
[0025]该频率补偿自动校正装置1包含有一衰减单元10、一放大单元20、一均方根值转换单元30、一类比数字转换单元40、一微控制单元50、一显示单元60及一存储单元70。
[0026]该衰减单元10供接收一校正信号，并具有一数字可控电容102，且该衰减单元10衰减该校正信号以产生一衰减信号。
[0027]该放大单元20连接该衰减单元10的一输出端，接收该衰减信号，并放大该衰减信号以产生一放大信号。在本实施例中，该放大单元20为一非反向放大器。
[0028]该均方根转换单元30连接该放大单元20，接收该放大信号，并根据该放大信号产生一均方根信号。在本实施例中，该均方根信号为该放大信号的一均方根值(Root Mean Square)。
[0029]该类比数字转换单元40连接该均方根转换单元20，接收该均方根信号，并根据该均方根信号产生一均方根数字信号。在本实施例中，该均方根数字信号为该放大信号的该
均方根值的一数字值。
[0030]该微控制单元50连接该类比数字转换单元40及该衰减单元10的一数字可控式电容的一控制接点，以接收该均方根数字信号，并根据该均方根数字信号控制该数字可控式电容的一电容阶级值。
[0031]该显示单元60连接该微控制单元50，且该微控制单元50通过该显示单元60显示该数字可控式电容102的该电容阶级值。
[0032]该存储单元70连接该微控制单元50，且该微控制单元50将该数字可控式电容102的该电容阶级值存入该存储单元70。
[0033]由于该频率补偿自动校正装置1由该微控制单元50根据该均方根数字信号控制该衰减单元10的该数字可控式电容102的该电容阶级值，因此测试员无须手动作业调整该衰减单元10的电容大小，且通过该微控制单元50控制该数字可控制电容102的该电容阶级值的大小，能够更精准地控制，且能够快速的完成调整，可有效节省校正时间。
[0034]进一步而言，请参阅图3所示，该衰减单元10包含有一输入端I/P1、一输出端O/P1、一接地端GND1、一第一电阻R1、一第二电阻R2、该数字可控制电容102、一偏压电路101、一第一电容C1及一第二电容C2。
[0035]该第二电阻R2串接该第一电阻R1，且该第二电阻R2与该第一电阻R1串接后，共同连接在该输入端I/P1与该接地端GND1之间。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种频率补偿自动校正装置，其特征在于，包含有：一衰减单元，包含有：一输入端；一接地端；一第一电阻；一第二电阻，串接该第一电阻，且与该第一电阻串接后，共同连接在该输入端与该接地端之间；一数字可控式电容，包含有：一第一接点；一第二接点，连接该接地端；一控制接点；一偏压电路，具有一偏压输出端，且该偏压输出端连接该数字可控式电容的该第一接点；一第一电容；一第二电容，串接该第一电容，且与该第一电容串接后，共同连接在该输入端与该数字可控式电容的该第一接点之间；一输出端，连接该第一电阻及该第二电阻的串接接点，以及连接该第一电容及第二电容的串接接点，并输出一衰减信号；一放大单元，连接该衰减单元的该输出端，接收该衰减信号，并根据该衰减信号产生一放大信号；一均方根转换单元，连接该放大单元，接收该放大信号，并根据该放大信号产生一均方根信号；一类比数字转换单元，连接该均方根转换单元，接收该均方根信号，并根据该均方根信号产生一均方根数字信号；一微控制单元，连接该类比数字转换单元及该衰减单元的该数字可控式电容的该控制接点，以接收该均方根数字信号，并根据该均方根数字信号控制该数字可控式电容的一电容阶级值。2.根据权利要求1所述的频率补偿自动校正装置，其特征在于，进一步包含有：一存储单元，连接该微控制单元；其中，该微控制单元将该数字可控式电容的该电容阶级值存入该存储单元。3.根据权利要求1所述的频率补偿自动校正装置，其特征在于，进一步包含有：一显示单元，连接该微控制单元；其中，该微控制单元通过该显示单元显示该数字可控式电容的该电容阶级值。4.根据权利要求1所述的频率补偿自动校正装置，其特征在于，其中该...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡英杰，余和书，蔡明宏，
申请(专利权)人：固纬电子实业股份有限公司，
类型：新型
国别省市：