【技术实现步骤摘要】
DCS屏柜自动测试方法、设备、系统及可读存储介质
[0001]本专利技术涉及工业过程自动化控制领域,具体而言,涉及一种DCS屏柜自动测试方法、设备、系统及可读存储介质。
技术介绍
[0002]DCS(Distributed Control System)系统是分布式控制系统的简称,也称为集散控制系统。DCS系统是一个为满足大型工业生产和日益复杂的过程控制要求,从综合自动化角度出发,将过程控制及过程监控综合在一起,结合4C技术,如计算机(Computer)、通讯(Communication)、显示(CRT)和控制(Control),发展起来的新型控制系统。
[0003]DCS系统的基本构成是由现场级、控制级、监控级、管理层四级构成。现场级主要包括各种过程通道卡件或者模块,因此DCS系统在现场以屏柜组装的形式存在。
[0004]DCS屏柜在厂家出厂时需要通过严格的测试。但专利技术人发现,目前的DCS屏柜出厂测试存在以下问题。
[0005]1.DCS屏柜内部的IO卡件的种类和数量都比较多,测试平台需要识别每 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种DCS屏柜自动测试方法,其特征在于,所述DCS屏柜包括第一控制器和多个卡件,所述方法包括:测试端获取DCS屏柜设计图信息;通过所述第一控制器获取所述多个卡件的配置信息;校验所述配置信息与所述DCS屏柜设计图信息设置是否匹配;如果否,则发出报错提示,以便调整所述配置信息,再次进行校验;如果是,则根据所述配置信息创建测试序列逻辑,并生成测试指令;根据所述测试指令,按照所述测试序列逻辑,对所述多个卡件自动执行卡件功能测试。2.根据权利要求1所述的DCS屏柜自动测试方法,其特征在于,所述测试端设置有多个接线端子、多个切换板卡、多个卡件种类切换板卡和多个卡件种类测试源,所述多个接线端子与所述多个卡件一一对应连接;所述多个接线端子还与多个切换板卡一一对应连接,所述切换板卡连接所述卡件种类切换板卡,所述卡件种类切换板卡连接所述卡件种类测试源,以建立待测卡件的测试环境;所述根据所述测试指令,按照所述测试序列逻辑,对所述多个卡件自动执行卡件功能测试包括:所述测试端根据所述测试指令,在所述待测卡件的测试环境下,按照所述测试序列逻辑对所述待测卡件依次执行与所述待测卡件的卡件种类相对应的测试指令集内的指令。3.根据权利要求2所述的DCS屏柜自动测试方法,其特征在于,所述多个卡件的卡件种类包括AO卡件种类、AI卡件种类、DO卡件种类、DI卡件种类及热电阻采集卡件种类;所述多个卡件种类切换板卡包括AO切换板卡、AI切换板卡、DO切换板卡、DI切换板卡及RTD切换板卡;所述多个卡件种类测试源包括AO测试源、AI测试源、DO测试源、DI测试源及RTD测试源;所述AO卡件种类的测试指令集包括:切换板卡闭合指令、AI切换板卡闭合指令、AO卡件输出指令、AI测试源延时采样指令、AI切换板卡断开指令及切换板卡断开指令;所述AI卡件种类的测试指令集包括:切换板卡闭合指令、AO切换板卡闭合指令、AO测试源输出指令、AI卡件延时读取指令、AO切换板卡断开指令及切换板卡闭合指令;所述DO卡件种类的测试指令集包括:切换板卡闭合指令、DI切换板卡闭合指令、DO卡件输出指令、DI测试源延时采样指令、DI切换板卡断开指令及切换板卡断开指令;所述DI卡件种类的测试指令集包括:切换板卡闭合指令、DO切换板卡闭合指令、DO测试源输出指令、DI卡件延时读取指令、DO切换板卡断开指令及切换板卡闭合指令;所述热电阻采集卡件种类的测试指令集包括:切换板卡闭合指令、RTD切换板卡闭合指令、热电阻采集卡件读值指令、切换板卡断开指令及RTD切换板卡断开指令。4.根据权利要求1所述的DCS屏柜自动测试方法,其特征在于,所述配置信息包括卡件分支号、插槽号和卡件类型码。5.一种DCS屏柜自动测试设备,其特征在于,所述DCS屏柜包括第一控制器和多个卡件,所述设备包括:信息获取装置,获取DCS屏柜设计图信息,并发送所述DCS屏柜设计图信息;控测中心,与所述信息获取装置通信连接,接收所述DCS屏柜设计图信息,所述控测中心还通信连接所述第一控制器,通过所述第一控制器获取所述多个卡件的配置信息;
所述控测中心还校验所述配置信息与所述DCS屏柜设计图信息是否匹配,如果所述校验结果为否,则发出报错提示,以便调整所述配置信息,再次进行校验;如果所述校验结果为是,则根据所述配置信息创建测试序列逻辑,并生成测试指令;测试装置,与所述控测中心通信连接,接收所述测试指令,按照所述测试序列逻辑,对所述多个卡件自动执行卡件功能测试。6.根据权利要求5所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:王治国,于哲,陈寅,卢海松,谭良良,马雷,胡华荣,吴骏,笃峻,王翔,文继锋,严伟,
申请(专利权)人:南京南瑞继保工程技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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