【技术实现步骤摘要】
半导体清洗方法
[0001]本专利技术涉及微电子制造领域,特别是涉及一种半导体清洗方法。
技术介绍
[0002]在半导体制造过程中,半导体的清洗贯穿着整个加工工序。传统的半导体清洗方法是将半导体置放在夹具中,连同夹具一起进行清洗。但是,由于夹具本身容易堆积残渣,往往在清洗的过程中,残渣容易附着在半导体的侧边上,但又由于夹具的阻挡,半导体侧边无法清洗到,因此容易形成二次污染。
技术实现思路
[0003]本专利技术实施例的目的是提供一种半导体清洗方法,能够有效减少半导体在清洗过程中的二次污染,从而提高半导体的清洗效果。
[0004]为了解决上述技术问题,本专利技术实施例提供一种半导体清洗方法,包括:
[0005]S1、用紫外光照射紫外线胶带,使得所述紫外线胶带的粘度降低至第一预设粘度;
[0006]S2、将半导体粘贴在所述紫外线胶带上,并等待所述紫外线胶带上的紫外线胶固化;
[0007]S3、待所述紫外线胶带上的紫外线胶固化后,用去离子水对粘在所述紫外线胶带上的所述半导体进行清洗; ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种半导体清洗方法,其特征在于,包括:S1、用紫外光照射紫外线胶带,使得所述紫外线胶带的粘度降低至第一预设粘度;S2、将半导体粘贴在所述紫外线胶带上,并等待所述紫外线胶带上的紫外线胶固化;S3、待所述紫外线胶带上的紫外线胶固化后,用去离子水对粘在所述紫外线胶带上的所述半导体进行清洗;S4、在清洗完成后,对粘在所述紫外线胶带上的所述半导体进行烘干处理;S5、在烘干完成后,用紫外光照射所述紫外线胶带,使得所述紫外线胶带的粘度降低至第二预设粘度;S6、将所述半导体与所述紫外线胶带分离。2.如权利要求1所述的半导体清洗方法,其特征在于,在所述步骤S1中,所述紫外线胶带的初始粘度为22
‑
24N/in,所述紫外线胶带的厚度为20
‑
25μm,照射时长为2秒钟,所述第一预设粘度为17
‑
18N/in。3.如权利要求2所述的半导体清洗方法,其特征在于,所述步骤S2具体为:将半导体粘贴在所述紫外线胶带上;用紫外光照射所述紫外线胶带,使得所述紫外线胶带的粘度降低至第三预设粘度;其中,照射时长为70秒;对所述半导体进行按压,使得所述半导体和所述紫外线胶带之...
【专利技术属性】
技术研发人员:龙命潮,
申请(专利权)人:东莞新科技术研究开发有限公司,
类型:发明
国别省市:
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