基于多方位观测的珍珠多分级参数同步测量装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种基于多方位观测的珍珠多分级参数同步测量装置及方法，包括转台、面测量组件、形貌测量组件、标准板和主探测组件；转台的顶部设有放置珍珠的台面；面测量组件和形貌测量组件均可移动式设于转台外围，且面测量组件具有面光源端，形貌测量组件具有形貌测量光源端；标准板设于转台背向面测量组件和形貌测量组件的一侧；主探测组件朝向转台，测量珍珠的指标参数。解决了现有技术中没有能够对珍珠的光泽度、光洁度、颜色、大小、形状多个参数进行同步定量测量的装置和方法，以及光洁度还是仅能依靠人眼观察评判，而导致的功能实用性不高、检测精确性低的技术问题。检测精确性低的技术问题。检测精确性低的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
基于多方位观测的珍珠多分级参数同步测量装置及方法


[0001]本专利技术涉及珍珠检测分级设备
，具体而言，涉及一种基于多方位观测的珍珠多分级参数同步测量装置及方法。

技术介绍

[0002]珍珠是古老的有机宝石，对于珍珠品质进行科学、高效的分级评价，对于国内珍珠产业的高质量发展具有十分重要的意义。根据国标GB/T 18781
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2008《珍珠分级》，珍珠的品质分级指标包括：颜色、大小、形状、光泽、光洁度、珠层厚度，其中光泽和光洁度的划分标准主要依靠人眼观察、感官评价。
[0003]为提高品质分级的效率，珍珠的自动分级方法和系统不断进行着创新。目前已发布的大多数专利和文献只针对珍珠光泽进行观测。例如：公开号为CN102608076A的中国专利技术专利《对珍珠进行检测和光泽分级的装置及方法》和公开号为CN202522515U的中国技术专利《对珍珠进行检测和光泽分级的装置》介绍了可以实现珍珠光泽度、形状及大小检测的分级装置，采用共聚焦原理获得珍珠表面明暗差别图像并通过观察实现珍珠光泽分级，但是该装置无法实现珍珠的表面光洁本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于多方位观测的珍珠多分级参数同步测量装置，其特征在于，包括转台、面测量组件、形貌测量组件、标准板和主探测组件；所述转台的顶部设有用于放置珍珠的台面；所述面测量组件和所述形貌测量组件均可移动式设于所述转台的外围，且所述面测量组件具有面光源端，所述形貌测量组件具有形貌测量光源端，所述面光源端和所述形貌测量光源端均对应朝向所述转台，用于照射珍珠；所述标准板设于所述转台背向所述面测量组件和所述形貌测量组件的一侧，所述标准板在所述面光源和所述形貌测量光源照射珍珠时形成反射光；所述主探测组件设于所述面测量组件和所述形貌测量组件之间，且所述主探测组件对应朝向所述转台，所述主探测组件接收来自珍珠的光斑信号以及珍珠和所述标准板的反射光，并结合所述标准板定标珍珠的指标参数。2.根据权利要求1所述的基于多方位观测的珍珠多分级参数同步测量装置，其特征在于，还包括主控计算机；所述主控计算机的控制输入端与所述探测组件之间通过电路相连，通过所述主控计算机自动控制接收来自所述探测组件的指标参数并显示、分级。3.根据权利要求1所述的基于多方位观测的珍珠多分级参数同步测量装置，其特征在于，还包括导轨；所述转台基于垂直设置的中心轴旋转，所述导轨为弧形或环形导轨，且弧形或环形所述导轨以所述转台的中心轴为圆心围设于所述转台的外围；所述面测量组件和所述形貌测量组件分别滑动设于所述导轨。4.根据权利要求3所述的基于多方位观测的珍珠多分级参数同步测量装置，其特征在于，所述面测量组件包括面测量滑动台以及固接于所述面测量滑动台的面光源；所述面测量滑动台滑动设于所述导轨，所述面光源朝向所述转台的中心轴，通过所述面光源照射珍珠，在珍珠的表面形成面光源光斑；所述主探测组件获取所述面光源光斑，计算珍珠的光泽度参数。5.根据权利要求3所述的基于多方位观测的珍珠多分级参数同步测量装置，其特征在于，所述形貌测量组件包括形貌测量滑动台以及固接于所述形貌测量滑动台的形貌测量光源；所述形貌测量滑动台滑动设于所述导轨，所述形貌测量光源朝向所述转台的中心轴，通过所述形貌测量光源照射珍珠，在珍珠的表面形成形貌光源光斑；所述主探测组件获取所述形貌光源光斑，计算珍珠的光洁度参数。6.根据权利要求3所述的基于多方位观测的珍珠多分级参数同步测量装置，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：周丹怡，陆太进，孙若端，张健，柯捷，
申请(专利权)人：中国计量科学研究院，
类型：发明
国别省市：