【技术实现步骤摘要】
电磁波检测装置、程序以及信息获取系统
[0001]本申请是申请日为2018年1月26日、申请号为201880011352.3、名称为“电磁波检测装置、程序以及信息获取系统”的专利技术专利申请的分案申请。
[0002]关联申请的相互参照
[0003]本申请要求2017年2月14在日本申请的日本特愿2017
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025375的优先权,并将在先申请的全部内容引入于此以用于参照。
[0004]本专利技术涉及一种电磁波检测装置、程序以及信息获取系统。
技术介绍
[0005]近年来,开发了一种由检测电磁波的多个检测器检测出的检测结果来获得与周围相关的信息的装置。例如,已知一种使用激光雷达来测量用红外相机拍摄的图像中的物体位置的装置。(参考专利文献1)。
[0006]现有技术文献
[0007]专利文献
[0008]专利文献1:日本特开2011
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220732号公报。
技术实现思路
[0009]第一观点的电磁波检测装置包括:
[0010 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电磁波检测装置,包括:照射电磁波的照射部;检测电磁波的第一检测部;检测电磁波的第二检测部;以及切换部,包括由所述照射部照射的电磁波在对象处被反射的反射波的电磁波入射到所述切换部的作用面,所述切换部按照作用面的各入射区域,使入射的电磁波行进至所述第一检测部或所述第二检测部。2.如权利要求1所述的电磁波检测装置,其特征在于,还包括:控制部,所述控制部对所述第一检测部中与入射至所述作用面的电磁波之中行进至所述第二检测部的电磁波对应的信号强度进行补偿。3.如权利要求2所述的电磁波检测装置,其特征在于,所述控制部对所述第一检测部中因行进至所述第二检测部的电磁波而降低的信号强度进行补偿。4.如权利要求1
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3中任一项所述的电磁波检测装置,其特征在于,所述切换部使入射至所述作用面中所述反射波入射区域的电磁波行进至所述第二检测部。5.如权利要求1
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4中任一项所述的电磁波检...
【专利技术属性】
技术研发人员:冈田浩希,内田绘梨,皆川博幸,高山喜央,小野光夫,长谷部笃史,河合克敏,金山幸年,
申请(专利权)人:京瓷株式会社,
类型:发明
国别省市:
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