中子散射谱仪中多狭缝光阑的准直装置及应用于其的光路制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种中子散射谱仪中多狭缝光阑的准直装置及应用于其的光路，其中，该光路包括：光学输入端和光学输出端；光学输入端用于输出激光光束，激光光束经过其中一个多狭缝光阑至光学输出端，光学输出端用于根据激光光束形成图像；从而使得准直装置中的计算机根据每个图像获取与图像对应的多狭缝光阑的实际中心位置；并根据多个实际中心位置控制多个运动组件运动，以调整多个多狭缝光阑以其中一个多狭缝光阑的实际中心位置为基准对齐。以提高中子散射谱仪多个多狭缝光阑的相对位置精度，进而提升中子散射谱仪的测量精度。进而提升中子散射谱仪的测量精度。进而提升中子散射谱仪的测量精度。

【技术实现步骤摘要】
中子散射谱仪中多狭缝光阑的准直装置及应用于其的光路


[0001]本技术涉及中子散射谱仪
，尤其涉及一种中子散射谱仪中多狭缝光阑的准直装置及应用于其的光路。

技术介绍

[0002]中国散裂中子源的微小角中子散射谱仪(Very Small Angle Scattering(VSANS))可在1～1000nm尺度范围内研究聚合物以及生物大分子等材料，可广泛服务于物理、化学、材料、生物医药、高分子、环保和考古等科学研究领域。
[0003]散射谱仪中，在其12.3米长的中子束线上不等距分布有12个多狭缝光阑(Multi
‑
slit，MS)，其作用是将中子聚焦到探测器表面，但其存在的问题是，目前12个多狭缝光阑的位置并不能很好的准直到一条直线上，这使得散射谱仪的测量精度远远达不到要求。

技术实现思路

[0004]本技术提供了一种中子散射谱仪中多狭缝光阑的准直装置及应用于其的光路，以提高中子散射谱仪多个多狭缝光阑的相对位置精度，进而提升中子散射谱仪的测量精度。
[0005]为实现上述目的，本技术一方面提出了一种应用于中子散射谱仪中多狭缝光阑准直的光路，包括：光学输入端和光学输出端；
[0006]所述光学输入端用于输出激光光束，所述激光光束经过其中一个所述多狭缝光阑至所述光学输出端，所述光学输出端用于根据所述激光光束形成图像。
[0007]所述光学输入端包括：
[0008]第一激光器、第一光阑、第一衰减镜、扩束镜和第二光阑，所述第一激光器用于出射所述激光光束，所述激光光束依次经过所述第一光阑、所述第一衰减镜、所述扩束镜、所述第二光阑至所述多狭缝光阑。
[0009]可选地，所述光学输入端还包括：
[0010]第一光路调整组件和第三光阑，经过所述第二光阑的激光光束，再依次经过所述第一光路调整组件和所述第三光阑后至所述多狭缝光阑。
[0011]可选地，第一所述光路调整组件包括：
[0012]第一反射镜、第四光阑和第二反射镜，所述第一反射镜用于反射经过所述第二光阑的所述激光光束，至所述第四光阑，所述第二反射镜用于反射经过所述第四光阑的所述激光光束，至所述第三光阑。
[0013]可选地，所述光学输入端还包括：半反半透镜、第二衰减镜和位置敏感探测器；
[0014]所述半反半透镜位于所述激光器与所述第一光阑之间，用于将所述激光器出射的所述激光光束一部分透射为第一激光光束，一部分反射为第二激光光束；所述第一激光光束用于经过所述多狭缝光阑至所述光学输出端形成图像；所述第二激光光束经过所述第二衰减镜至所述位置敏感探测器。
[0015]可选地，所述光学输入端还包括：第二光路调整组件，位于所述第二激光光束传播的路径上，所述第二激光光束依次经过所述第二光路调整组件、所述第二衰减镜至所述位置敏感探测器。
[0016]可选地，所述第二光路调整组件为第三反射镜。
[0017]可选地，所述光学输入端还包括：第二激光器和第三光路调整组件；
[0018]所述第二激光器用于在所述第一激光器故障时，出射激光光束至所述第三光路调整组件，所述激光光束经过所述第三光路调整组件的调整入射至所述半反半透镜，形成所述第一激光光束和所述第二激光光束。
[0019]可选地，所述第三光路调整组件为第四反射镜。
[0020]可选地，所述光学输出端包括：第五光阑、镜头和相机，经过所述多狭缝光阑的激光光束依次通过所述第五光阑、所述镜头后在所述相机上成像。
[0021]为实现上述目的，本技术第二方面提出了一种中子散射谱仪中多狭缝光阑的准直装置，包括前所述的应用于中子散射谱仪中多狭缝光阑准直的光路。
[0022]根据本技术公开的中子散射谱仪中多狭缝光阑的准直装置及应用于其的光路，其中，该光路包括：光学输入端和光学输出端；光学输入端用于输出激光光束，激光光束经过其中一个多狭缝光阑至光学输出端，光学输出端用于根据激光光束形成图像；从而使得准直装置中的计算机根据每个图像获取与图像对应的多狭缝光阑的实际中心位置；并根据多个实际中心位置控制多个运动组件运动，以调整多个多狭缝光阑以其中一个多狭缝光阑的实际中心位置为基准对齐。以提高中子散射谱仪多个多狭缝光阑的相对位置精度，进而提升中子散射谱仪的测量精度。
[0023]应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本技术的范围。本技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
[0024]为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0025]图1是现有技术中中子散射谱仪中多个多狭缝光阑的排布结构示意图；
[0026]图2是本技术实施例提出的中子散射谱仪中多狭缝光阑的准直装置的方框示意图；
[0027]图3是现有技术中多狭缝光阑的结构示意图；
[0028]图4是本技术实施例提出的中子散射谱仪中多狭缝光阑的准直装置中光学输出端获取的图像；
[0029]图5是图4中图像对应的积分光强曲线；
[0030]图6是本技术实施例提出的中子散射谱仪中多狭缝光阑的准直装置中获取积分光强曲线的峰值过程图。
[0031]图7是本技术实施例提出的中子散射谱仪中多狭缝光阑的准直装置的光路原
理图；
[0032]图8是本技术另一个实施例提出的中子散射谱仪中多狭缝光阑的准直装置的光路原理图；
[0033]图9是本技术又一个实施例提出的中子散射谱仪中多狭缝光阑的准直装置的光路原理图；
[0034]图10是本技术再一个实施例提出的中子散射谱仪中多狭缝光阑的准直装置的光路原理图；
[0035]图11是本技术实施例提出的中子散射谱仪中多狭缝光阑的准直方法的流程图。
具体实施方式
[0036]为了使本
的人员更好地理解本技术方案，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本技术保护的范围。
[0037]需要说明的是，本技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本技术的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种应用于中子散射谱仪中多狭缝光阑准直的光路，其特征在于，包括：光学输入端和光学输出端；所述光学输入端用于输出激光光束，所述激光光束经过其中一个所述多狭缝光阑至所述光学输出端，所述光学输出端用于根据所述激光光束形成图像；所述光学输入端包括：第一激光器、第一光阑、第一衰减镜、扩束镜和第二光阑，所述第一激光器用于出射所述激光光束，所述激光光束依次经过所述第一光阑、所述第一衰减镜、所述扩束镜、所述第二光阑至所述多狭缝光阑。2.根据权利要求1所述的应用于中子散射谱仪中多狭缝光阑准直的光路，其特征在于，所述光学输入端还包括：第一光路调整组件和第三光阑，经过所述第二光阑的激光光束，再依次经过所述第一光路调整组件和所述第三光阑后至所述多狭缝光阑。3.根据权利要求2所述的应用于中子散射谱仪中多狭缝光阑准直的光路，其特征在于，第一所述光路调整组件包括：第一反射镜、第四光阑和第二反射镜，所述第一反射镜用于反射经过所述第二光阑的所述激光光束，至所述第四光阑，所述第二反射镜用于反射经过所述第四光阑的所述激光光束，至所述第三光阑。4.根据权利要求1所述的应用于中子散射谱仪中多狭缝光阑准直的光路，其特征在于，所述光学输入端还包括：半反半透镜、第二衰减镜和位置敏感探测器；所述半反半透镜位于所述激光器与所述第一光阑之间，用于将所述激光器出射的所述激光光束一部分透射为第一激光光束，一部分反射为第二激光光束；所述第一激光光束用于经过所述多狭缝光阑至...

【专利技术属性】
技术研发人员：何振强，程贺，左太森，肖松文，林雄，
申请(专利权)人：散裂中子源科学中心，
类型：新型
国别省市：