蓄水型废弃露天矿岩质高陡边坡岩体劣化损伤光学采样装置制造方法及图纸

技术编号:33891389 阅读:21 留言:0更新日期:2022-06-22 17:26
本发明专利技术公开了蓄水型废弃露天矿岩质高陡边坡岩体劣化损伤光学采样装置,其包括:固定柱,横向插接在边坡岩体内,所述固定柱的上端连接有锚索,所述锚索的一端连接外设架点;安装主件,竖直固定在所述固定柱的下端面,所述安装主件被构造成两段式可伸缩结构;测距调节组件,横向固定在所述安装主件的下端,所述安装主件上设有液压伸缩杆,所述测距调节组件能够基于边坡岩体表面进行水平测距;光学采样组件,安装在所述测距调节组件上,用于对边坡岩体表面进行覆盖式扫描;以及变轨微调组件,连接在所述光学采样组件与测距调节组件之间,所述光学采样组件滑动设置在变轨微调组件上,并由所述变轨微调组件对其滑动轨迹进行微调,以便所述光学采样组件能够等距架设在边坡岩体一侧。一侧。一侧。

【技术实现步骤摘要】
蓄水型废弃露天矿岩质高陡边坡岩体劣化损伤光学采样装置


[0001]本专利技术属于岩体劣化程度领域,具体是蓄水型废弃露天矿岩质高陡边坡岩体劣化损伤光学采样装置。

技术介绍

[0002]受地质构造运动以及岩体沉积变质等相关因素的影响,岩体内部存在诸多缺陷、裂隙等复杂的结构特征,存在非连续性、非均质特性等等。目前,对于地下空间的开发和利用中,岩体的劣化程度可以有效体现地下空间的岩体状态。相关技术中,通过对岩体进行钻取采样,基于采样样本的劣化程度对地下空间进行整体劣化情况的评估,而钻取采样的频繁、步骤繁琐、周期长、成本高,且无法获取到现场真实环境下的岩体劣化程度,无法实现有效预警与岩体状态的评估。因此,本领域技术人员提供了蓄水型废弃露天矿岩质高陡边坡岩体劣化损伤光学采样装置,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。

技术实现思路

[0003]为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:蓄水型废弃露天矿岩质高陡边坡岩体劣化损伤光学采样装置,其包括:
[0004]固定柱,横向插接在边坡岩体内,所述固定柱的上端连接有锚索,所述锚索的一端连接外设架点;
[0005]安装主件,竖直固定在所述固定柱的下端面,所述安装主件被构造成两段式可伸缩结构;
[0006]测距调节组件,横向固定在所述安装主件的下端,所述安装主件上设有液压伸缩杆,所述测距调节组件能够基于边坡岩体表面进行水平测距;
[0007]光学采样组件,安装在所述测距调节组件上,用于对边坡岩体表面进行覆盖式扫描;以及
[0008]变轨微调组件,连接在所述光学采样组件与测距调节组件之间,所述光学采样组件滑动设置在变轨微调组件上,并由所述变轨微调组件对其滑动轨迹进行微调,以便所述光学采样组件能够等距架设在边坡岩体一侧。
[0009]进一步,作为优选,所述测距调节组件包括:
[0010]上联架,横向固定在所述安装主件下方;
[0011]内螺杆,通过轴承可相对转动的设置在所述上联架内,所述上联架的一侧安装有驱动电机,所述驱动电机的输出端与所述内螺杆相连接;
[0012]传动座,通过螺纹啮合作用滑动设置在内螺杆上;
[0013]导向杆,水平固定在所述传动座上;以及
[0014]激光测距装置,可相对滑动的横向设置在导向杆上,所述激光测距装置的一侧设有驱动轮,所述驱动轮沿开设在传动座一侧内轨槽位移滑动。
[0015]进一步,作为优选,所述变轨微调组件包括:
[0016]支撑框架;
[0017]调节支架,通过侧位板平行固定在所述支撑框架的一侧;
[0018]外轨件,贴合固定在所述调节支架上,所述调节支架与外轨件均采用高弹性形变的塑性材质;以及
[0019]微调伸缩杆,为排列设置的多组,各所述微调伸缩杆均水平连接在所述调节支架与外轨件之间。
[0020]进一步,作为优选,所述光学采样组件包括:
[0021]外轨架,滑动连接在所述变轨微调组件上,所述外轨架内可相对转动的设置有导向轮,所述导向轮与所述变轨微调组件相抵靠接触;
[0022]承接架,竖直固定在外轨架的一侧;
[0023]中心轴,可相对转动的设置在所述承接架上,所述承接架上设有内置电机,所述内置电机通过齿轮啮合作用与所述中心轴连接传动;
[0024]穿接杆,竖直固定在所述中心轴的一端;
[0025]承载主板,可相对滑动的设置在所述穿接杆上;
[0026]电动伸缩杆,竖直固定在所述穿接杆上,所述电动伸缩杆的输出端与所述承载主板相连接;以及
[0027]采样装置,为均匀排列设置的多个,各采样装置均垂直固定在承载主板上。
[0028]进一步,作为优选,所述承载主板的横截面被构造成弧形结构,且其弧度为50
°‑
85
°

[0029]进一步,作为优选,所述采样装置包括:
[0030]机体;
[0031]采像装置,同轴固定在所述机体上;
[0032]光柱件,为圆周对称设置的多个,各所述光柱件均平行固定在所述机体上;
[0033]调光装置,可相对滑动的设置在所述机体上,所述调光装置用于对光柱件的光源射线进行调整;以及
[0034]气压泵,安装在所述机体的一侧,所述气压泵的输出端通过连接软管与所述调光装置相连通。
[0035]进一步,作为优选,所述调光装置包括:
[0036]内密封仓,同轴固定在所述机体内,所述内密封仓中可相对滑动的设置有气压塞;
[0037]轴接套,可相对滑动的同轴设置在采像装置外,所述轴接套的上端与所述气压塞相连接;
[0038]限位弹簧,为平行设置的多组,各所述限位弹簧均连接在气压塞与内密封仓之间;以及
[0039]聚光套,与各所述光柱件一一对应设置,所述聚光套与轴接套相固定,且可相对滑动的同轴套接在光柱件外,所述聚光套上圆周开设有多个通孔。
[0040]进一步,作为优选,位于所述聚光套上方的通孔间距小于位于其下方的通孔间距。
[0041]与现有技术相比,本专利技术的有益效果是:
[0042]本专利技术中,通过在露天矿岩质边坡岩体内横向插接固定柱,固定柱的一端竖直设置有安装主件,安装主件上横向固定有上联架,上联架中通过螺纹啮合传动作用横向位移
设置有激光测距装置,激光测距装置能够优先对露天矿岩质边坡岩体进行初步岩体特征扫描,而后变轨微调组件能够对光学采样组件的位移轨迹进行微调,从而使得光学采样组件能够始终保持与边坡岩体呈等距状态,提高光学采样准确性;尤其在对边坡岩体光学采样中,通过中心轴的圆周旋转作用同时配合电动伸缩感的竖向伸缩使得多个采样装置能够同步进行圆周扩径扫描工作,从而形成多点位半球体扫描轨迹,以便对边坡岩体各处裂隙进行精准采样;同时在光学采样过程中,调光装置能够依据边坡岩体所处环境光线调件进行对应聚光或散光照射,以便采像装置能够得出清晰轮廓图像。
附图说明
[0043]图1为本专利技术的结构示意图;
[0044]图2为本专利技术中测距调节组件的结构示意图;
[0045]图3为本专利技术中变轨微调组件的结构示意图;
[0046]图4为本专利技术中光学采样组件的结构示意图;
[0047]图5为本专利技术中采样装置的结构示意图;
[0048]图6为本专利技术中调光装置的结构示意图;
[0049]图7为本专利技术中光学采样位移示意图;
[0050]图中:1固定柱、11锚索、2安装主件、21液压伸缩杆、3测距调节组件、31上联架、32内螺杆、33驱动电机、34传动座、35激光测距装置、4变轨微调组件、41支撑框架、42调节支架、43外轨件、44微调伸缩杆、5光学采样组件、51外轨架、52导向轮、53承接架、54中心轴、55穿接杆、56电动伸缩杆、57承载主板、6采样装置、61机体、62采像装置、63气压泵、64光柱件、7调光装置、71内密封仓、72轴接套、73气压塞、74通孔、75本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.蓄水型废弃露天矿岩质高陡边坡岩体劣化损伤光学采样装置,其特征在于:其包括:固定柱(1),横向插接在边坡岩体内,所述固定柱(1)的上端连接有锚索,所述锚索(11)的一端连接外设架点;安装主件(2),竖直固定在所述固定柱(1)的下端面,所述安装主件(2)被构造成两段式可伸缩结构;测距调节组件(3),横向固定在所述安装主件(2)的下端,所述安装主件(2)上设有液压伸缩杆(21),所述测距调节组件(3)能够基于边坡岩体表面进行水平测距;光学采样组件(5),安装在所述测距调节组件(3)上,用于对边坡岩体表面进行覆盖式扫描;以及变轨微调组件(4),连接在所述光学采样组件(5)与测距调节组件(3)之间,所述光学采样组件(5)滑动设置在变轨微调组件(4)上,并由所述变轨微调组件(4)对其滑动轨迹进行微调,以便所述光学采样组件(5)能够等距架设在边坡岩体一侧。2.根据权利要求1所述的蓄水型废弃露天矿岩质高陡边坡岩体劣化损伤光学采样装置,其特征在于:所述测距调节组件(3)包括:上联架(31),横向固定在所述安装主件(2)下方;内螺杆(32),通过轴承可相对转动的设置在所述上联架(31)内,所述上联架(31)的一侧安装有驱动电机(33),所述驱动电机(33)的输出端与所述内螺杆(32)相连接;传动座(34),通过螺纹啮合作用滑动设置在内螺杆(32)上;导向杆,水平固定在所述传动座(34)上;以及激光测距装置(35),可相对滑动的横向设置在导向杆上,所述激光测距装置(35)的一侧设有驱动轮,所述驱动轮沿开设在传动座(34)一侧内轨槽位移滑动。3.根据权利要求1所述的蓄水型废弃露天矿岩质高陡边坡岩体劣化损伤光学采样装置,其特征在于:所述变轨微调组件(4)包括:支撑框架(41);调节支架(42),通过侧位板平行固定在所述支撑框架(41)的一侧;外轨件(43),贴合固定在所述调节支架(42)上,所述调节支架(42)与外轨件(43)均采用高弹性形变的塑性材质;以及微调伸缩杆(44),为排列设置的多组,各所述微调伸缩杆(44)均水平连接在所述调节支架(42)与外轨件(43)之间。4.根据权利要求1所述的蓄水型废弃露天矿岩质高陡边坡岩体劣化损伤光学采样装置,其特征在于:所述光学采样组件(5)包括:外轨架(51),滑动连接在所述变轨微调组件(4)上,所述外轨架(43)内可相对转动的设置有导向轮(52),所述导向轮(52)与所述变轨微调组...

【专利技术属性】
技术研发人员:齐庆杰刘英杰孙祚蔡永博孙立峰甘一雄刘千惠
申请(专利权)人:煤炭科学研究总院有限公司
类型:发明
国别省市:

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