一种测试座及编带机制造技术

本申请公开了一种测试座及编带机，涉及电性测试技术领域，该测试座包括底座、浮动测试台和测试件，底座上设有第一限位结构；浮动测试台设于底座上且与底座弹性连接，浮动测试台可相对于底座沿竖直方向移动，浮动测试台用于放置待测元器件；测试件设置于底座上，测试件的一端设有第二限位结构，测试件的另一端延伸至浮动测试台，在浮动测试台竖直向下移动时，测试件的另一端能够与待测元器件接触；通过第一限位结构和第二限位结构配合，能够在测试件安装于底座上时，对测试件进行定位和导向，以防止测试件移位。本申请能够阻止测试件的移位，保证测试件的安装效果。保证测试件的安装效果。保证测试件的安装效果。

【技术实现步骤摘要】
一种测试座及编带机


[0001]本申请涉及电性测试
，尤其涉及一种测试座及编带机。

技术介绍

[0002]编带机用于将通过检测、换向、测试等工位后的散料元器件放入载带中。其中，元器件的测试通常是电性测试，在电性测试中，需要用到测试座，测试座包括底座以及设置于底座上的浮动承载台和测试件，测试件设置在浮动承载台相对的两侧，在电性测试时，首先将元器件放置于浮动承载台上，以使元器件的引脚与测试件接触，若是元器件上的测试引脚较长，且引脚伸出端不再一个平面上时，为了使测试件与元器件上的测试引脚接触，需挤压浮动测试台，使其沿竖直方向向下移动，直至测试件与元器件上的引脚接触以进行测试。
[0003]相关技术中，测试件位于两个层叠的固定片之间，两个层叠的固定片固设于底座上，但是在测试件安装于两个层叠的固定片之间时，极容易出现测试件相对于固定片移位的情况，从而影响测试件的安装效果。

技术实现思路

[0004]针对现有技术中上述不足，本技术提供了一种测试座及编带机，能够阻止测试件的移位，保证安装件的安装效果。
[0005]为了解决上本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试座，其特征在于，包括：底座，所述底座上设有第一限位结构；浮动测试台，所述浮动测试台设于所述底座上且与所述底座弹性连接，所述浮动测试台可相对于所述底座沿竖直方向移动，所述浮动测试台用于放置待测元器件；测试件，所述测试件设置于所述底座上，所述测试件的一端设有第二限位结构，所述测试件的另一端延伸至所述浮动测试台，在所述浮动测试台竖直向下移动时，所述测试件的另一端能够与所述待测元器件接触；通过所述第一限位结构和所述第二限位结构配合，能够在所述测试件安装于所述底座上时，对所述测试件进行定位和导向，以防止所述测试件移位。2.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，所述第一限位结构为多个限位柱，所述第二限位结构为多个限位孔，或者，所述第一限位结构为多个限位孔，所述第二限位结构为多个限位柱，所述限位柱沿竖直方向延伸，多个所述限位柱与多个所述限位孔一一配合安装。3.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，所述测试件和所述底座通过紧固件沿竖直方向连接。4.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，所述测试件延伸至所述浮动测试台的一端能够沿竖直方向发生弹性形变。5.根据权利要求1
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4任一项所述的测试座，其特征在于，所述底座包括基座和可拆卸设置在所述基座上的安装座，所述安装座上开设有贯通所述安装座的容置槽，所述浮动测试台滑动设于所述容置槽内，且所述浮动测试台与所述基座弹性连接，所述第一限位结构设于所述安装座上，所述测试件固定于所述安装座上。6.根据权利要求5所述的测试座，其特征在于，所述测试件包括多个，所述安装座包括多个，相邻两个所述安装座之间的间距可调节。7.根据权利要求5所述的测试座，其特征在于，所述浮动测试台与所述基座之间设置有弹性组件，在所述浮动测试台竖直向下移动时，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：林广满，陈林山，王建勇，高魁，
申请(专利权)人：惠州深科达半导体科技有限公司，
类型：新型
国别省市：