缺陷检测方法、装置及系统制造方法及图纸

本申请公开了一种缺陷检测方法、装置及系统，方法包括：获得第一图像，所述第一图像为图像采集设备对输出设备处于第一姿态的情况下所采集的图像；根据所述第一图像获得第二图像，所述第二图像为所述输出设备处于第二姿态的情况下对应的图像；其中，所述输出设备处于所述第一姿态的情况下对应的所述第一图像与处于所述第二姿态的情况下对应的所述第二图像中，所述输出设备的图像输出区域上目标缺陷的显示不同；基于所述第二图像中所述目标缺陷的显示获得所述输出设备的图像输出区域上的缺陷检测结果。缺陷检测结果。缺陷检测结果。

【技术实现步骤摘要】
缺陷检测方法、装置及系统


[0001]本申请涉及图像处理
，尤其涉及一种缺陷检测方法、装置及系统。

技术介绍

[0002]目前，通过显示屏的侧拍图像进行图像检测，来实现对显示屏中缺陷位置的检测。
[0003]但是，目前在对显示屏进行侧面拍摄时，只能在固定角度上拍摄进行缺陷检测，可能会漏掉其他角度拍摄才能检测到的缺陷，由此，造成缺陷检测不准确的情况。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本申请提供一种缺陷检测方法、装置及系统，如下：
[0005]一种缺陷检测方法，包括：
[0006]获得第一图像，所述第一图像为图像采集设备对输出设备处于第一姿态的情况下所采集的图像；
[0007]根据所述第一图像获得第二图像，所述第二图像为所述输出设备处于第二姿态的情况下对应的图像；
[0008]其中，所述输出设备处于所述第一姿态的情况下对应的所述第一图像与处于所述第二姿态的情况下对应的所述第二图像中，所述输出设备的图像输出区域上目标缺陷的显示不同；
[0009]基于所述第二图像中所述目标缺陷的显示获得所述输出设备的图像输出区域上的缺陷检测结果。
[0010]上述方法，优选的，所述第二姿态与所述目标缺陷对应的目标类型相对应，以使得基于所述第二图像获得的缺陷检测结果能够表征所述图像输出区域上是否存在所述目标类型对应的缺陷。
[0011]上述方法，优选的，所述第一图像中所述图像输出区域上目标类型对应目标缺陷的显示的可见度小于所述第二图像中所述图像输出区域上目标类型对应目标缺陷的显示的可见度。
[0012]上述方法，优选的，根据所述第一图像获得第二图像，包括：
[0013]利用图像处理模型，对所述第一图像进行处理，得到所述输出设备处于至少一个第二姿态的情况下对应的第二图像；
[0014]其中，所述图像处理模型基于输入样本和输出样本进行训练得到，所述输入样本包括：所述输出设备处于所述第一姿态的情况下对应的样本图像，所述输出样本包括：所述输出设备处于至少一个所述第二姿态的情况下对应的样本图像。
[0015]上述方法，优选的，根据所述第一图像获得第二图像，包括：
[0016]利用图像处理模型，按照第二姿态对所述第一图像进行处理，得到所述输出设备处于所述第二姿态的情况下对应的第二图像；
[0017]其中，所述图像处理模型基于输入样本和输出样本进行训练得到，所述输入样本
包括：所述输出设备处于所述第一姿态的情况下对应的样本图像和目标姿态的姿态参数，所述输出样本包括：所述输出设备处于所述目标姿态上对应的样本图像。
[0018]上述方法，优选的，所述目标姿态有一种或多种，以使得所述图像处理模型能够输出所述输出设备处于一种或多种第二姿态的情况下对应的图像。
[0019]上述方法，优选的，根据所述第一图像获得第二图像，包括：
[0020]利用第二姿态对应的图像处理模型，对所述第一图像进行处理，得到所述输出设备处于所述第二姿态的情况下对应的第二图像；
[0021]其中，所述图像处理模型基于输入样本和输出样本进行训练得到，所述输入样本包括：所述输出设备处于所述第一姿态的情况下对应的样本图像，所述输出样本包括：所述输出设备处于所述第二姿态的情况下对应的样本图像。
[0022]上述方法，优选的，所述第一姿态和所述第二姿态均以所述图像输出区域所在平面与所述图像采集设备的图像采集方向之间的夹角表示。
[0023]一种缺陷检测装置，包括：
[0024]第一获得单元，用于获得第一图像，所述第一图像为图像采集设备对输出设备处于第一姿态的情况下所采集的图像；
[0025]第二获得单元，用于根据所述第一图像获得第二图像，所述第二图像为所述输出设备处于第二姿态的情况下对应的图像；
[0026]其中，所述输出设备处于所述第一姿态的情况下对应的所述第一图像与处于所述第二姿态的情况下对应的所述第二图像中，所述输出设备的图像输出区域上目标缺陷的显示不同；
[0027]区域检测单元，用于基于所述第二图像中所述目标缺陷的显示获得所述输出设备的图像输出区域上的缺陷检测结果。
[0028]一种缺陷检测系统，包括：
[0029]图像采集设备，用于对输出设备进行图像采集；
[0030]电子设备，用于：获得第一图像，所述第一图像为所述图像采集设备对所述输出设备处于第一姿态的情况下所采集的图像；根据所述第一图像获得第二图像，所述第二图像为所述输出设备处于第二姿态的情况下对应的图像；其中，所述输出设备处于所述第一姿态的情况下对应的所述第一图像与处于所述第二姿态的情况下对应的所述第二图像中，所述输出设备的图像输出区域上目标缺陷的显示不同；基于所述第二图像中所述目标缺陷的显示获得所述输出设备的图像输出区域上的缺陷检测结果。
[0031]从上述技术方案可以看出，本申请公开的一种缺陷检测方法、装置及系统中，在获取第一图像之后，通过对第一图像进行处理，进而得到第二图像，而通过本申请的缺陷检测所检测到第二图像中目标类型的缺陷所对应的可见度大于第一图像中目标类型的缺陷。可见，本申请实施例中通过图像采集设备采集一个特定角度的第一图像，并对其进行处理，从而能够得到另一角度的第二图像，基于缺陷显示不同的第二图像能够进行相应角度上的缺陷检测，从而提高缺陷检测的准确性。
附图说明
[0032]为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用
的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0033]图1为本申请实施例一提供的一种缺陷检测方法的流程图；
[0034]图2a为本申请实施例中图像采集设备采集输出设备的图像示意图；
[0035]图2b为本申请对输出设备进行缺陷检测的应用场景示意图；
[0036]图3为第一图像和第二图像中目标缺陷可见度的示意图；
[0037]图4为本申请实施例中图像处理模型确定至少一个第二图像的应用示意图；
[0038]图5为本申请实施例中对第一种图像处理模型进行训练的示例图；
[0039]图6为本申请实施例中图像处理模型按照第二姿态确定第二图像的应用示意图；
[0040]图7为本申请实施例中对第二种图像处理模型进行训练的示例图；
[0041]图8为本申请实施例中图像处理模型确定第二图像的应用示意图；
[0042]图9为本申请实施例中对第三种图像处理模型进行训练的示例图；
[0043]图10为本申请实施例二提供的一种缺陷检测装置的结构示意图；
[0044]图11为本申请实施例三提供的一种缺陷检测系统的结构示意图；
[0045]图12为本申请实施例四提供的种电子设备的结构示意图；
[0046]图13
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种缺陷检测方法，包括：获得第一图像，所述第一图像为图像采集设备对输出设备处于第一姿态的情况下所采集的图像；根据所述第一图像获得第二图像，所述第二图像为所述输出设备处于第二姿态的情况下对应的图像；其中，所述输出设备处于所述第一姿态的情况下对应的所述第一图像与处于所述第二姿态的情况下对应的所述第二图像中，所述输出设备的图像输出区域上目标缺陷的显示不同；基于所述第二图像中所述目标缺陷的显示获得所述输出设备的图像输出区域上的缺陷检测结果。2.根据权利要求1所述的方法，所述第二姿态与所述目标缺陷对应的目标类型相对应，以使得基于所述第二图像获得的缺陷检测结果能够表征所述图像输出区域上是否存在所述目标类型对应的缺陷。3.根据权利要求1或2所述的方法，所述第一图像中所述图像输出区域上目标类型对应目标缺陷的显示的可见度小于所述第二图像中所述图像输出区域上目标类型对应目标缺陷的显示的可见度。4.根据权利要求1或2所述的方法，根据所述第一图像获得第二图像，包括：利用图像处理模型，对所述第一图像进行处理，得到所述输出设备处于至少一个第二姿态的情况下对应的第二图像；其中，所述图像处理模型基于输入样本和输出样本进行训练得到，所述输入样本包括：所述输出设备处于所述第一姿态的情况下对应的样本图像，所述输出样本包括：所述输出设备处于至少一个所述第二姿态的情况下对应的样本图像。5.根据权利要求1、2或3所述的方法，根据所述第一图像获得第二图像，包括：利用图像处理模型，按照第二姿态对所述第一图像进行处理，得到所述输出设备处于所述第二姿态的情况下对应的第二图像；其中，所述图像处理模型基于输入样本和输出样本进行训练得到，所述输入样本包括：所述输出设备处于所述第一姿态的情况下对应的样本图像和目标姿态的姿态参数，所述输出样本包括：所述输出设备处于所述目标姿态上对应的样本图像。6.根据权利要求5所述的方法，所述目标姿态有一种或多种，以使得所...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨达坤，刘威，朱麟，
申请(专利权)人：联想北京有限公司，
类型：发明
国别省市：