缺陷检测方法、装置及系统制造方法及图纸

本申请公开了一种缺陷检测方法、装置及系统，方法包括：获得第一图像，所述第一图像为图像采集设备对输出设备处于第一姿态的情况下所采集的图像；根据所述第一图像获得第二图像，所述第二图像为所述输出设备处于第二姿态的情况下对应的图像；其中，所述输出设备处于所述第一姿态的情况下对应的所述第一图像与处于所述第二姿态的情况下对应的所述第二图像中，所述输出设备的图像输出区域上目标缺陷的显示不同；基于所述第二图像中所述目标缺陷的显示获得所述输出设备的图像输出区域上的缺陷检测结果。缺陷检测结果。缺陷检测结果。

【技术实现步骤摘要】
缺陷检测方法、装置及系统


[0001]本申请涉及图像处理
，尤其涉及一种缺陷检测方法、装置及系统。

技术介绍

[0002]目前，通过显示屏的侧拍图像进行图像检测，来实现对显示屏中缺陷位置的检测。
[0003]但是，目前在对显示屏进行侧面拍摄时，只能在固定角度上拍摄进行缺陷检测，可能会漏掉其他角度拍摄才能检测到的缺陷，由此，造成缺陷检测不准确的情况。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本申请提供一种缺陷检测方法、装置及系统，如下：
[0005]一种缺陷检测方法，包括：
[0006]获得第一图像，所述第一图像为图像采集设备对输出设备处于第一姿态的情况下所采集的图像；
[0007]根据所述第一图像获得第二图像，所述第二图像为所述输出设备处于第二姿态的情况下对应的图像；
[0008]其中，所述输出设备处于所述第一姿态的情况下对应的所述第一图像与处于所述第二姿态的情况下对应的所述第二图像中，所述输出设备的图像输出区域上目标缺陷的显示不同；
[0009]基于所述第二图像中所述目标缺陷的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种缺陷检测方法，包括：获得第一图像，所述第一图像为图像采集设备对输出设备处于第一姿态的情况下所采集的图像；根据所述第一图像获得第二图像，所述第二图像为所述输出设备处于第二姿态的情况下对应的图像；其中，所述输出设备处于所述第一姿态的情况下对应的所述第一图像与处于所述第二姿态的情况下对应的所述第二图像中，所述输出设备的图像输出区域上目标缺陷的显示不同；基于所述第二图像中所述目标缺陷的显示获得所述输出设备的图像输出区域上的缺陷检测结果。2.根据权利要求1所述的方法，所述第二姿态与所述目标缺陷对应的目标类型相对应，以使得基于所述第二图像获得的缺陷检测结果能够表征所述图像输出区域上是否存在所述目标类型对应的缺陷。3.根据权利要求1或2所述的方法，所述第一图像中所述图像输出区域上目标类型对应目标缺陷的显示的可见度小于所述第二图像中所述图像输出区域上目标类型对应目标缺陷的显示的可见度。4.根据权利要求1或2所述的方法，根据所述第一图像获得第二图像，包括：利用图像处理模型，对所述第一图像进行处理，得到所述输出设备处于至少一个第二姿态的情况下对应的第二图像；其中，所述图像处理模型基于输入样本和输出样本进行训练得到，所述输入样本包括：所述输出设备处于所述第一姿态的情况下对应的样本图像，所述输出样本包括：所述输出设备处于至少一个所述第二姿态的情况下对应的样本图像。5.根据权利要求1、2或3所述的方法，根据所述第一图像获得第二图像，包括：利用图像处理模型，按照第二姿态对所述第一图像进行处理，得到所述输出设备处于所述第二姿态的情况下对应的第二图像；其中，所述图像处理模型基于输入样本和输出样本进行训练得到，所述输入样本包括：所述输出设备处于所述第一姿态的情况下对应的样本图像和目标姿态的姿态参数，所述输出样本包括：所述输出设备处于所述目标姿态上对应的样本图像。6.根据权利要求5所述的方法，所述目标姿态有一种或多种，以使得所...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨达坤，刘威，朱麟，
申请(专利权)人：联想北京有限公司，
类型：发明
国别省市：