一种金属纳米线材料的原位制备-测试一体化装置和方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种金属纳米线材料的原位制备

【技术实现步骤摘要】
一种金属纳米线材料的原位制备
‑
测试一体化装置和方法


[0001]本专利技术涉及纳米材料制备与测试
，具体涉及一种在透射电镜下金属纳米线材料的原位制备
‑
测试一体化装置和方法。

技术介绍

[0002]Knoll和Ruska两人于1932年首次在论文中提到电子显微镜，并实现了电子透镜(Electron Lens)成像的想法，由此将电子透镜的设想变成了现实，而世界上第一台商用透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope，TEM)在4年后，即1936年就在英国开始建造。TEM利用平行射入的高能电子束穿透样品，并在另一侧通过电磁透镜实现聚焦成像，最终逐级放大在荧光屏上。通过样品后方的物镜将透射电子束和弹性散射电子束汇聚在其像平面上可以获得具有衍射衬度的TEM明场像，在物镜背焦面上可以获得衍射花样；选取特定衍射电子束，可以获得暗场像；利用衍射电子束和透射电子束之间的相位干涉进行成像，可以得到高分辨图像。随着TEM相关技术的不断进步，TEM已经成为材料表征最有效和最常用的工具，研本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种金属纳米线材料的原位制备
‑
测试一体化装置，其特征在于：包括透射电子显微镜、力学
‑
电学单倾样品杆、样品杆控制箱和CCD相机；力学
‑
电学单倾样品杆包括不可动平台(3)与金属帽可动端(4)，不可动平台(3)与金属帽可动端(4)之间相向布置且不接触，不可动平台(3)与金属帽可动端(4)上分别固定纳米断口段(1)与探针(2)；样品杆控制箱包括压电陶瓷驱动位移系统(5)和电学控制系统(6)，不可动平台(3)与金属帽可动端(4)均与压电陶瓷驱动位移系统(5)和电学控制系统(6)连接；力学
‑
电学单倾样品杆置于透射电子显微镜内，通过透射电子显微镜观察力学
‑
电学单倾样品杆上纳米断口段(1)与探针(2)的相对位置和移动情况；压电陶瓷驱动位移系统(5)通过金属帽可动端(4)控制探针(2)移动，对制备的金属纳米线样品进行原位测试；CCD相机在原位测试过程中用于对金属纳米线的原子尺度结构演化进行实时记录。2.根据权利要求1所述的一种金属纳米线材料的原位制备
‑
测试一体化装置，其特征在于：所述的纳米断口段(1)与探针(2)采用同质金属材料，具体为钨、金或钼。3.根据权利要求1所述的一种金属纳米线材料的原位制备
‑
测试一体化装置，其特征在于：所述纳米断口段(1)通过物理剪切法制备得到：用平头钳将金属线压平，再利用钢丝钳将压平处横向剪断，前端的剪断面为直断口，在直断口形成大量纳米尺度尖端，纳米断口段(1)根部固定于不可动平台(3)上，前端的剪断面朝向探针(2)。4.根据权利要求1所述的一种金属纳米线材料的原位制备
‑
测试一体化装置，其特征在于：所述探针(2)由金属线前端倾斜剪断得到，剪断后前端形成一个针尖；探针(2)根部固定在金属帽可移动端(4)，探针(2)针尖端朝向纳米断口段(1)。5.采用权利要求1～4任一所述装置的原位制备
‑
测试一体化的方法，其特征在于，包括以下步骤：1)原位样品清洗：在力学
‑
电学单倾样品杆上分别装载纳米断口段(1)与探针(2)，将装载完成的力学
‑
电学单倾样品杆置于Ar等离子清洗仪中清洗，...

【专利技术属性】
技术研发人员：王江伟，何梓荐，祝祺，陈映彬，张泽，
申请(专利权)人：浙江大学，
类型：发明
国别省市：