一种进入芯片测试模式的方法、系统及电子设备技术方案

本发明专利技术公开了一种进入芯片测试模式的方法、系统及电子设备，通过本申请所提供的方法，在编码过程以及解码过程中使用了BMC编码/解码以及4b5b编码/解码，通过该BMC编码/解码以及4b5b编码/解码的报文数据只需要占用一个数字Pad，并且通过该方式可以实现测试模式的任意切换。意切换。意切换。

【技术实现步骤摘要】
一种进入芯片测试模式的方法、系统及电子设备


[0001]本申请涉及芯片测试
，尤其涉及一种进入芯片测试模式的方法、系统及电子设备。

技术介绍

[0002]芯片(Integrated Circuit，IC)，也称为集成电路，是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。
[0003]在芯片封装完成之后，出厂之前，还需要对芯片进行芯片测试，以计算芯片的参数，判断芯片是否合格，芯片测试是保证出厂的每一颗芯片都满足芯片的规格要求的必要手段，为了便于芯片的测试，并且减少芯片的测试时间，节约测试成本，需要在芯片内部设计芯片测试模式进入系统，在芯片进入测试模式后对芯片的各项特性参数进行测试，芯片测试模式进入系统不能影响芯片的正常工作。
[0004]当前进入芯片测试模式的方式很多，有GPIO Pad输入模式，I2C配置模式以及EJTAG配置模式，但是这几种进入芯片测试模式的方式都需要本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种进入芯片测试模式的方法，其特征在于，所述方法包括：对芯片中的报文数据进行双向符号编码BMC解码，得到第一解码数据；对所述第一解码数据进行设定解码，得到第二解码数据；对所述第二解码数据进行循环冗余CRC校验，得到测试控制模式数据；根据所述测试控制模式数据，进入芯片测试模式。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在对芯片中的报文数据进行双向符号编码BMC解码，得到第一解码数据之前，所述的方法还包括：对待输入芯片的测试模式控制数据进行CRC校验，并在校验完成后进行所述设定编码，得到第一编码数据；对所述第一编码数据进行BMC编码，得到第二编码数据；在所述第二编码数据中插入数据包开始标识以及数据包结束标识，生成所述报文数据。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述第一解码数据进行设定解码，得到第二解码数据，包括：在所述第一解码数据查找出数据包开始标识；在所述数据包开始标识位对所述第一解码数据进行设定解码，得到第二解码数据。4.如权利要求1
‑
3中任一权项所述的方法，其特征在于，所述设定解码为4b5b解码。5.一种进入芯片测试模式的系统，其特征在于，所述系统包括：第一解码单元，用于对芯片中的报文数据进行双向符号编码BMC解码，得到第一解码数据；第二解码单元，用于对所述第一解码数据进...

【专利技术属性】
技术研发人员：金瑜军，张浩亮，丁锐，马炜华，
申请(专利权)人：珠海海奇半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：