一种三十二路选通测量电路及设备制造技术

本实用新型专利技术属于测量技术领域，具体涉及一种三十二路选通测量电路及设备，包括：计算机、MCU电路、选通切换电路、分压电路以及电阻测量供电电路；所述计算机与所述MCU电路连接，所述计算机用于控制所述MCU电路；所述分压电路分别与所述MCU电路、选通切换电路以及电阻测量供电电路连接；所述选通切换电路与被测产品连接。通过三十二路选通对于电压、电阻的测量可以直接由单片机完成，大大提高了测试效率。大大提高了测试效率。大大提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种三十二路选通测量电路及设备


[0001]本技术涉及测试
，尤其是涉及一种三十二路选通测量电路及设备。

技术介绍

[0002]随着制造自动化的程度不断提高，对于生产产品的电压及电阻测试已慢慢的转入了自动化，而现有的测试方式为将测试点通过切换，连接到一台测量设备上进行测试，这种测试方式这种测试方式需要控制通道切换设备和测量设备进行配合使用，测试速度慢，效率低，而且设备成本较高，并且常规的切换过程都是使用继电器的切换方法，长时间工作后，很容易出现接触不良，导致测试结果不准确的情况。

技术实现思路

[0003]为了克服
技术介绍
中的不足，本技术提供了以下技术方案：
[0004]第一方面，本技术提供一种三十二路选通测量电路，包括：计算机、MCU电路、选通切换电路、分压电路以及电阻测量供电电路；
[0005]所述计算机与所述MCU电路连接，所述计算机用于控制所述MCU电路；
[0006]所述分压电路分别与所述MCU电路、选通切换电路以及电阻测量供电电路连接；
[0007]所述选通切换电路与被测产品连接。
[0008]进一步地，所述选通切换电路包括32路测量通道。
[0009]进一步地，每一路所述测量通道都包括光耦MOS管以及与所述光耦MOS管连接的第一MOS管和第二MOS管，所述第一MOS管的源极与被测产品连接，所述第一MOS管的漏极与所述第二MOS管的源极连接，所述第二MOS管的漏极与所述分压电路连接。
[0010]进一步地，所述MCU电路包括主控芯片和对接端口，所述主控芯片通过所述对接端口与测量通道连接。
[0011]进一步地，所述主控芯片型号为STM32G431CBU6。
[0012]进一步地，所述分压电路包括第一运算放大器，所述第一运算放大器用于单端对地直流电压的测量。
[0013]进一步地，所述分压电路还包括第二运算放大器，所述第二运算放大器与所述第一运算放大器连接，所述第一运算放大器和所述第二运算放大器用于交流电压的测量。
[0014]第二方面，本技术提供一种三十二路选通测量设备，包括如第一方面任一项所述的三十二路选通测量电路。
[0015]本申请采用以上技术方案，至少具备以下有益效果：
[0016]本技术提供的一种三十二路选通测量电路，包括：计算机、MCU电路、选通切换电路、分压电路以及电阻测量供电电路；所述计算机与所述MCU电路连接，所述计算机用于控制所述MCU电路；所述分压电路分别与所述MCU电路、选通切换电路以及电阻测量供电电路连接；所述选通切换电路与被测产品连接。通过三十二路选通对于电压、电阻的测量可以直接由单片机完成，大大提高了测试效率。
附图说明
[0017]图1为本技术一个实施例中一种三十二路选通测量电路结构框图。
[0018]图2为本技术一个实施例中选通切换电路图。
[0019]图3为本技术一个实施例中MCU电路图。
[0020]图4为本技术一个实施例中分压电路图。
[0021]图5为本技术一个实施例中电阻测量供电电路。
[0022]图6为本技术一个实施例中模块供电电路。
具体实施方式
[0023]通过下面的实施例可以详细的解释本技术，公开本技术的目的旨在保护本技术范围内的一切技术改进。
[0024]本技术未详述部分为现有技术，尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本技术，具体实现该技术方案方法和途径很多，以上所述仅是本技术的优选实施方式，但所属领域的技术人员应该明白，在不脱离所附权利要求书所限定的本技术的精神和范围内，在形式上和细节上可以对本技术做出各种变化，均为本技术的保护范围。
[0025]针对相关技术，通常会有多个点的电压或电阻需要进行测试，现有的测试方式为将测试点通过切换，连接到一台测量设备上进行测试，这种测试方式需要控制通道切换设备和测量设备进行配合使用，测试速度慢，效率低，而且设备成本较高，并且常规的切换过程都是使用继电器的切换方法，长时间工作后，很容易出现接触不良，导致测试结果不准确的情况。本技术提供一种三十二路选通测量电路，图1为本技术一个实施例中一种三十二路选通测量电路结构示意图，如图1所示，包括：计算机1、MCU电路2、选通切换电路3、分压电路4以及电阻测量供电电路5；
[0026]所述计算机1与所述MCU电路2连接，所述计算机1用于控制所述MCU电路2；
[0027]所述分压电路4分别与所述MCU电路2、选通切换电路3以及电阻测量供电电路5连接；
[0028]所述选通切换电路3与被测产品连接。
[0029]本技术技术方案的工作原理为，被测产品的测试端连接于通道切换电路的端口上，电压测试时，通过计算机通知MCU电路控制要测试的通道连接到分压电路，最后再连接致MCU电路上进行测量分析并给出结果反馈给计算机；电阻测试时，通过计算机通知MCU电路控制电阻测量供电电路进行供电，再控制要测试的通道连接到分压电路，最后再连接致MCU电路上进行测量分析并给出结果反馈给计算机。
[0030]可以理解为，本技术提供的一种三十二路选通测量电路，包括：计算机、MCU电路、选通切换电路、分压电路以及电阻测量供电电路；所述计算机与所述MCU电路连接，所述计算机用于控制所述MCU电路；所述分压电路分别与所述MCU电路、选通切换电路以及电阻测量供电电路连接；所述选通切换电路与被测产品连接。通过三十二路选通对于电压、电阻的测量可以直接由单片机完成，大大提高了测试效率。
[0031]在一个实施例中，请参阅图2，图2是本技术一个实施例中选通切换电路图，如图2所示，
[0032]所述选通切换电路包括32路测量通道。
[0033]具体地，每一路所述测量通道都包括光耦MOS管以及与所述光耦MOS管连接的第一MOS管和第二MOS管，所述第一MOS管的源极与被测产品连接，所述第一MOS管的漏极与所述第二MOS管的源极连接，所述第二MOS管的漏极与所述分压电路连接。
[0034]在一个实施例中，请参阅图3，图3是本技术一个实施例中MCU电路图，如图3所示，所述MCU电路包括主控芯片和对接端口，所述主控芯片通过所述对接端口与测量通道连接。主控芯片型号为STM32G431CBU6。
[0035]在一个实施例中，请参阅图4，图4是本技术一个实施例中分压电路图，如图4所示，所述分压电路包括第一运算放大器，所述第一运算放大器用于单端对地直流电压的测量。
[0036]一些实施例中，所述分压电路还包括第二运算放大器，所述第二运算放大器与所述第一运算放大器连接，所述第一运算放大器和所述第二运算放大器用于交流电压的测量。
[0037]在一个实施例中，测量单端对地直流电压原理为：
[0038]以测量MeasCh1连接的对地电压为例，被测电压的地连接于MC本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种三十二路选通测量电路，其特征在于，包括：计算机、MCU电路、选通切换电路、分压电路以及电阻测量供电电路；所述计算机与所述MCU电路连接，所述计算机用于控制所述MCU电路；所述分压电路分别与所述MCU电路、选通切换电路以及电阻测量供电电路连接；所述选通切换电路与被测产品连接。2.根据权利要求1所述的三十二路选通测量电路，其特征在于，所述选通切换电路包括32路测量通道。3.根据权利要求2所述的三十二路选通测量电路，其特征在于，每一路所述测量通道都包括光耦MOS管以及与所述光耦MOS管连接的第一MOS管和第二MOS管，所述第一MOS管的源极与被测产品连接，所述第一MOS管的漏极与所述第二MOS管的源极连接，所述第二MOS管的漏极与所述分压电路连接。4.根据权利要求1所述的三...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭武，
申请(专利权)人：东莞市卓品电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：