一种飞针测试点校准装置及方法制造方法及图纸

本申请公开了一种飞针测试点校准装置及方法，该装置包括：PCB光板、飞针测试设备、蓝印纸、第一飞针测试点图纸、第二飞针测试点图纸和固定夹，PCB光板上从下往上依次平铺有第一飞针测试点图纸、蓝印纸、第二飞针测试点图纸。该方法包括：对所有待测的飞针测试点进行编号，获取测试点编号；根据测试点编号、飞针测试点的坐标以及飞针测试点所在PCB主板的MARK点坐标，生成第一测试点图纸和第二测试点图纸；搭建测试环境；对所有待测的飞针测试点进行飞针测试，获取测试点扎痕位置；根据实际下针位置和目标下针位置的偏差，以及测试点编号，对飞针测试点的下针位置进行校准。通过本申请，能够有效提高飞针测试点校准的精确度。能够有效提高飞针测试点校准的精确度。能够有效提高飞针测试点校准的精确度。

【技术实现步骤摘要】
一种飞针测试点校准装置及方法


[0001]本申请涉及测试程序开发
，特别是涉及一种飞针测试点校准装置及方法。

技术介绍

[0002]随着电子技术的发展，飞针测试在PCBA(Printed Circuit Board Assembly，PCB空板经过SMT上件，或经过DIP插件的整个制程)生产过程中越来越普遍。尤其在下批量试制过程中，飞针测试通用性强，测试程序开发时间短，成本低，可测率高。由于飞针测试过程中可能存在测试点扎偏的情况，探针扎到零件本体或PCB主板上，可能会把零件本体或PCB(Printed Circuit Board，印刷电路板)主板扎坏，因此，需要对飞针测试的测试点进行校准。
[0003]目前对飞针测试的测试点进行校准的方法，通常是：飞针设备根据板子的MARK(电路板设计中PCB应用于自动贴片机上的位置识别点)点定位测试用PCB板的位置，飞针测试软件读取CAD档案，设定下针位置在各类测试点坐标中心位置，然后，开发人员根据拍摄的照片进行人工校准，选择下针位置。
[0004]然而，目前对飞针测试的测试点进行校准的方法，在实际测试中会受PCB板的公差形变影响，且采用人工校准方式有出现误操作的概率，最终使得部分测试点的下针位置会偏离理想位置，导致测试结果准确性较差。

技术实现思路

[0005]本申请提供了一种飞针测试点校准装置及方法，以解决现有技术中的飞针测试点校准方式使得飞针测试结果准确性较差的问题。
[0006]为了解决上述技术问题，本申请实施例公开了如下技术方案：
[0007]一种飞针测试点校准装置，所述装置包括：PCB光板、飞针测试设备、蓝印纸、第一飞针测试点图纸、第二飞针测试点图纸和固定夹，所述PCB光板中没有置件，所述飞针测试设备中内置有飞针测试软件，所述PCB光板上从下往上依次平铺有第一飞针测试点图纸、蓝印纸、第二飞针测试点图纸，且所述第一飞针测试点图纸上的所有测试点与PCB光板上的测试点重合，所述蓝印纸分别与第一飞针测试点图纸、第二飞针测试点图纸紧密平整贴合，所述飞针测试设备通过探针经由第二飞针测试点图纸、蓝印纸、第一飞针测试点图纸与PCB光板连接，所述固定夹用于固定PCB光板、第一飞针测试点图纸、蓝印纸和第二飞针测试点图纸，其中，所述第一测试点图纸和第二测试点图纸完全相同，且根据飞针测试点的位置以及所述飞针测试点所在PCB主板的位置确定。
[0008]可选地，所述飞针测试软件中设定禁飞区域，所述禁飞区域内禁止探针测试，且所述固定夹位于禁飞区域内。
[0009]可选地，所述第一测试点图纸和第二测试点图纸根据飞针测试点的坐标以及所述飞针测试点所在PCB主板的MARK点坐标生成，且所述第一测试点图纸和第二测试点图纸中
标注有测试点编号。
[0010]可选地，所述固定夹包括完全相同的第一固定夹和第二固定夹，第一固定夹和第二固定夹在平行于PCB光板的方向上对称放置，所述第一固定夹和第二固定夹的下侧分别与PCB光板接触，所述第一固定夹和第二固定夹的上侧分别与第二飞针测试点图纸接触，且第一固定夹和第二固定夹在垂直于PCB光板的方向上设置于第二测试点图纸的最外侧测试点与PCB光板的工艺边之间。
[0011]一种飞针测试点校准方法，所述方法应用于如上任一所述的一种飞针测试点校准装置，所述方法包括：
[0012]对所有待测的飞针测试点进行编号，获取测试点编号；
[0013]根据所述测试点编号、飞针测试点的坐标以及所述飞针测试点所在PCB主板的MARK点坐标，生成第一测试点图纸和第二测试点图纸，所述第一测试点图纸和第二测试点图纸上的测试点位置为目标下针位置；
[0014]根据所述第一测试点图纸和第二测试点图纸，搭建测试环境；
[0015]根据所获取的测试指令，对所有待测的飞针测试点进行飞针测试，获取测试点扎痕位置，所述测试点扎痕位置为实际下针位置；
[0016]根据实际下针位置和目标下针位置的偏差，以及测试点编号，对飞针测试点的下针位置进行校准。
[0017]可选地，所述第一测试点图纸和第二测试点图纸上的测试点坐标、图案尺寸与PCB主板上的测试点坐标、图案尺寸分别一致。
[0018]可选地，根据所述测试点编号、飞针测试点的坐标以及所述飞针测试点所在PCB主板的MARK点坐标，生成第一测试点图纸和第二测试点图纸，包括：
[0019]根据飞针测试点的CAD档案生成测试程序；
[0020]运行所述测试程序，读取飞针测试点的坐标以及所述飞针测试点所在PCB主板的MARK点坐标；
[0021]根据测试点编号、飞针测试点的坐标以及所述飞针测试点所在PCB主板的MARK点坐标，生成第一测试点图纸和第二测试点图纸。
[0022]可选地，根据所述第一测试点图纸和第二测试点图纸，搭建测试环境的方法，包括：
[0023]利用固定夹对校准模块进行固定，所述校准模块包括：PCB光板、第一飞针测试点图纸、蓝印纸以及第二飞针测试点图纸；
[0024]将所述校准模块放置于飞针轨道的测试区域。
[0025]可选地，所述方法还包括：
[0026]根据固定夹的高度，设定禁飞区域，所述禁飞区域内禁止探针测试，且所述固定夹位于禁飞区域内。
[0027]本申请的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：
[0028]本申请提供一种飞针测试点校准装置，该装置主要包括：PCB光板、飞针测试设备、蓝印纸、第一飞针测试点图纸、第二飞针测试点图纸和固定夹。PCB光板、蓝印纸、第一飞针测试点图纸、第二飞针测试点图纸组成校准模块，固定夹用于固定校准模块，飞针测试设备中内置有飞针测试软件，执行飞针测试。本实施例中，第一测试点图纸和第二测试点图纸完
全相同，且根据飞针测试点的位置以及所述飞针测试点所在PCB主板的位置确定，第一测试点图纸和第二测试点图纸上的测试点位置为理想的目标下针位置。本实施例的校准模块中，PCB光板上从下往上依次平铺有第一飞针测试点图纸、蓝印纸、第二飞针测试点图纸。通过这种结构设计，在飞针测试时，当探针扎在PCB光板上面时，能够通过蓝印纸在第一测试点图纸上留下清晰的蓝色扎痕，直观显示探针扎在测试焊盘上的实际下针位置，从而大大提高飞针测试点校准的准确性。第一测试点图纸和第二测试点图纸的设置，能够保持PCB板的清洁度，从而延长校准装置的使用寿命。
[0029]另外，本实施例通过飞针测试软件对测试点编号进行标记，定位到需要校准的飞针测试点之后，能够利用测试点编号对下针位置进行快速修改，有利于提高测试点校准效率。本实施例采用没有置件的PCB光板代替测试用PCB主板，既能够确保第一飞针测试点图纸与PCB光板的紧密贴合，从而提高飞针测试点校准的准确度，又避免置件、上锡以及工艺切边等工序，还能够重复利用，有利于节省大量成本，便于推广使用。
[0030]固定夹的设置，能够有效固定校准模块，避免第一飞针测试点图纸、第二测试点图纸以及PCB光板上的测试点错开本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种飞针测试点校准装置，其特征在于，所述装置包括：PCB光板、飞针测试设备、蓝印纸、第一飞针测试点图纸、第二飞针测试点图纸和固定夹，所述PCB光板中没有置件，所述飞针测试设备中内置有飞针测试软件，所述PCB光板上从下往上依次平铺有第一飞针测试点图纸、蓝印纸、第二飞针测试点图纸，且所述第一飞针测试点图纸上的所有测试点与PCB光板上的测试点重合，所述蓝印纸分别与第一飞针测试点图纸、第二飞针测试点图纸紧密平整贴合，所述飞针测试设备通过探针经由第二飞针测试点图纸、蓝印纸、第一飞针测试点图纸与PCB光板连接，所述固定夹用于固定PCB光板、第一飞针测试点图纸、蓝印纸和第二飞针测试点图纸，其中，所述第一测试点图纸和第二测试点图纸完全相同，且根据飞针测试点的位置以及所述飞针测试点所在PCB主板的位置确定。2.根据权利要求1所述的一种飞针测试点校准装置，其特征在于，所述飞针测试软件中设定禁飞区域，所述禁飞区域内禁止探针测试，且所述固定夹位于禁飞区域内。3.根据权利要求1所述的一种飞针测试点校准装置，其特征在于，所述第一测试点图纸和第二测试点图纸根据飞针测试点的坐标以及所述飞针测试点所在PCB主板的MARK点坐标生成，且所述第一测试点图纸和第二测试点图纸中标注有测试点编号。4.根据权利要求1所述的一种飞针测试点校准装置，其特征在于，所述固定夹包括完全相同的第一固定夹和第二固定夹，第一固定夹和第二固定夹在平行于PCB光板的方向上对称放置，所述第一固定夹和第二固定夹的下侧分别与PCB光板接触，所述第一固定夹和第二固定夹的上侧分别与第二飞针测试点图纸接触，且第一固定夹和第二固定夹在垂直于PCB光板的方向上设置于第二测试点图纸的最外侧测试点与PCB光板的工艺边之间。5.一种飞针测试点校准方法，其特征在于，所述方法应用于权利要求1
‑
4中任一所述的一种飞针...

【专利技术属性】
技术研发人员：李强，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：