本发明专利技术涉及光学元件质量检测技术领域，提出一种基于折射数据的透镜质量分析方法包括：获取待检测透镜的标准参数，并识别所述待检测透镜的光轴向量；根据所述光轴向量，对所述待检测透镜发射激光；记录激光发生器在根据预设的滑动规则移动时对所述待检测透镜发射激光产生的光斑位置及光压强度，得到光斑移动曲线及光压变化曲线；根据所述标准参数对预训练的光压变化识别模型进行参数配置，得到符合所述待检测透镜的透镜类型的光压变化识别模型，并利用所述光压变化识别模型，对所述光斑移动曲线及所述光压变化曲线进行折射数据匹配，得到所述待检测透镜的质量检测结果。本发明专利技术可以能同时对于透镜内部及外部进行质量检测。同时对于透镜内部及外部进行质量检测。同时对于透镜内部及外部进行质量检测。
【技术实现步骤摘要】
基于折射数据的透镜质量分析方法、装置、设备及介质
[0001]本专利技术涉及光学元件质量检测
，特别涉及一种基于折射数据的透镜质量分析方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
[0002]随着人类对世界的探索及机器视觉的不断发展，人们对光学元件的要求也越来越高，目前常见的透镜质量分析方法是通过图像机器识别或人眼识别的方式对透镜的光学显微图像进行观察，发现透镜的污渍、划痕等微小痕迹，从而对透镜质量进行把控，然而这检测方式只能观测到透镜表面的质量问题，却不能识别透镜的内在质量问题。
[0003]近年来为了光学元件在不同环境的适应性，透镜材料中也添加各种各样的高分子或稀有元素，透镜元素量级的改变，使得图像分析的透镜检测方式无法检测出透镜材料、使用效果分布不均匀，造成透镜折射率及特殊效果分布不均匀的问题。
技术实现思路
[0004]本专利技术实施方式的目的在于提供一种基于折射数据的透镜质量分析方法、装置，其目的在于同时对于透镜内部及外部进行质量检测。
[0005]为解决上述技术问题，本专利技术的实施方式提供了一种基于折射数据的透镜质量分析方法，所述方法包括：获取待检测透镜的标准参数，并识别所述待检测透镜的光轴向量；根据所述光轴向量，利用预构建的激光发生器，对所述待检测透镜发射激光；利用预构建的垂直于所述光轴向量的光感元件，记录所述激光发生器在根据预设的滑动规则移动时对所述待检测透镜发射激光产生的光斑位置及光压强度，得到光斑移动曲线及光压变化曲线；根据所述标准参数对预训练的光压变化识别模型进行参数配置，得到符合所述待检测透镜的透镜类型的光压变化识别模型，并利用所述光压变化识别模型，对所述光斑移动曲线及所述光压变化曲线进行折射数据匹配，得到所述待检测透镜的质量检测结果。
[0006]可选的，所述利用所述光压变化识别模型，对所述光斑移动曲线及所述光压变化曲线进行折射数据匹配，得到所述待检测透镜的质量检测结果，包括：获取所述待检测透镜对应的模拟的光压热力图谱，并利用所述光压变化识别模型中的图像识别网络层对所述光压热力图谱进行图像特征提取操作，得到第一特征集合；利用所述图像识别网络层，分别对所述光斑移动曲线及所述光压变化曲线进行曲线特征提取操作，得到第二特征集合及第三特征集合；利用所述光压变化识别模型中的决策树分类网络，根据所述第一特征集合、所述第二特征集合及所述第三特征集合，判断所述光斑移动曲线及所述光压变化曲线是否平滑，并判断所述光斑移动曲线上的光压强度是否符合所述光压热力图谱；当所述光斑移动曲线及所述光压变化曲线平滑，且所述光斑移动曲线上的光压强
度符合所述光压热力图谱时，判定所述待检测透镜的质量合格。
[0007]可选的，所述根据所述标准参数对预训练的光压变化识别模型进行参数配置，得到符合所述待检测透镜的透镜类型的光压变化识别模型，包括：对所述标准参数进行量化编码，得到量化参数；利用所述光压变化识别模型中的建模网络，根据所述量化参数，构建虚拟透镜，并根据所述建模网络中的折射算法，计算所述虚拟透镜被预设强度的平行光照射下的光压热力图谱；将所述光压热力图谱导入所述光压变化识别模型的图像识别网络层中，得到符合所述待检测透镜的透镜类型的光压变化识别模型。
[0008]可选的，所述利用预构建的垂直于所述光轴向量的光感元件，记录所述激光发生器在根据预设的滑动规则移动时对所述待检测透镜发射激光产生的光斑位置及光压强度，包括：获取激光透过所述待检测透镜后在所述光感元件上显示的光斑的位置坐标，得到所述光斑位置；利用所述光感元件上的分光镜将所述激光发生器生成的激光进行分光操作，得到第一分光及第二分光；将所述第一分光导入预构建的高反射率薄膜，得到二次反射光；根据所述二次反射光及所述第二分光，得到薄膜形变光程差，并根据预设的参数系数及所述薄膜形变光程差，计算得到光压强度。
[0009]可选的，所述识别所述待检测透镜的光轴向量，包括：利用多个激光发生器对所述待检测透镜进行角度、位置变化照射，记录激光折射角度；获取所述激光折射角为零时所述激光发生器的激光发生向量作为所述待检测透镜的光轴向量。
[0010]为了解决上述问题，本专利技术还提供一种基于折射数据的透镜质量分析装置，所述装置包括：基本参数获取模块，用于根据所述光轴向量，利用预构建的激光发生器，对所述待检测透镜发射激光；激光发生模块，用于根据所述光轴向量，利用预构建的激光发生器，对所述待检测透镜发射激光；折射数据记录模块，用于利用预构建的垂直于所述光轴向量的光感元件，记录所述激光发生器在根据预设的滑动规则移动时对所述待检测透镜发射激光产生的光斑位置及光压强度，得到光斑移动曲线及光压变化曲线；模型检测质量模块，用于根据所述标准参数对预训练的光压变化识别模型进行参数配置，得到符合所述待检测透镜的透镜类型的光压变化识别模型，并利用所述光压变化识别模型，对所述光斑移动曲线及所述光压变化曲线进行折射数据匹配，得到所述待检测透镜的质量检测结果。
[0011]可选的，所述利用所述光压变化识别模型，对所述光斑移动曲线及所述光压变化曲线进行折射数据匹配，得到所述待检测透镜的质量检测结果，包括：
获取所述待检测透镜对应的模拟的光压热力图谱，并利用所述光压变化识别模型中的图像识别网络层对所述光压热力图谱进行图像特征提取操作，得到第一特征集合；利用所述图像识别网络层，分别对所述光斑移动曲线及所述光压变化曲线进行曲线特征提取操作，得到第二特征集合及第三特征集合；利用所述光压变化识别模型中的决策树分类网络，根据所述第一特征集合、所述第二特征集合及所述第三特征集合，判断所述光斑移动曲线及所述光压变化曲线是否平滑，并判断所述光斑移动曲线上的光压强度是否符合所述光压热力图谱；当所述光斑移动曲线及所述光压变化曲线平滑，且所述光斑移动曲线上的光压强度符合所述光压热力图谱时，判定所述待检测透镜的质量合格。
[0012]可选的，所述根据所述标准参数对预训练的光压变化识别模型进行参数配置，得到符合所述待检测透镜的透镜类型的光压变化识别模型，包括：对所述标准参数进行量化编码，得到量化参数；利用所述光压变化识别模型中的建模网络，根据所述量化参数，构建虚拟透镜，并根据所述建模网络中的折射算法，计算所述虚拟透镜被预设强度的平行光照射下的光压热力图谱；将所述光压热力图谱导入所述光压变化识别模型的图像识别网络层中，得到符合所述待检测透镜的透镜类型的光压变化识别模型。
[0013]为了解决上述问题，本专利技术还提供一种电子设备，所述电子设备包括：至少一个处理器；以及，与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行上述所述的基于折射数据的透镜质量分析方法。
[0014]为了解决上述问题，本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有至少一个计算机程序，所述至少一个计算机程序被电子设备中的处理器执行以实现上述所述的基于折射数据的透镜质量分析方法。<本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于折射数据的透镜质量分析方法，其特征在于，所述方法包括：获取待检测透镜的标准参数，并识别所述待检测透镜的光轴向量；根据所述光轴向量，利用预构建的激光发生器，对所述待检测透镜发射激光；利用预构建的垂直于所述光轴向量的光感元件，记录所述激光发生器在根据预设的滑动规则移动时对所述待检测透镜发射激光产生的光斑位置及光压强度，得到光斑移动曲线及光压变化曲线；根据所述标准参数对预训练的光压变化识别模型进行参数配置，得到符合所述待检测透镜的透镜类型的光压变化识别模型，并利用所述光压变化识别模型，对所述光斑移动曲线及所述光压变化曲线进行折射数据匹配，得到所述待检测透镜的质量检测结果。2.如权利要求1所述的基于折射数据的透镜质量分析方法，其特征在于，所述利用所述光压变化识别模型，对所述光斑移动曲线及所述光压变化曲线进行折射数据匹配，得到所述待检测透镜的质量检测结果，包括：获取所述待检测透镜对应的模拟的光压热力图谱，并利用所述光压变化识别模型中的图像识别网络层对所述光压热力图谱进行图像特征提取操作，得到第一特征集合；利用所述图像识别网络层，分别对所述光斑移动曲线及所述光压变化曲线进行曲线特征提取操作，得到第二特征集合及第三特征集合；利用所述光压变化识别模型中的决策树分类网络，根据所述第一特征集合、所述第二特征集合及所述第三特征集合，判断所述光斑移动曲线及所述光压变化曲线是否平滑，并判断所述光斑移动曲线上的光压强度是否符合所述光压热力图谱；当所述光斑移动曲线及所述光压变化曲线平滑，且所述光斑移动曲线上的光压强度符合所述光压热力图谱时，判定所述待检测透镜的质量合格。3.如权利要求1所述的基于折射数据的透镜质量分析方法，其特征在于，所述根据所述标准参数对预训练的光压变化识别模型进行参数配置，得到符合所述待检测透镜的透镜类型的光压变化识别模型，包括：对所述标准参数进行量化编码，得到量化参数；利用所述光压变化识别模型中的建模网络，根据所述量化参数，构建虚拟透镜，并根据所述建模网络中的折射算法，计算所述虚拟透镜被预设强度的平行光照射下的光压热力图谱；将所述光压热力图谱导入所述光压变化识别模型的图像识别网络层中，得到符合所述待检测透镜的透镜类型的光压变化识别模型。4.如权利要求1所述的基于折射数据的透镜质量分析方法，其特征在于，所述利用预构建的垂直于所述光轴向量的光感元件，记录所述激光发生器在根据预设的滑动规则移动时对所述待检测透镜发射激光产生的光斑位置及光压强度，包括：获取激光透过所述待检测透镜后在所述光感元件上显示的光斑的位置坐标，得到所述光斑位置；利用所述光感元件上的分光镜将所述激光发生器生成的激光进行分光操作，得到第一分光及第二分光；将所述第一分光导入预构建的高反射率薄膜，得到二次反射光；根据所述二次反射光及所述第二分光，得到薄膜形变光程差，并根据预设的参数系数
及所述薄膜形变光程差，计算得到光压强度。5.如权利要求1所述的基于折射数据的透镜质量分析方法，其特征在于，所述识别所述待检测透镜的光轴向量，包括：利用多个激光发生器对所述待...
【专利技术属性】
技术研发人员：洪涌钦，
申请(专利权)人：深圳市润之汇实业有限公司，
类型：发明
国别省市：
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