本发明专利技术涉及服务器测试技术领域，具体涉及一种测试治具，包括测试平台和支撑装置，主板适于可拆卸地装设在所述测试平台上，转接卡的一端适于垂直连接在所述主板上，PCIE卡的一端设有金手指，所述金手指适于可拆卸地插接在所述转接卡上远离所述主板的一端；支撑装置包括连接结构和支撑结构，所述连接结构与所述转接卡连接，并位于所述转接卡的侧部，所述连接结构的底端适于与所述主板和/或所述测试平台抵接；所述支撑结构凸出连接在所述连接结构上靠近所述转接卡的一侧，并适于支撑所述PCIE卡。本发明专利技术提供的测试治具，可支撑板卡以规避损坏风险的测试治具。风险的测试治具。风险的测试治具。
【技术实现步骤摘要】
测试治具
[0001]本专利技术涉及服务器测试
，具体涉及一种测试治具。
技术介绍
[0002]服务器的主板通常会搭配PCIE卡和PCIE卡的转接卡(即Riser卡)进行使用。一般情况下，服务器中的转接卡垂直连接在主板上，PCIE卡通过金手指端插接在转接卡上，服务器内设有结构件对PCIE卡的其他部位进行支撑。在服务器类新产品的开发阶段，需要在实验室的环境中对主板进行裸板调试，部分测试中需要连接好转接卡和PCIE卡进行调试，PCIE卡呈悬臂状态悬空连接在主板的上方，对板卡本身以及PCIE卡的金手指都有较大的损坏风险。
技术实现思路
[0003]因此，本专利技术要解决的技术问题在于克服现有技术中的裸板调试时板卡本身及金手指存在损坏风险的缺陷，从而提供一种可支撑板卡以规避损坏风险的测试治具。
[0004]为了解决上述问题，本专利技术提供了一种测试治具，包括测试平台和支撑装置，主板适于可拆卸地装设在所述测试平台上，转接卡的一端适于垂直连接在所述主板上，PCIE卡的一端设有金手指，所述金手指适于可拆卸地插接在所述转接卡上远离所述主板的一端；支撑装置包括连接结构和支撑结构，所述连接结构与所述转接卡连接，并位于所述转接卡的侧部，所述连接结构的底端适于与所述主板和/或所述测试平台抵接；所述支撑结构凸出连接在所述连接结构上靠近所述转接卡的一侧，并适于支撑所述PCIE卡。
[0005]本专利技术提供的测试治具，还包括滑动结构，所述滑动结构与所述连接结构沿与所述主板垂直的方向可滑动地连接，所述支撑结构与所述滑动结构连接。
[0006]本专利技术提供的测试治具，所述滑动结构包括两条第一滑孔、滑板和两组第一卡扣，两条第一滑孔平行设置在所述连接结构的两端；滑板与所述支撑结构连接；两组第一卡扣分别连接在所述滑板的两端，并与两条所述第一滑孔滑动卡接。
[0007]本专利技术提供的测试治具，还包括限位结构，所述限位结构与所述滑动结构连接，适于将所述滑动结构限位在所述连接结构上的相应高度上。
[0008]本专利技术提供的测试治具，所述限位结构包括多个限位槽、和弹性卡条；多个限位槽沿与所述主板垂直的方向分布；弹性卡条的一端与所述滑板连接，另一端可插拔的设置在所述限位槽内。
[0009]本专利技术提供的测试治具，所述滑板上设有第二滑孔，所述第二滑孔为矩形长孔，所述第二滑孔的长度方向与所述主板平行，所述支撑结构上设有第二卡扣，所述第二卡扣可滑动地卡接在所述第二滑孔处。
[0010]本专利技术提供的测试治具，所述支撑结构包括卡接板、和支撑板；卡接板的一侧设有所述第二卡扣；支撑板的一端与所述卡接板的一端垂直连接，另一端向远离所述第二卡扣的方向延伸。
[0011]本专利技术提供的测试治具，所述连接结构包括连接板、第一连接组件和第二连接组件，连接板与所述支撑结构连接；第一连接组件的一端与所述连接板的顶部连接，另一端设置在所述转接卡的上方，并与所述转接卡的顶端连接；第二连接组件连接在所述连接板的侧部，所述第二连接组件的底端与所述主板抵接。
[0012]本专利技术提供的测试治具，所述转接卡的顶端设有第一连接孔和第二连接孔，所述第一连接组件包括第一连接筒、第一连接柱、滑轨、第一连接部和第二连接部；第一连接筒的一端与所述连接板的顶部连接，另一端设置在所述转接卡的上方，所述第一连接筒朝向所述转接卡的一侧沿所述第一连接筒的轴向设有开口；第一连接柱沿所述第一连接筒的轴向可滑动地设置在所述第一连接筒处；滑轨沿所述第一连接筒的长度方向延伸，一端穿过所述开口与所述第一连接柱连接，另一端位于所述第一连接筒的外部；第一连接部由所述滑轨的另一端向远离所述第一连接柱的方向延伸而出，并适于与所述第一连接孔连接；第二连接部的一端可滑动地连接在所述滑轨的另一端，另一端适于与所述第二连接孔连接。
[0013]本专利技术提供的测试治具，所述第二连接组件包括第二连接筒、第二连接柱和紧固件；第二连接筒连接在所述连接板的侧部，且所述第二连接筒的轴向与所述主板垂直；所述第二连接筒上设有限位孔；第二连接柱沿所述第二连接筒的轴向可滑动地设置在所述第二连接筒处，所述第二连接柱的底端适于与所述主板和/或测试平台抵接；紧固件连接在所述限位孔处，适于通过所述限位孔与所述第二连接柱配合。
[0014]本专利技术具有以下优点：
[0015]1.本专利技术提供的测试治具，包括测试平台和支撑装置，主板适于可拆卸地装设在所述测试平台上，转接卡的一端适于垂直连接在所述主板上，PCIE卡的一端设有金手指，所述金手指适于可拆卸地插接在所述转接卡上远离所述主板的一端；支撑装置包括连接结构和支撑结构，所述连接结构与所述转接卡连接，并位于所述转接卡的侧部，所述连接结构的底端适于与所述主板和/或所述测试平台抵接；所述支撑结构凸出连接在所述连接结构上靠近所述转接卡的一侧，并适于支撑所述PCIE卡。
[0016]连接结构与转接卡连接，并与主板和/或所述测试平台抵接，可在主板和转接卡之间实现固定连接，支撑结构通过连接结构固定连接在主板和转接卡之间，并可对PCIE卡进行支撑，PCIE卡不再呈悬臂状态悬空连接在主板的上方，避免测试治具进行测试时对PCIE卡和转接卡等板卡本身以及对PCIE卡的金手指造成损坏。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1示出了本专利技术的测试治具(局部)的示意图；
[0019]图2示出了本专利技术的测试治具(局部)的主视图；
[0020]图3示出了本专利技术的测试治具(局部)的右视图；
[0021]图4示出了本专利技术的测试治具(局部)的俯视图；
[0022]图5示出了本专利技术的支撑装置的示意图；
[0023]图6示出了本专利技术的支撑装置的右视图；
[0024]图7示出了本专利技术的支撑装置(局部)的主视图；
[0025]图8示出了本专利技术的支撑装置(局部)的剖视图；
[0026]图9示出了本专利技术的支撑结构的示意图；
[0027]图10示出了本专利技术的第一连接组件(局部)的示意图；
[0028]图11示出了本专利技术的第一连接组件(局部)的连接示意图；
[0029]图12示出了本专利技术的主板的连接示意图；
[0030]附图标记说明：
[0031]1、主板；2、转接卡；21、第一连接孔；22、第二连接孔；3、PCIE卡；4、支撑装置；41、连接结构；411、连接板；412、第一连接组件；4121、第一连接筒；4122、第一连接柱；4123、滑轨；4124、第一连接部；4125、第二连接部；413、第二连接组件；4131、第二连接筒；4132、第二连接柱；4133、限位孔；42、支撑结构；421、第二卡扣；422、卡接板；423、支撑板；43本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测试治具，其特征在于，包括：测试平台，主板(1)适于可拆卸地装设在所述测试平台上，转接卡(2)的一端适于垂直连接在所述主板(1)上，PCIE卡(3)的一端设有金手指，所述金手指适于可拆卸地插接在所述转接卡(2)上远离所述主板(1)的一端；支撑装置(4)，包括连接结构(41)和支撑结构(42)，所述连接结构(41)与所述转接卡(2)连接，并位于所述转接卡(2)的侧部，所述连接结构(41)的底端适于与所述主板(1)和/或所述测试平台抵接；所述支撑结构(42)凸出连接在所述连接结构(41)上靠近所述转接卡(2)的一侧，并适于支撑所述PCIE卡(3)。2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，还包括滑动结构(43)，所述滑动结构(43)与所述连接结构(41)沿与所述主板(1)垂直的方向可滑动地连接，所述支撑结构(42)与所述滑动结构(43)连接。3.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述滑动结构(43)包括：两条第一滑孔(431)，平行设置在所述连接结构(41)的两端；滑板(432)，与所述支撑结构(42)连接；两组第一卡扣(433)，分别连接在所述滑板(432)的两端，并与两条所述第一滑孔(431)滑动卡接。4.根据权利要求3所述的测试治具，其特征在于，还包括限位结构(44)，所述限位结构(44)与所述滑动结构(43)连接，适于将所述滑动结构(43)限位在所述连接结构(41)上的相应高度上。5.根据权利要求4所述的测试治具，其特征在于，所述限位结构(44)包括：多个限位槽(441)，沿与所述主板(1)垂直的方向分布；弹性卡条(442)，一端与所述滑板(432)连接，另一端可插拔的设置在所述限位槽(441)内。6.根据权利要求3
‑
5中任一项所述的测试治具，其特征在于，所述滑板(432)上设有第二滑孔(4321)，所述第二滑孔(4321)为矩形长孔，所述第二滑孔(4321)的长度方向与所述主板(1)平行，所述支撑结构(42)上设有第二卡扣(421)，所述第二卡扣(421)可滑动地卡接在所述第二滑孔(4321)处。7.根据权利要求6所述的测试治具，其特征在于，所述支撑结构(42)包括：卡接板(422)，一侧设有所述第二卡扣(421)；支...
【专利技术属性】
技术研发人员：高伟，慈潭龙，蒋少男，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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