阵列基板、显示面板及电子设备制造技术

技术编号:33730892 阅读:43 留言:0更新日期:2022-06-08 21:26
本发明专利技术提供了一种阵列基板、显示面板及电子设备,所述阵列基板包括测试结构,所述测试结构至少包括第一测试结构,所述第一测试结构用于测试所述阵列基板的柔性衬底的电学性能,所述第一测试结构包括:柔性衬底;阻隔层,设于所述柔性衬底上;测试电极层,包括第一测试电极和第二测试电极,所述第一测试电极与所述阻隔层接触,所述第二测试电极与所述柔性衬底接触。本发明专利技术通过在阵列基板内设置测试结构,在测试柔性衬底的电学性能时,利用外部的测试探针对所述第一测试电极和所述第二测试电极输入测试电压,利用所述测试结构对所述阵列基板的柔性衬底进行电学性能监测,便于所述阵列基板内薄膜晶体管器件的性能研究,有利于所述阵列基板的设计。列基板的设计。列基板的设计。

【技术实现步骤摘要】
阵列基板、显示面板及电子设备


[0001]本申请涉及显示领域,尤其涉及一种阵列基板、显示面板及电子设备。

技术介绍

[0002]随着显示技术的革新,柔性显示面板成为显示领域的发展核心。目前,聚酰亚胺被广泛应用为柔性基板的衬底材料,其电学性能对薄膜晶体管器件的性能稳定有很大的影响。然而,目前的生产产线无法监控柔性衬底的电学性能。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供一种阵列基板、显示面板及电子设备,以对柔性衬底的电学性能进行监测。
[0004]为解决以上问题,本专利技术提供的技术方案如下:
[0005]本专利技术提供一种阵列基板,所述阵列基板包括测试结构,所述测试结构至少包括第一测试结构,所述第一测试结构用于测试所述阵列基板的柔性衬底的电学性能,所述第一测试结构包括:
[0006]柔性衬底;
[0007]阻隔层,设于所述柔性衬底上;
[0008]测试电极层,包括第一测试电极和第二测试电极,所述第一测试电极与所述阻隔层接触,所述第二测试电极与所述柔性衬底接触。
[0009]可选地,本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板,其特征在于,包括测试结构,所述测试结构至少包括第一测试结构,所述第一测试结构用于测试所述阵列基板的柔性衬底的电学性能,所述第一测试结构包括:柔性衬底;阻隔层,设于所述柔性衬底上;测试电极层,包括第一测试电极和第二测试电极,所述第一测试电极与所述阻隔层接触,所述第二测试电极与所述柔性衬底接触。2.如权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述柔性衬底包括第一有机衬底、第二有机衬底、以及位于所述第一有机衬底和所述第二有机衬底之间的无机衬底,所述第二有机衬底位于所述阻隔层和所述无机衬底之间,所述第一测试电极设于所述阻隔层上,且与所述阻隔层接触,所述第二测试电极与所述第一有机衬底接触,且与所述第二有机衬底绝缘。3.如权利要求2所述的阵列基板,其特征在于,所述第一测试结构包括第一开口,所述第一开口贯穿所述阻隔层、所述第二有机衬底和所述无机衬底,所述第二测试电极设于所述第一有机衬底上且位于所述第一开口内,所述第二测试电极与所述第一有机衬底直接接触,与所述第二有机衬底间隔设置。4.如权利要求2所述的阵列基板,其特征在于,所述第一测试结构包括第二开口,所述第二开口贯穿所述阻隔层、所述第二有机衬底、所述无机衬底和所述第一有机衬底,所述第二测试电极位于所述第一开口内,所述第二测试电极与所述第一有机衬底直接接触,且与所述第二有机衬底间隔设置。5.如权利要求2所述的阵列基板,其特...

【专利技术属性】
技术研发人员:吴咏波
申请(专利权)人:武汉华星光电半导体显示技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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