当前位置: 首页 > 专利查询>复旦大学专利>正文

一种动态调控的忆阻器编程方法和系统技术方案

技术编号:33730042 阅读:30 留言:0更新日期:2022-06-08 21:25
本发明专利技术公开了一种动态调控的忆阻器编程方法和系统;该方法包括:根据不同应用场景,对忆阻器所存储的数据进行分析和分类,根据数据热度将数据分为热数据、温数据、冷数据,对于冷数据,由进行编程操作时限流需要高电流,对于热数据,限流用较低电流值;为提高存储系统可靠度,设置基准时间,对于存放热数据的忆阻器,如果在基准时间内其数据没有被访问,则将进行重新写入操作。本发明专利技术能够保证存储系统的可靠度,同时本发明专利技术能极大减少热数据比例高的存储任务的功耗,从而实现低功耗忆阻器编程方法,避免写功耗受制于大量冷数据。避免写功耗受制于大量冷数据。避免写功耗受制于大量冷数据。

【技术实现步骤摘要】
一种动态调控的忆阻器编程方法和系统


[0001]本设计涉及存储器
,具体涉及一种动态调控的忆阻器编程方法和系统。

技术介绍

[0002]随着大数据时代的到来以及半导体技术的不断发展,工艺节点不断缩小,存储器件占比日渐增大。易失性存储器,为了保持存储的数据不丢失,仍然需要给存储器提供电源信号,这会导致额外的较大的单元漏电功耗。忆阻器具有结构简单,与现有 CMOS 工艺兼容,高微缩性,多值存储,易于 3D 集成等优点。
[0003]在对存储器进行写操作时,通过在忆阻器两个极板上施加不同极性的电压,可实现忆阻器在不同状态间的转换。其中,阻变层由低阻态向高阻态变化称为复位操作或擦除操作(RESET),由高阻态向低阻态变化称为置位操作或编程操作(SET)。通常,刚制备的忆阻器单元器件缺陷很少,其初始状态呈现高阻态(HRS,high resistance state)。在忆阻器单元正常编程之前需要进行高压操作激活忆阻器单元,这个操作称为形成操作(Forming);在SET操作时,在忆阻器的上极板施加一大数值电压而下极板接地,阻变层里产生了缺陷本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种动态调控的忆阻器编程方法,其特征在于,具体包括以下步骤:步骤1,外界输入待存储的数据;步骤2,数据热度分析与管理根据输入数据的存取频率,将数据按热度进行分类,数据被分为冷数据、温数据和热数据,数据类型随着存储的进行而动态变化;步骤3,根据数据划分类型,生成存储数据所需限流电流值对于冷数据,进行编程操作时限流采用高的限流电流值;对于温数据,采用中等的限流电流值;对于热数据,采用较低的限流电流值;步骤4,根据限流电流值,进行将数据写入忆阻器的编程操作。2.根据权利要求1所述的忆阻器编程方法,其特征在于,步骤2中,数据热度分析与管理的方法具体如下:(1)根据不同数据类型对应的数据热度的经验值,经深度神经网络训练后,建立分类器,根据预训练的分类模型对接收的数据按类别进行分类;(2)将数据按类别进行分类后,同类别的数据根据数据信息、数据发布时间、预计读取时间、数据数值、数据维度信息分析数据热度;(3)综合步骤(1)和步骤(2)的分析结果,得到每个数据的数据热度类型。3.根据权利要求1所述的忆阻器编程方法,其特征在于,步骤4后还包括:步骤5,数据读取操作对于采用较低的限流电流值的热数据,设置低限流基准时间,考察每个存储热数据的忆阻器单元,对比低限流基准时间与热数据从存储到读出的时间间隔,如果在低限流基准时间内对应热数据没有被读取,跳到步骤4进行重新写入;若连续发生两次热数据重新写入,则该数据类别将由热数据转换为温数据;步骤6,完成写...

【专利技术属性】
技术研发人员:薛晓勇姜婧雯黄晓丽赵晨阳方晋北陈德扬郭之望
申请(专利权)人:复旦大学
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1