雷达高度的测量方法和雷达高度的测量装置制造方法及图纸

技术编号:33729209 阅读:30 留言:0更新日期:2022-06-08 21:24
本公开提供了一种雷达高度的测量方法和雷达高度的测量装置。该方法包括:对从雷达获取的探测数据进行电离层校正,得到校正系数和与校正系数对应的目标脉压系数,其中,探测数据是雷达对星体表面进行探测所获得的;根据目标脉压系数,对探测数据进行脉冲压缩,得到压缩数据,其中,压缩数据的分辨率满足预设分辨率要求;基于预设挑选规则,从压缩数据中找出压缩数据中目标回波位置;根据目标回波位置对应的时延、探测数据的采样率和雷达接收探测数据的开窗高度,确定雷达的高度信息。确定雷达的高度信息。确定雷达的高度信息。

【技术实现步骤摘要】
雷达高度的测量方法和雷达高度的测量装置


[0001]本公开涉及计算机
,更具体地,涉及一种雷达高度的测量方法、雷达高度的测量装置、设备、介质和计算机程序产品。

技术介绍

[0002]雷达探测具有方便、快捷、高分辨率等特点,从而被广泛地应用于考古、建筑行业、地质勘探、天文探测等领域。由于雷达的发射信号具有全方位性,其不仅能接收到雷达正下方的反射信号,对于偏离正下方的特定范围内,仍然能接收到反射信号,因此可以应用于成像领域。
[0003]在实现本公开构思的过程中,专利技术人发现相关技术中至少存在如下问题:雷达高度的测量准确性较差,导致雷达生成的图像的质量较差。

技术实现思路

[0004]有鉴于此,本公开实施例提供了一种雷达高度的测量方法、雷达高度的测量装置、设备、介质和计算机程序产品。
[0005]本公开实施例的一个方面提供了一种雷达高度的测量方法,包括:
[0006]对从上述雷达获取的探测数据进行电离层校正,得到校正系数和与上述校正系数对应的目标脉压系数,其中,上述探测数据是上述雷达对星体表面进行探测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种雷达高度的测量方法,包括:对从所述雷达获取的探测数据进行电离层校正,得到校正系数和与所述校正系数对应的目标脉压系数,其中,所述探测数据是所述雷达对星体表面进行探测所获得的;根据所述目标脉压系数,对所述探测数据进行脉冲压缩,得到压缩数据,其中,所述压缩数据的分辨率满足预设分辨率要求;基于预设挑选规则,从所述压缩数据中找出所述压缩数据中目标回波位置;根据所述目标回波位置对应的时延、所述探测数据的采样率和所述雷达接收所述探测数据的开窗高度,确定所述雷达的高度信息。2.根据权利要求1所述的方法,还包括:根据所述高度信息和从所述雷达获取的雷达数据包,确定所述雷达的星下点在所述星体上的目标位置信息和高程信息,其中,所述雷达数据包包括所述雷达在星体惯性坐标系中的初始位置信息和所述雷达的多个姿态角。3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述根据所述高度信息和从所述雷达获取的雷达数据包,确定所述雷达的星下点在星体上的位置信息和高程信息,包括:根据所述姿态角确定所述雷达的指向信息;根据所述指向信息、矢量长度、初始位置信息和所述星体的经纬度坐标系,确定所述星下点和所述星下点的所述目标位置信息,其中,所述矢量长度表征所述高度信息;根据从所述雷达获取的所述雷达与所述星体中心的距离信息和所述高度信息,确定所述星下点的所述高程信息。4.根据权利要求1所述的方法,其中,所述对从所述雷达获取的探测数据进行电离层校正,得到校正系数和与所述校正系数对应的目标脉压系数,包括:根据初始脉压系数和多个相位估计误差模型,得到多个所述目标脉压系数的估计值;根据每个所述目标脉压系数估计值和所述探测数据,确定与所述探测数据对应的所述目标脉压系数。5.根据权利要求4所述的方法,其中,相位估计误差模型包括如下公式(1)~(6):5.根据权利要求4所述的方法,其中,相位估计误差模型包括如下公式(1)~(6):5.根据权利要求4所述的方法,其中,相位估计误差模型包括如下公式(1)~(6):5.根据权利要求4所述的方法,其中,相位估计误差模型包括如下公式(1)~(6):5.根据权利要求4所述的方法,其中,相位估计误差模型包括如下公式(1)~(6):5.根据权利要求4所述的方法,其中,相位估计误差模型包括如下公式(1)~(6):其中,公式(2)是公式(1)的泰勒展开表达式;a
i
为泰勒展开后不同级的系数,i为正整数;k为整数,n为预设...

【专利技术属性】
技术研发人员:洪天晟李春来苏彦张宗煜刘晨迪王瑞刚戴舜刘书宁杜维
申请(专利权)人:中国科学院国家天文台
类型:发明
国别省市:

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