半导体激光器老化测试系统及方法技术方案

本申请涉及一种半导体激光器老化测试系统及方法，系统包括：电源；至少两个用于安装待老化测试激光器的激光器测试工位；用于采集每一激光器测试工位上的激光器光电参数的激光器测试装置；用于将激光器测试装置移至对应激光器测试工位上的移动装置；开关装置，其一端与电源连接，其另一端与每一激光器测试工位上的激光器连接，其用于控制电源与每一激光器测试工位上的激光器之间的通电状态；控制装置，其与激光器测试装置、移动装置、开关装置连接。在测试时，控制装置通过开关装置控制电源逐一为激光器测试工位上的激光器通电，并控制激光器测试装置为通电的激光器测试；在老化时，控制装置通过开关装置控制电源为激光器测试工位上的激光器通电。位上的激光器通电。位上的激光器通电。

【技术实现步骤摘要】
半导体激光器老化测试系统及方法


[0001]本申请涉及半导体激光器测试的
，特别是涉及一种半导体激光器老化测试系统及方法。

技术介绍

[0002]大功率半导体激光器在通信、军事医疗等许多领域得到广泛应用，其半导体激光器的可靠性检测愈发显得尤为重要，这主要是由于：
①
通过半导体激光器的可靠性研究，可以准确的判断半导体激光器产品的失效机制；
②
测试半导体激光器的实际工作寿命时间；
③
为半导体激光器的老化研究提供依据；
④
为改进器件设计和工艺技术提高半导体激光器的可靠性。
[0003]要准确的衡量半导体激光器的可靠性，就需要对半导体激光器产品的各个指标参数进行测试。即半导体激光器产品在老化前需要测试各项技术参数，然后在最高额定工作电流或超过额定电流(通常为额定电流的1.2倍)条件下工作一段时间(通常不低于24小时，大多数是在24、 48、72或96小时等连续工作)；在老化完成后，再次对半导体激光器测试各项技术参数，然后对比其光电性能等各项参数变化率是否符合规定，通常各项参数变化率不大于5％符合规定。
[0004]目前，传统的批量化生产的半导体激光器生产流程为：封装——光学——老化前性能测试——老化——老化后性能测试，其半导体激光器产品制作完成后会一个一个在测试工位对其性能指标进行采集计算并生成测试报告，而后流转至老化工位集中进行大电流老化，老化完成后再次流转至测试工位对其性能指标进行采集计算并生成测试报告，然后对比老化前后测试指标的变化量，从而得到激光器产品是否符合规定。
[0005]传统的批量化测试半导体激光器的工艺存在以下缺陷：第一，由于老化前性能测试、老化和老化后性能测试均要拆装和移动激光器产品，导致其测试工艺的步骤多，测试过程较为繁琐，以降低测试激光器产品的效率；第二，由于传统的测试工艺步骤多，测试过程较为繁琐，导致参与激光器产品测试的人员多，从而增大了人工成本，进而增大了测试激光器产品的成本；第三，由于激光器产品的测试在测试工位进行，激光器产品的老化在老化工位进行，设置测试工位和设置老化工位导致用于测试激光器产品的设备成本高，从而导致测试成本高。

技术实现思路

[0006]本申请主要的目的是提供一种半导体激光器老化测试系统及方法，在传统工艺上进行优化和改进，其具有测试步骤少、测试效率高和成本低的优点。
[0007]本申请上述目的是通过以下方案实现的：
[0008]一种半导体激光器老化测试系统，包括：
[0009]用于激光器老化测试的电源；
[0010]至少两个激光器测试工位，用于安装待老化测试的激光器；
[0011]激光器测试装置，用于采集每一所述激光器测试工位上的所述激光器的光电参数；
[0012]移动装置，用于将所述激光器测试装置移至对应的所述激光器测试工位上；
[0013]开关装置，其一端与所述电源连接，其另一端用于与每一所述激光器测试工位上的所述激光器连接，其用于控制所述电源与每一所述激光器测试工位上的所述激光器之间的通电状态；
[0014]控制装置，其与所述激光器测试装置、所述移动装置、所述开关装置连接，其用于：
[0015]在老化所述激光器前，控制所述开关装置使得所述电源逐一与每一所述激光器测试工位上的所述激光器通电，并控制所述移动装置依次将所述激光器测试装置移至对应的所述激光器测试工位上以对通电的所述激光器进行测试；
[0016]在老化所述激光器过程中，控制所述开关装置使得所述电源与所述激光器测试工位上的所述激光器通电；
[0017]在老化所述激光器后，控制所述开关装置使得所述电源逐一与每一所述激光器测试工位上的所述激光器通电，并控制所述移动装置依次将所述激光器测试装置移至对应的所述激光器测试工位上以对通电的所述激光器进行测试；
[0018]基于所述激光器测试装置在老化所述激光器前后对每一所述激光器采集到的光电参数，得到每一所述激光器的老化测试结果。
[0019]本申请进一步设置为：所述控制装置还与所述电源连接，所述控制装置还用于：
[0020]在开始老化所述激光器时，控制所述电源的输出电流按预定的电流步进幅度逐渐增强至预设的老化电流；
[0021]在完成老化所述激光器时，控制所述电源的输出电流由所述老化电流缓降至零。
[0022]本申请进一步设置为：所述开关装置包括：
[0023]第一继电器，其连接端与所述电源的正极连接，其受控端与所述控制装置连接，其至少两个选通端用于与至少两个所述激光器测试工位上的所述激光器的正极一一对应连接，其用于在所述控制装置的控制下接通所述连接端与对应的所述选通端；
[0024]第二继电器，其连接端与所述电源的负极连接，其受控端与所述控制装置连接，其至少两个选通端用于与至少两个所述激光器测试工位上的所述激光器的负极一一对应连接，其用于在所述控制装置的控制下接通所述连接端与对应的所述选通端。
[0025]本申请进一步设置为：至少两个所述激光器测试工位上的所述激光器为串联关系；
[0026]在测试所述激光器测试工位上的所述激光器时，所述控制装置控制所述第一继电器和所述第二继电器使得所述电源逐一与所述激光器测试工位上的所述激光器通电；
[0027]在老化所述激光器测试工位上的所述激光器时，所述控制装置控制所述第一继电器的所述连接端接通第一个所述选通端，且所述第一继电器的所述连接端与其余的所述选通端断开，并控制所述第二继电器的所述连接端接通第二个所述选通端，且所述第二继电器的所述连接端与其余的所述选通端断开；第一个所述选通端为所述第一继电器与至少两个所述激光器测试工位上的所述激光器中的首个串联的所述激光器的正极连接的所述选通端，第二个所述选通端为所述第二继电器与至少两个所述激光器测试工位上的所述激光器中的最后串联的所述激光器的负极连接的所述选通端。
[0028]本申请进一步设置为：所述测试系统还包括：
[0029]散热装置，其上设有至少两个所述激光器测试工位，其用于对至少两个所述激光器测试工位上的所述激光器进行散热。
[0030]本申请进一步设置为：所述散热装置包括散热台，所述散热台设有装载面，至少两个所述激光器测试工位设置在所述装载面。
[0031]本申请进一步设置为：所述装载面背离所述激光器测试工位的侧面设有用于散热的散热翅片，所述散热台内循环通入有用于散热的散热液，所述散热液位于所述装载面的下方，所述散热翅片溶置于所述散热液内。
[0032]本申请进一步设置为：所述散热台设有用于控制温度的半导体致冷器，所述半导体致冷器位于所述装载面背离所述激光器测试工位的侧面。
[0033]本申请进一步设置为：所述移动装置位于至少两个所述激光器测试工位前方，所述移动装置为电动滑轨或直线电机。
[0034]本申请进一步设置为：所述激光器测试装置包括积分球，所述积分球固定安装在所述移动装置本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体激光器老化测试系统，其特征在于，包括：用于激光器老化测试的电源(1)；至少两个激光器测试工位(6)，用于安装待老化测试的激光器；激光器测试装置(3)，用于采集每一所述激光器测试工位(6)上的所述激光器的光电参数；移动装置(4)，用于将所述激光器测试装置(3)移至对应的所述激光器测试工位(6)上；开关装置(2)，其一端与所述电源(1)连接，其另一端用于与每一所述激光器测试工位(6)上的所述激光器连接，其用于控制所述电源(1)与每一所述激光器测试工位(6)上的所述激光器之间的通电状态；控制装置(7)，其与所述激光器测试装置(3)、所述移动装置(4)、所述开关装置(2)连接，其用于：在老化所述激光器前，控制所述开关装置(2)使得所述电源(1)逐一与每一所述激光器测试工位(6)上的所述激光器通电，并控制所述移动装置(4)依次将所述激光器测试装置(3)移至对应的所述激光器测试工位(6)上以对通电的所述激光器进行测试；在老化所述激光器过程中，控制所述开关装置(2)使得所述电源(1)与所述激光器测试工位(6)上的所述激光器通电；在老化所述激光器后，控制所述开关装置(2)使得所述电源(1)逐一与每一所述激光器测试工位(6)上的所述激光器通电，并控制所述移动装置(4)依次将所述激光器测试装置(3)移至对应的所述激光器测试工位(6)上以对通电的所述激光器进行测试；基于所述激光器测试装置(3)在老化所述激光器前后对每一所述激光器采集到的光电参数，得到每一所述激光器的老化测试结果。2.根据权利要求1所述的半导体激光器老化测试系统，其特征在于，所述控制装置(7)还与所述电源(1)连接，所述控制装置(7)还用于：在开始老化所述激光器时，控制所述电源(1)的输出电流按预定的电流步进幅度逐渐增强至预设的老化电流；在完成老化所述激光器时，控制所述电源(1)的输出电流由所述老化电流缓降至零。3.根据权利要求1所述的半导体激光器老化测试系统，其特征在于，所述开关装置(2)包括：第一继电器(21)，其连接端(8)与所述电源(1)的正极连接，其受控端与所述控制装置(7)连接，其至少两个选通端(9)用于与至少两个所述激光器测试工位(6)上的所述激光器的正极一一对应连接，其用于在所述控制装置(7)的控制下接通所述连接端(8)与对应的所述选通端(9)；第二继电器(22)，其连接端(8)与所述电源(1)的负极连接，其受控端与所述控制装置(7)连接，其至少两个选通端(9)用于与至少两个所述激光器测试工位(6)上的所述激光器的负极一一对应连接，其用于在所述控制装置(7)的控制下接通所述连接端(8)与对应的所述选通端(9)。4.根据权利要求3所述的半导体激光器老化测试系统，其特征在于，至少两个所述激光器测试工位(6)上的所述激光器为串联关系；在测试所述激光器测试工位(6)上的所述激光器时，所述控制装置(7)控制所述第一继
电器(21)和所述第二继电器(22)使得所述电源(1)逐一与所述激光器测试工位(6)上的所述激光器通电；在老化所述激光器测试工位(6)上的所述激光器时，所述控制装置(7)控制所述第一继电器(21)的所述连接端(8)接通第一个所述选通端(9)，且所述第一继电器(21)的所述连接端(8)与其余的所述选通端(9)断开，并控制所述第二继电器(22)的所述连接端(8)接通第二个所述选通端(9)，且所述第二继电器(22)的所述连接端(8)与其余的所述选通端(9)断开；第一个所述选通端(9)为所述第一继电器(21...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵森，
申请(专利权)人：深圳活力激光技术有限公司，
类型：发明
国别省市：