【技术实现步骤摘要】
一种边缘检测方法、装置以及存储介质
[0001]本专利技术涉及边缘检测
，具体涉及一种边缘检测方法、装置以及存储介质。
技术介绍
[0002]在面板Module段的AOI检测领域，随着工艺技术的更新换代，对于特殊类型的缺陷检出提出了更高精度要求，像原来的微米级的缺陷检出要求，现在升级为亚微米级。
[0003]然而面板Module段的产品产能并未降低，因此在检测精度提升的前提下，势必会带来检测速度的下降，而为了保证产线的节拍时间不能显著下滑。面板所生产的屏幕产品，从尺寸上大致可分为：手表级、手机级、平板级、笔记本电脑级、显示器级、TV级。这其中，屏幕尺寸越小，工艺结构越复杂，对于缺陷检测的要求也越高。相应地，以手机级屏幕检测为例，因为尺寸较小，在原来10μm以上级别的检测精度下，可以使用一个大靶面相机配合合适的镜头，实现对手机屏幕产品的全画幅覆盖或者是有限的几幅或十几幅图像的拼接覆盖；但是现在检测精度提升到亚微米之后，相机的视野范围很小，那么就需要几百张甚至上千张的图像才能够覆盖。
[0004]现有的检测...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种边缘检测方法，其特征在于，包括：边缘获取步骤：获取待测物体的边缘区域组的尺寸，所述待测物体包括至少两个所述边缘区域组；每一个所述边缘区域组包括两个平行的边缘区域；边缘扫描步骤：控制第一探测器以及第二探测器对一个所述边缘区域组进行扫描，完成扫描后转动所述待测物体，以使得下一个所述边缘区域组的长度方向与第一预设方向平行，扫描下一个所述边缘区域组；当所述两个边缘区域的平行间距大于或等于所述第一探测器与所述第二探测器的探头间距的最小值时，在扫描所述边缘区域组之前，根据所述边缘区域组的平行间距，调整所述探头间距；在扫描每个所述边缘区域组过程中，控制所述第一探测器扫描一个所述边缘区域，控制所述第二探测器扫描另一个所述边缘区域；当所述平行间距小于所述探头间距的最小值时，在扫描每个所述边缘区域组过程中，控制所述第一探测器扫描一个所述边缘区域，所述第二探测器待机；完成一个所述边缘区域扫描后，控制所述第一探测器或所述第二探测器扫描另一个所述边缘区域。2.如权利要求1所述的边缘检测方法，其特征在于，当所述平行间距小于所述探头间距的最小值且大于所述探头间距的最小值一半时，在扫描每个所述边缘区域组过程中，控制所述第一探测器扫描一个所述边缘区域，所述第二探测器待机；完成一个所述边缘区域扫描后，控制所述第二探测器扫描另一个所述边缘区域。3.如权利要求1所述的边缘检测方法，其特征在于，当所述平行间距小于所述探头间距的最小值一半时，在扫描每个所述边缘区域组过程中，控制所述第一探测器或所述第二探测器中的一个扫描一个所述边缘区域组。4.如权利要求1
‑
3中任一项所述的边缘检测方法，其特征在于，所述待测物体为方形，所述待测物体包括两个相互正交的边缘区域组，定义为纵向边缘区域组以及横向边缘区域组；所述边缘扫描步骤包括：纵向扫描步骤：控制第一探测器以及第二探测器对所述纵向边缘区域组进行扫描；转动调整步骤：转动所述待测物体90
°
，确定所述横向边缘区域组的长度方向与第一预设方向平行；横向扫描步骤：控制第一探测器以及第二探测器对所述横向边缘区域组进行扫描。5.如权利要求4所述的边缘检测方法，其特征在于，所述纵向边缘区域组包括第一边缘区域以及第二边缘区域，所述横向边缘区域组包括第三边缘区域以及第四边缘区域，所述第一边缘区域与所述第二边缘区域的平行间距大于或等于所述探头间距的最小值；所述第三边缘区域以及所述第四边缘区域的平行间距大于或等于所述探头间距的最小值；所述纵向扫描步骤包括：根据所述第一边缘区域与所述第二边缘区域的平行间距调整所述探头间距，控制所述第一探测器扫描所述第一边缘区域，控制所述第二探测器扫描所述第二边缘区域；所述横向扫描步骤包括：根据所述第三边缘区域与所述第四边缘区域的平行间距调整所述探头间距，控制所述第一探测器扫描所述第三边缘区域，控制所述第二探测器扫描所述第四边缘区域。6.如权利要求5所述的边缘检测方法，其特征在于，所...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈鲁，王天民，张嵩，
申请(专利权)人：深圳中科飞测科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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