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一种芯片的外观瑕疵检测装置制造方法及图纸

技术编号:33655700 阅读:13 留言:0更新日期:2022-06-02 20:35
本实用新型专利技术涉及芯片技术领域,且公开了一种芯片的外观瑕疵检测装置,包括机架丝印、报警灯、显示器、触摸屏、控制按键和脚杯脚轮,所述机架丝印的内部设置有传动检测机构,所述传动检测机构包括安装在机架丝印内部的安装板,所述安装板上表面的两侧分别固定连接有第一固定座和第二固定座,所述第一固定座和第二固定座上表面的两侧分别固定连接有第一侧板和第二侧板。该芯片的外观瑕疵检测装置,通过第一调宽机构、第二调宽机构、同步机构、第一检测机构、第二检测机构和第二下检测机构等结构的设置,芯片与引线框架安装后的产品可以通过传动检测机构的自动检测取代传统的通过人工肉眼检测的方式。眼检测的方式。眼检测的方式。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片的外观瑕疵检测装置


[0001]本技术涉及芯片
,具体为一种芯片的外观瑕疵检测装置。

技术介绍

[0002]集成电路英语,缩写作IC;或称微电路、微芯片、晶片/芯片在电子学中是一种将电路(主要包括半导体设备,也包括被动组件等)小型化的方式,并时常制造在半导体晶圆表面上,引线框架作为集成电路的芯片载体,是一种借助于键合材料(金丝、铝丝、铜丝)实现芯片内部电路引出端与外引线的电气连接,形成电气回路的关键结构件,引线框架起到了和外部导线连接的桥梁作用,绝大部分的半导体集成块中都需要使用引线框架,是电子信息产业中重要的基础材料。
[0003]在芯片的制造过程中需要在其外部安装引线框架,但是由于引线框架材料偏软偏薄,在与芯片进行安装完成后可能会产生一些外观不良,这些瑕疵会影响引线框架能否与芯片进行正常配合使用,如果使用人工去检测则非常繁琐,需要转换不同的角度以及配合特定的灯光才能完成,且操作过程中,很容易就造成引线框架产品及芯片的二次受损,为此提出一种用于对安装引线框架后的芯片进行检测的一种芯片的外观瑕疵检测装置。

技术实现思路

[0004](一)解决的技术问题
[0005]针对现有技术的不足,本技术提供了一种芯片的外观瑕疵检测装置,解决了上述
技术介绍
中提出的问题。
[0006](二)技术方案
[0007]为实现以上目的,本技术通过以下技术方案予以实现:一种芯片的外观瑕疵检测装置,包括机架丝印、报警灯、显示器、触摸屏、控制按键和脚杯脚轮,所述机架丝印的内部设置有传动检测机构,所述传动检测机构包括安装在机架丝印内部的安装板,所述安装板上表面的两侧分别固定连接有第一固定座和第二固定座,所述第一固定座和第二固定座上表面的两侧分别固定连接有第一侧板和第二侧板,所述第一侧板和第二侧板的数量均为两个,两个所述第一侧板的正面共同固定连接有第一调宽机构,所述第一调宽机构的表面设置有同步机构,所述第一调宽机构通过同步机构传动连接有第二调宽机构,两个所述第一侧板的相对侧固定连接有定型板,所述第一侧板的内侧靠近定型板活动安装有第一导向滚轴,两个所述第二侧板的相对侧活动安装有第二导向滚轴,所述安装板上表面的边缘处分别固定连接有第一检测机构和第二上检测机构,所述安装板下表面的中部安装有与第二上检测机构相配合的第二下检测机构,所述第一导向滚轴的表面传动套接有第一传输带,所述第二导向滚轴的表面传动套接有第二传输带,所述安装板的上表面靠近第二下检测机构固定安装有用于驱动第一传输带和第二传输带的驱动机构,所述第一侧板和第二侧板的相对侧安装有连接架,所述连接架的数量为两个,所述第二调宽机构的表面搭接有承载玻璃板。
[0008]可选的,所述第一侧板和第二侧板下表面的两侧均固定连接有承载座,所述承载座的上表面滑动安装有侧向滚轴,所述第一侧板和第二侧板下表面的中部均固定安装有T型板,所述T型板的表面活动安装有横向滚轴。
[0009]可选的,所述第一调宽机构包括双向螺纹杆,所述双向螺纹杆表面的两侧均螺纹连接有调节块,所述调节块的上表面固定连接有导向板,所述双向螺纹杆两端的边缘处均通过轴承活动安装有矩形块,所述矩形块一侧的顶部和底部均固定连接有稳定杆,所述调节块的表面开设有与稳定杆相适配的滑槽,所述双向螺纹杆的两端贯穿矩形块固定连接有第一调宽手柄,所述双向螺纹杆的两端靠近调宽手柄固定连接有第一从动轮,所述矩形块与第一侧板固定连接。
[0010]可选的,所述第二调宽机构包括梯形块,所述梯形块的中部螺纹连接有丝杆,所述丝杆的一端通过轴座活动安装有稳定板,所述稳定板的两侧均固定连接有滑杆,两个所述滑杆均与梯形块滑动连接,所述梯形块的两侧固定连接有L型块,所述L型块的表面固定连接有下压板,所述L型块的表面靠近下压板固定连接有上压板,所述承载玻璃板设于下压板上压板之间,所述丝杆的表面固定连接有第二从动轮,所述丝杆的一端固定连接有第二调宽手柄,所述L型块与机架丝印固定连接。
[0011]可选的,所述同步机构包括通过轴承活动安装于第一侧板表面的同步杆,所述同步杆两端的边缘处均固定连接有第一连接轮,所述同步杆的两端均固定连接有第二连接轮,所述第一连接轮的表面通过传动带与第一从动轮传动连接,所述第二连接轮通过传动带与第二从动轮传动连接。
[0012]可选的,所述第一检测机构包括固定连接于安装板上表面的第一支撑架,所述第一支撑架的顶部安装有第一检测相机,所述第一支撑架的中部安装有第一检测光源。
[0013]可选的,所述第二上检测机构包括固定连接于安装板上表面的第二支撑架,所述第二支撑架的顶部安装有第二检测相机,所述第二支撑架的中部安装有第二检测光源。
[0014]可选的,所述第二下检测机构包括安装于安装板下表面的第三检测架,所述第三检测架的底部安装有第三检测相机,所述第三检测架的中部安装有第三检测光源。
[0015]可选的,所述驱动机构包括固定连接于安装板下表面两侧的底座,其中一个所述底座的一侧安装有驱动电机,所述驱动电机的输出端固定连接有第一传动杆,所述传动杆通过轴承与其中一个所述底座活动连接,所述第一传动杆的表面固定连接有与第一导向滚轴相适配的第一下导向滚轴,所述传动杆的一端固定连接有第一驱动轮,所述第一驱动轮的表面通过传动带传动连接有第二驱动轮,所述第二驱动轮的表面通过第二传动杆固定连接有与第二导向滚轴相适配的第二下导向滚轴,所述第二下导向滚轴的一侧通过轴座活动安装于另一个所述底座的一侧,所述第二传动杆通过轴承与另一个所述底座的另一侧活动连接。
[0016]可选的,所述第一导向滚轴和第一下导向滚轴的表面与第一传输带传动连接,所述第二导向滚轴和第二下导向滚轴的表面与第二传输带传动连接。
[0017](三)有益效果
[0018]本技术提供了一种芯片的外观瑕疵检测装置,具备以下有益效果:
[0019]该芯片的外观瑕疵检测装置,通过第一调宽机构、第二调宽机构、同步机构、第一检测机构、第二检测机构和第二下检测机构等结构的设置,芯片与引线框架安装后的产品
可以通过传动检测机构的自动检测取代传统的通过人工肉眼检测的方式,检测时,芯片产品从导向板中间进入第一传输带和第二传输带上,通过驱动机构的驱动可以平稳的把检测产品传送到第一检测机构和第二上检测机构的位置,通过第一检测机构、第二上检测机构和第二下检测机构的CCD检测装置对芯片表面的引线框架产品进行瑕疵检测,产品经过检测后,系统给出OK/NG信号到下个工序,整体动作自动完成,提高检测的效率的同时又不会因手部直接接触芯片而对其造成二次损害的情况发生。
附图说明
[0020]图1为本技术结构示意图;
[0021]图2为本技术第二形态结构示意图;
[0022]图3为本技术传动检测机构结构示意图;
[0023]图4为本技术传动检测机构第二形态结构示意图;
[0024]图5为本技术传动检测机构拆卸结构示意图;
[0025]图6为本实用新本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片的外观瑕疵检测装置,包括机架丝印(1)、报警灯(46)、显示器(47)、触摸屏(48)、控制按键(49)和脚杯脚轮(50),其特征在于:所述机架丝印(1)的内部设置有传动检测机构,所述传动检测机构包括安装在机架丝印(1)内部的安装板(2),所述安装板(2)上表面的两侧分别固定连接有第一固定座(3)和第二固定座(4),所述第一固定座(3)和第二固定座(4)上表面的两侧分别固定连接有第一侧板(5)和第二侧板(6),所述第一侧板(5)和第二侧板(6)的数量均为两个,两个所述第一侧板(5)的正面共同固定连接有第一调宽机构,所述第一调宽机构的表面设置有同步机构,所述第一调宽机构通过同步机构传动连接有第二调宽机构,两个所述第一侧板(5)的相对侧固定连接有定型板(7),所述第一侧板(5)的内侧靠近定型板(7)活动安装有第一导向滚轴(8),两个所述第二侧板(6)的相对侧活动安装有第二导向滚轴(9),所述安装板(2)上表面的边缘处分别固定连接有第一检测机构和第二上检测机构,所述安装板(2)下表面的中部安装有与第二上检测机构相配合的第二下检测机构,所述第一导向滚轴(8)的表面传动套接有第一传输带(10),所述第二导向滚轴(9)的表面传动套接有第二传输带(11),所述安装板(2)的上表面靠近第二下检测机构固定安装有用于驱动第一传输带(10)和第二传输带(11)的驱动机构,所述第一侧板(5)和第二侧板(6)的相对侧安装有连接架(12),所述连接架(12)的数量为两个,所述第二调宽机构的表面搭接有承载玻璃板(13)。2.根据权利要求1所述的一种芯片的外观瑕疵检测装置,其特征在于:所述第一侧板(5)和第二侧板(6)下表面的两侧均固定连接有承载座(14),所述承载座(14)的上表面滑动安装有侧向滚轴(15),所述第一侧板(5)和第二侧板(6)下表面的中部均固定安装有T型板(16),所述T型板(16)的表面活动安装有横向滚轴。3.根据权利要求1所述的一种芯片的外观瑕疵检测装置,其特征在于:所述第一调宽机构包括双向螺纹杆(17),所述双向螺纹杆(17)表面的两侧均螺纹连接有调节块(18),所述调节块(18)的上表面固定连接有导向板(19),所述双向螺纹杆(17)两端的边缘处均通过轴承活动安装有矩形块(20),所述矩形块(20)一侧的顶部和底部均固定连接有稳定杆(21),所述调节块(18)的表面开设有与稳定杆(21)相适配的滑槽,所述双向螺纹杆(17)的两端贯穿矩形块(20)固定连接有第一调宽手柄,所述双向螺纹杆(17)的两端靠近调宽手柄固定连接有第一从动轮(24),所述矩形块(20)与第一侧板(5)固定连接。4.根据权利要求3所述的一种芯片的外观瑕疵检测装置,其特征在于:所述第二调宽机构包括梯形块(25),所述梯形块(25)的中部螺纹连接有丝杆(26),所述丝杆(26)的一端通过轴座活动安装有稳定板(27),所述稳定板(27)的两侧均固定连接有滑杆(28),两个所述滑杆(28)均与...

【专利技术属性】
技术研发人员:郑明国
申请(专利权)人:郑明国
类型:新型
国别省市:

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