本实用新型专利技术公开了一种下变频通道群时延测试校准装置，其结构包括：双音信号产生器、上变频器、功分器、二选一射频开关、待测试下变频通道、标准混频器、宽带混频器、两个AD采集板；二选一射频开关有A、B、C三个，双音信号产生器连接上变频器，上变频器连接功分器，功分器分别连接二选一射频开关A和宽带混频器，二选一射频开关A分别连接二选一射频开关B和标准混频器，二选一射频开关B连接待测试下变频通道，待测试下变频通道和标准混频器同时连接至二选一射频开关C，二选一射频开关C连接AD采集板一；宽带混频器连接另AD采集板二。本实用新型专利技术性能稳定，方便实现，可靠性高，可广泛应用于信号监测、信号特征分析等领域。信号特征分析等领域。信号特征分析等领域。
【技术实现步骤摘要】
一种下变频通道群时延测试校准装置
[0001]本技术涉及变频
，尤其是一种下变频通道群时延测试校准装置。
技术介绍
[0002]空间传输的无线电信号均通过一系列的射频变频，功放放大和天线进行发射接收。表征某一射频信号的特征除了射频的调制方式，脉冲，带宽等，还有其固有的群时延特征。不同的射频组件带来不同的群时延，也表征了不同的设备特性，这一特性也可称为发射装置的指纹特征。通过对这一特征的识别，可判断不同的设备，达到识别的目的。
[0003]但在射频接收系统中，同样存在变频装置的固有群时延，并且群时延特性跟不同的变频装置存在不一致性。该现象的存在，可能导致同一信号被不同的接收系统识别为不同的信号，造成识别误差。
[0004]解决该问题一般需要对接收系统的变频装置进行通道群时延校准，以达到接收装置固有群时延统一的目的。但在实际应用中，随着接收系统工作温度的变化，系统连接线缆的更换原因，预先校准的群时延特性会随之发生变化。但在系统工作过程中，又不可能采用仪器级的矢量网络信号源对系统进行实时校准。
技术实现思路
[0005]本技术针对上述问题，提供一种下变频通道群时延测试校准装置。
[0006]本技术提供的下变频通道群时延测试校准装置，通过增加低成本的双音信号源，宽带的混频器，结合系统本身的AD采集板，实现接收装置群时延的实时测试和校准。
[0007]本技术提供的下变频通道群时延测试校准装置，其结构包括：双音信号产生器、上变频器、功分器、二选一射频开关、待测试下变频通道、标准混频器、宽带混频器、AD采集板一和AD采集板一。所述二选一射频开关有三个，分别为二选一射频开关A、二选一射频开关B、二选一射频开关C。所述双音信号产生器的信号输出端连接上变频器，上变频器连接功分器，功分器输出端分两路，一路连接二选一射频开关A，另一路连接宽带混频器，所述二选一射频开关A同时连接二选一射频开关B和标准混频器，二选一射频开关B连接待测试下变频通道，待测试下变频通道输出端和标准混频器输出端同时连接至二选一射频开关C，二选一射频开关C连接AD采集板一；所述宽带混频器连接AD采集板二。所述宽带混频器还与本振连接。所述二选一射频开关B还连接天线。
[0008]优选的是，所述双音信号产生器为频率合成器DDS，产生双音信号的DDS技术采用FPGA和DAC实现。
[0009]优选的是，所述标准混频器为一个宽带的且群时延特性已知的器件，用作测试系统残余群时延误差的校准测试使用。其采用2～18GHz工作带宽，以实现良好的宽带线性度特性，如果需要扩展频率，可通过开关切换的方式增加混频器，实现扩频功能。
[0010]优选的是，所述功分器采用电阻功分，频率可覆盖DC～40GHz。
[0011]优选的是，两个AD采集板均是双通道的中频采集分析，其有效位大于10位，带宽
200MHz。
[0012]优选的是，所述上变频器采用2～18GHz的变频带宽。
[0013]上述装置的工作原理过程：通过DDS技术产生一个双音信号，并通过上变频器扩频至系统工作的频率范围，作为校准的参考信号输入。该参考信号通过功分器进行功分输出，分别注入宽带混频器、标准混频器和待测试下变频通道。通过待测试下变频通道的参考信号经过变频输出中频信号IF1，进行AD采样分析；通过宽带混频器的参考信号下变频输出中频信号IF2，进行AD采样分析，从而对比得到待测试下变频通道的群时延特性。
[0014]与现有技术相比，本技术的有益之处在于：
[0015](1)通过增加低成本的双音信号源，宽带的混频器，结合系统本身的AD采集板卡，实现接收装置群时延的实时测试和校准。通过快速准确的对下变频通道群时延进行测试，从而明确接收系统固有的群时延特性，以便准确的分析待测信号的群时延和相位特性。
[0016](2)采用了相对简洁且性价比高的测试方法，可实现下变频通道的群时延测试校准工作。该方法避免了配置仪器级的矢量信号源，并可在工作过程中实时进行测试校准工作，消除被测试组件随环境因素的影响，且工作效率高，测试精度高。可广泛应用于对信号侦查，信号特征分析等领域。
[0017]本技术的其它优点、目标和特征将部分通过下面的说明体现，部分还将通过对本技术的研究和实践而为本领域的技术人员所理解。
附图说明
[0018]图1、本技术的下变频通道群时延测试校准装置的结构连接图。
[0019]图2、本技术下变频通道群时延测试校准方法双音测试原理框图。
[0020]图3、基于双音测试原理的群时延测试校准方法的原理框图。
[0021]图1中标号：
[0022]1‑
频率合成器DDS、2
‑
上变频器、3
‑
功分器、4
‑
二选一射频开关A、5
‑
二选一射频开关B、6
‑
待测试下变频通道、7
‑
标准混频器、8
‑
二选一射频开关C、9
‑
AD采集板一、10
‑
宽带混频器、11
‑
本振、12
‑
AD采集板二。
具体实施方式
[0023]以下结合附图对本技术的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本技术，并不用于限定本技术。
[0024]如图1所示，本技术提供的下变频通道群时延测试校准装置，其结构包括：作为双音信号产生器的频率合成器DDS 1、上变频器2、功分器3、三个二选一射频开关、待测试下变频通道6、标准混频器7、宽带混频器10、两个AD采集板(AD采集板一9和AD采集板二12)。所述二选一射频开关有三个，分别为二选一射频开关A4、二选一射频开关B 5、二选一射频开关C 8。所述频率合成器DDS的输出端连接上变频器，上变频器输出端连接功分器，功分器输出端分两路，一路连接二选一射频开关A，另一路连接宽带混频器。所述二选一射频开关A分别连接二选一射频开关B和标准混频器。二选一射频开关B连接待测试下变频通道，待测试下变频通道和标准混频器同时连接至二选一射频开关C。二选一射频开关C连接AD采集板一9，用于对中频信号IF1进行AD采样分析。所述宽带混频器连接AD采集板二12，用于对中频
信号IF2进行AD采样分析。所述宽带混频器还与本振11连接。所述二选一射频开关B还连接天线。
[0025]所述频率合成器采用AD9739数模转换芯片。
[0026]所述功分器为PDR06160功分器。
[0027]所述二选一射频开关A、二选一射频开关B、二选一射频开关C均是采用HMC986射频开关。
[0028]所述标准混频器采用HMC773或HMC787混频器。所述标准混频器为一个宽带的且群时延特性已知的器件，用作测试系统残余群时延误差的校准测试使用。其采用2～18GHz工作带宽，以本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种下变频通道群时延测试校准装置，其特征在于，包括：双音信号产生器、上变频器、功分器、二选一射频开关、待测试下变频通道、标准混频器、宽带混频器、AD采集板一、AD采集板二；所述二选一射频开关有A、B、C三个，所述双音信号产生器的信号输出端连接上变频器，上变频器连接功分器，功分器输出端分两路，一路连接二选一射频开关A，另一路连接宽带混频器，所述二选一射频开关A同时连接二选一射频开关B和标准混频器，二选一射频开关B连接待测试下变频通道，待测试下变频通道输出端和标准混频器输出端同时连接至二选一射频开关C，二选一射频开关C连接AD采集板一；所述宽带混频器连接AD采集板二。2.如权利要求1所述的下变频通道群...
【专利技术属性】
技术研发人员：蒋德龙，钱勇，
申请(专利权)人：成都好启科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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