一种紫外成像的光子计数空间密度计算方法技术

本发明专利技术公开了一种紫外成像的光子计数空间密度计算方法，包括以下步骤，先进行紫外线成像，由于紫外线成像仪输出的原始图像为RGB彩色图像，需要对图像进行灰度变换，将图像灰度化，其次采用阈值分割算法将灰度图像变换为二值图像，接着灰度值接近于放电区域的图像经过二值化后仍保存在图像之中，图像可看成噪声图像，需对其进行滤波处理,随后采用二值图像小区域消除算法对其余噪声点去除，最后进行统计，本发明专利技术中，可以对输变电设备放电进行在线监测，基于图像合成原理的紫外成像，实现空间光子计数的高分辨率解析，并且可以统计光子信号的空间分布以及空间密度，进一步的可以对紫外成像进行深入的量化分析。外成像进行深入的量化分析。

【技术实现步骤摘要】
一种紫外成像的光子计数空间密度计算方法


[0001]本专利技术涉及电气工程
，具体为一种紫外成像的光子计数空间密度计算方法。

技术介绍

[0002]紫外成像一般采用光子倍增成像的技术，其成像原理是利用电子光学系统将紫外光转换荧光屏图像；
[0003]国内应用紫外成像手段开展电气设备状态检测的历史最早至少可以追溯至十年前，当时主要采用南非生产的CoroCAM以及以色列生产的OFIL紫外成像装置。国外的装置利用半透镜原理的日盲型紫外检测技术，巧妙的解决了日光对紫外成像的影响，使紫外光呈现在可见光的图像上，并实现放电计数，放电强度评估等功能；
[0004]在日盲紫外电晕探测设备中，一般直接根据显示器上显示的日盲紫外图像来判断电晕放电的程度。但是屏幕上显示紫外强度是依据空间光子计数值重绘在影像上的，计数值会收到距离、湿度、水汽等因素的影响，因而不易定量。所以需要通过具体的算法对日盲紫外电晕放电进行量化分析，以利于对比分析。日盲紫外电晕信号仅在较窄的带宽范围内有效因而光强衰减较大，目前的通用仪器采用直接绘制的方法，不能满足深入进行量本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种紫外成像的光子计数空间密度计算方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一：先进行紫外线成像，得到原始的紫外线图像；步骤二：由于紫外线成像仪输出的原始图像为RGB彩色图像，该图像矩阵包含了三个颜色分量，需处理的信息量较大，先对图像进行灰度变换，将图像灰度化，采用以下公式：Y＝0.299R+0.587G+0.114B；步骤三：对图像进行分割，图像分割包括基于阈值的分割方法、基于区域的分割方法和基于边缘的分割方法，由于放电光斑区域的灰度值与背景图像的灰度值差异较大，因此采用了阈值分割算法将灰度图像变换为二值图像，其算法原理为以下公式：g(x,y)＝255(f(x,y)＞T)/g(x,y)＝0((f(x,y)≤T)；步骤四：灰度值接近于放电区域的图像经过二值化后仍保存在图像之中，图像可看成噪声图像，需对其进行滤波处理,鉴于噪声图像的边缘及大小异于放电区域图像的特点，采用数学形态学的开闭运算对图像进行了滤波处理；步骤五：采用数学形态滤波后，仍然有部分区域面积较大的干扰点留在图像之中，在此采用二值图像小区域消除算法实现了对其余噪声点的去除；步骤六：完成小区域面积消除也就是对轮廓进行了提取，记忆不得可以统计放电空间的光斑面积、边界周长、长轴和短轴，得到空间面积和个数，进一步的可以统计光子计数空间的密度值。2.根据权利要求1所述的一种紫外成像的光子计数空间密度计算方法，其特征在于：所述在步骤二中图像灰度化的公式中，Y为灰度值，其范围为0
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255；R...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭丽萍，赵文彬，
申请(专利权)人：上海电气输配电试验中心有限公司，
类型：发明
国别省市：