紫外放电图像-高光谱图像的污秽绝缘子状态评估方法技术

技术编号:33645122 阅读:43 留言:0更新日期:2022-06-02 20:21
本发明专利技术涉及一种联合紫外放电图像

【技术实现步骤摘要】
紫外放电图像

高光谱图像的污秽绝缘子状态评估方法


[0001]本专利技术涉及一种联合紫外放电图像

高光谱图像的污秽绝缘子状态评估方法,属于输配电领域外绝缘在线检测方法。

技术介绍

[0002]根据目前的研究,绝缘子污闪仍然是影响电力系统安全的一个严重问题,特别是在恶劣天气条件下。因此,输电线路绝缘子污秽状态检测对于预防污闪事故、维护电力系统可靠运行具有重要的现实意义。
[0003]现有的污染检测与表征方法主要有等值盐密法、表面污染层电导率法、泄漏电流脉冲计数法、大泄漏电流法和绝缘子污染雷电电位梯度法。然而,传统的检测方法不能实现非接触式检测,不仅需要大量人力,而且数据采集过程危险、复杂、易受外界环境影响。因此,有必要寻找一种高效、方便、准确、非接触的方法来评价绝缘子的污染状况。
[0004]紫外成像技术一种准确有效的异常放电检测方法,伴随着绝缘子污秽程度的增加,绝缘子表面发生异常放电的概率将大幅增加,因此通过检测绝缘子表面发生异常放电的程度可以有效表征绝缘子的污秽程度,然而紫外成像技术的检本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种联合紫外放电图像

高光谱图像的污秽绝缘子状态评估方法,其特征在于,其包括以下步骤:步骤S01:同步采集污秽绝缘子的紫外放电图像和高光谱图像且图像预处理,开展紫外放电图像和高光谱图像的视场匹配;步骤S02:提取所述紫外放电图像中异常放电区域并计算放电特征量,获得所述高光谱图像中异常放电区域的反射率曲线并计算光谱曲线特征量,基于所述放电特征量和光谱曲线特征量构建电

光联合分析特征矩阵Z;步骤S03:归一化所述电

光联合分析特征矩阵Z,并输入至多种分类器融合的污秽等级分类模型中评估污秽绝缘子状态。2.根据权利要求1所述的一种联合紫外放电图像

高光谱图像的污秽绝缘子状态评估方法,其特征在于,优选的,所述步骤S01中,经由紫外成像获取污秽绝缘子的紫外放电图像,并通过图像去噪和图像增强预处理所述紫外放电图像;高光谱成像获取污秽绝缘子的高光谱图像,并通过多元散射校正、S

G滤波和黑白校准预处理所述高光谱图像;提取所述紫外放电图像和高光谱图像的特征点及其特征描述符,匹配其特征向量实现紫外放电图像和高光谱图像的视场匹配。3.根据权利要求1所述的一种联合紫外放电图像

高光谱图像的污秽绝缘子状态评估方法,其特征在于,所述步骤S02中,基于紫外放电图像,采取二值化处理并使用边缘检测提取异常放电区域的位置坐标[x
i
,y
i
...

【专利技术属性】
技术研发人员:罗龙赵云龙刘占双齐鹏文李岩郭培恒翁钢于涛王伟贾明辉王文斌潘超韩婷石岩郑显亚刘丹陈培鑫洪婉婉刘洋马超苏伟杨振
申请(专利权)人:国网青海省电力公司国家电网有限公司
类型:发明
国别省市:

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