目标检测方法、装置、电子设备与存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种目标检测方法、装置、电子设备与存储介质，其中方法包括：确定待检测图像；基于目标检测模型，对所述待检测图像进行目标检测，得到所述待检测图像中的紧致框，所述紧致框与所述待检测图像中目标外切，所述紧致框在所述目标的最小外接矩形框内；所述目标检测模型是基于样本图像以及所述样本图像中的样本紧致框训练得到的，所述样本紧致框基于所述样本图像中样本目标的最小外接矩形框和目标掩膜确定。本发明专利技术提供的方法、装置、电子设备与存储介质，通过目标检测模型能够基于输入的待检测图像生成图像中目标的紧致框，实现精确刻画目标的细节信息，提高了目标检测的精度，并且此种目标表示方法相较于现有技术更加具有通用性。具有通用性。具有通用性。

【技术实现步骤摘要】
目标检测方法、装置、电子设备与存储介质


[0001]本专利技术涉及计算机视觉
，尤其涉及一种目标检测方法、装置、电子设备与存储介质。

技术介绍

[0002]任意方向目标检测作为目标检测领域的拓展分支之一，在智能交通、遥感图像目标检测、场景文本检测、鱼眼图像行人检测等领域都得到了广泛的应用。一些场景中的目标存在密集排列、任意方向、背景杂乱、长宽比较大等问题，此时再使用传统的水平边界框表示目标的位置，会存在包含过多背景信息或者前景背景歧义的问题。
[0003]现有的任意方向目标检测方法通常采用旋转矩形框的五参数表示法或者任意四边形的八参数表示法来表示目标的位置，这两种目标表示方式虽然能从一定程度上减轻水平边界框表示方法所存在的问题，但仍无法精确刻画目标的细节信息。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种目标检测方法、装置、电子设备与存储介质，用以解决现有技术无法充分利用目标细节信息，无法以紧致的方式表示目标的缺陷，实现了目标位置、方向等细节信息的精确刻画。
[0005]本专利技术提供一种目标检测方法，包括本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种目标检测方法，其特征在于，包括：确定待检测图像；基于目标检测模型，对所述待检测图像进行目标检测，得到所述待检测图像中的紧致框，所述紧致框与所述待检测图像中目标外切，所述紧致框在所述目标的最小外接矩形框内；所述目标检测模型是基于样本图像以及所述样本图像中的样本紧致框训练得到的，所述样本紧致框基于所述样本图像中样本目标的最小外接矩形框和目标掩膜确定。2.根据权利要求1所述的目标检测方法，其特征在于，所述基于目标检测模型，对所述待检测图像进行目标检测，得到所述待检测图像中的紧致框，包括：基于所述目标检测模型中的矩形框检测网络，对所述待检测图像进行目标检测，得到所述待检测图像中的矩形框；基于所述目标检测模型中的紧致框检测网络，应用所述矩形框内的图像特征，在所述矩形框内进行目标检测，得到所述紧致框。3.根据权利要求2所述的目标检测方法，其特征在于，所述基于所述目标检测模型中的紧致框检测网络，应用所述矩形框内的图像特征，在所述矩形框内进行目标检测，得到所述紧致框，包括：基于所述目标检测模型中的紧致框检测网络，应用所述矩形框内的图像特征，在所述矩形框内进行目标检测，得到所述矩形框的各顶点的滑动偏移量，并基于所述矩形框的各顶点的滑动偏移量，确定所述紧致框的各顶点，并基于所述紧致框的各顶点确定所述紧致框。4.根据权利要求3所述的目标检测方法，其特征在于，所述基于所述矩形框的各顶点的滑动偏移量，确定所述紧致框的各顶点，之前还包括：若所述矩形框的任一顶点的滑动偏移量小于预设阈值，则将所述任一顶点的滑动偏移量更新为零。5.根据权利要求3所述的目标检测方法，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：晏雨晴，贾若然，李成龙，谭昶，汤进，张友国，吕军，胡少云，刘江，冯祥，韩辉，
申请(专利权)人：安徽大学科大讯飞股份有限公司，
类型：发明
国别省市：