像素修复方法及有机发光显示面板的制作方法技术

本发明专利技术涉及一种像素修复方法及有机发光显示面板的制作方法，所述像素修复方法在像素阵列内的子像素出现缺陷形成缺陷子像素时，向断开缺陷子像素的信号接收端，通过设置连接线将缺陷子像素的阳极与相邻的正常子像素的阳极串联连接，结合亮度补偿技术即可实现对缺陷子像素的修复，使该缺陷子像素可正常发光，显示亮度和相邻正常子像素一致，实现缺陷子像素的伪正常化，可降低像素阵列内的金属走线密度，避免像素空间不足而不能进行缺陷正常化修补，降低有机发光显示面板产品内的缺陷点数量，提升产品良率。提升产品良率。提升产品良率。

【技术实现步骤摘要】
像素修复方法及有机发光显示面板的制作方法


[0001]本专利技术涉及显示
，特别涉及一种像素修复方法及有机发光显示面板的制作方法。

技术介绍

[0002]目前量产的大尺寸有机发光显示面板(OLED)产品，为降低像素阵列中的暗点数量，通常在像素结构设计时采用预留阳极桥接的设计，即，在相邻两颜色相同的子像素之间设计阳极桥接走线，该阳极桥接走线的一端连接到一子像素a的阳极，另一端连接至相邻的另一同色子像素b的阳极搭接区但不与子像素b的阳极导通。当子像素a出现缺陷(例如暗点)需要修复时，将阳极桥接走线与子像素b的阳极搭接区的连接处通过镭射熔接的方式进行导通，从而将子像素a与子像素b连接到一起，实现对子像素a的修复。但是，采用阳极桥接走线的修复方式会增加像素阵列内的走线密度，而且镭射熔接的方式存在损坏其他金属走线的风险，影响产品良率。

技术实现思路

[0003]本专利技术目的在于，解决现有像素修复方法会增加走线密度的问题。
[0004]为实现上述目的，本专利技术提供一种像素修复方法，包括：
[0005]当像素阵列内的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种像素修复方法，其特征在于，包括：当像素阵列内的子像素出现显示缺陷形成缺陷子像素时，断开所述缺陷子像素的驱动薄膜晶体管的信号接收端；将与所述缺陷子像素相邻的一正常子像素与所述缺陷子像素串联连接；对所述正常子像素与所述缺陷子像素进行亮度补偿。2.如权利要求1所述的像素修复方法，其特征在于，所述断开所述缺陷子像素的驱动薄膜晶体管的信号接收端的步骤包括：断开所述缺陷子像素的所述驱动薄膜晶体管与数据线之间的电连接。3.如权利要求2所述的像素修复方法，其特征在于，所述断开所述缺陷子像素的驱动薄膜晶体管的信号接收端的步骤包括：断开所述缺陷子像素的所述驱动薄膜晶体管与高电位电源线之间的电连接。4.如权利要求3所述的像素修复方法，其特征在于，所述断开所述缺陷子像素的驱动薄膜晶体管的信号接收端的步骤包括：断开所述缺陷子像素的所述驱动薄膜晶体管与感测薄膜晶体管之间的电连接。5.如权利要求4所述的像素修复方法，其特征在于，所述将与所述缺陷子像素相邻的一正常子像素与所述缺陷子像素串联连接的步骤包括：将所述正常子像素的阳极与所述缺陷子像素的阳极通过连接线串联连接。6.如权利要求5所述的像素修复方法，其特征在于，所述对所述正常子像素与所述缺陷子像素进行亮度补偿的步骤包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：何伟，
申请(专利权)人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：