一种读码器的启动测试电路及其方法技术

本发明专利技术涉及一种读码器的启动测试电路及其方法，包括：循环测试电路、闭环测试电路和测试电路切换模块；循环测试电路用于产生矩形波信号，驱动MOS开关，使读码器周期性上电和断电，并显示读码器启动成功和失败的次数；闭环测试电路用于给读码器上电，检测读码器是否上电成功，若读码器上电不成功，则维持当前状态，以便分析读码器上电不成功的原因，若读码器上电成功，则断电延时预设时间后再上电；测试电路切换模块用于切换启用循环测试电路或闭环测试电路。本发明专利技术通过循环测试电路和闭环测试电路可以计算出读码器的启动成功率，分析读码器启动失败的原因，实现读码器启动成功率的自动测试。动测试。动测试。

【技术实现步骤摘要】
一种读码器的启动测试电路及其方法


[0001]本专利技术涉及电路
，尤其是指一种读码器的启动测试电路及其方法。

技术介绍

[0002]工业读码器是一种对物品上的一维码或二维码进行扫码(拍照并解码)的电子产品，通常应用于工厂流水线上自动扫码，是工业自动化检测、和产品/物料全流程自动化管理系统的一部分。
[0003]工业读码器作为自动化系列中的一部分，对其可靠性有很高的要求。其中，上电启动成功率是一个重要指标。在工业现场，读码器的电源通常都是永久性固定连接在现场直流电源总线上，没有单独的开关，如果启动失败，只能重启整个系统电源，费时且不方便。更进一步，如果读码器启动失败且用户没监测到，直接启动生产流程，会造成更糟糕的后果。读码器的标准是上电启动成功率大于99.999％，即平均10万台次上电启动，失败率不能大于1台次。读码器内部运行Linux系统，一次启动时长接近半分钟。不同型号的读码器启动成功后有不同的特征输出，有的运行指示灯闪烁；有的内置照明光源打开；有的用户IO端口输出信号。如果采用人工测试，会耗费相当多的测试时间，而且容易出现失本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种读码器的启动测试电路，其特征在于，包括：循环测试电路、闭环测试电路和测试电路切换模块；所述循环测试电路，用于产生矩形波信号，驱动MOS开关，使读码器周期性上电和断电，并显示所述读码器启动成功和失败的次数；所述闭环测试电路，用于给所述读码器上电，检测所述读码器是否上电成功，若所述读码器上电不成功，则维持当前状态，以便分析所述读码器上电不成功的原因，若所述读码器上电成功，则断电延时预设时间后再上电；所述测试电路切换模块，用于切换启用所述循环测试电路或所述闭环测试电路。2.根据权利要求1所述的测试启动电路，其特征在于，所述循环测试电路包括：电源开/关信号循环产生器，用于产生矩形波信号，在高电平期间驱动所述MOS开关闭合，使读码器上电，在低电平期间驱动所述MOS开关断开，使所述读码器断电；第一数显计数器，用于通过统计所述读码器的上电次数，得到所述读码器的启动次数；第二数显计数器，用于通过统计所述读码器的输出端口输出电信号的次数，得到所述读码器的启动成功次数。3.根据权利要求2所述的测试启动电路，其特征在于，所述循环测试电路还包括：第一光敏电阻采样电路，用于检测所述读码器的内置光源信号；比较/放大电路，用于提取并发送所述内置光源信号至所述第二数显计数器，以便所述第二数显计数器通过统计所述内置光源信号被点亮的次数，得到所述读码器的启动成功次数。4.根据权利要求1所述的测试启动电路，其特征在于，所述闭环测试电路包括：RS触发锁存器，用于当所述闭环测试电路启动后，输出高电平，闭合所述MOS开关，使所述读码器上电；第二光敏电阻采样电路，用于检测所述读码器的运行指示灯闪烁信号；比较器，用于提取并发送所述运行指示灯闪烁信号至延时检测电路；所述延时检测电路，用于检测所述运行指示灯闪烁信号是否达到预设次数，若所述运行指示灯闪烁信号达到预设次数，则输出断开所述MOS开关的信号至所述RS触发锁存器，使所述读码器断电；断电延时电路，用于当所述读码器断电后，延时预设时间后输出闭合所述MOS开关的信号至所述RS触发锁存器，使所述读码器上电。5.根据权利要求4所述的测试启动电路，其特征在于，所述第二光敏电阻采样电路，还用于检测所述读码器的内置光源信号，以便通过所述比较器提取并发送所述内置光源信号至所述延时检测电路。6...

【专利技术属性】
技术研发人员：骆亭，
申请(专利权)人：浙江华周智能装备有限公司，
类型：发明
国别省市：