时钟芯片频率补偿方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种时钟芯片频率补偿方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取历史检测周期检测时钟芯片得到的历史温度值；根据历史温度值和时钟芯片的精度等级确定当前检测周期；获取当前检测周期检测时钟芯片得到的当前温度值；基于当前温度值对时钟芯片进行频率补偿。通过使用上述方案，可根据时钟芯片的精度等级自适应调整时钟芯片的检测周期，解决了现有方案中在同一应用场景下时钟芯片存在多种等级需求时，导致的功耗高，以及资源浪费等问题，本发明专利技术实施例提供的方案可根据客户需求设置时钟芯片的精度等级，具备精度可调，节省资源等有益效果。节省资源等有益效果。节省资源等有益效果。

【技术实现步骤摘要】
时钟芯片频率补偿方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术实施例涉及芯片设计
，尤其涉及时钟芯片频率补偿方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]时钟芯片(Real
‑
Time Clock，简称RTC)能够为人们提供精确的实时时间，以及为电子系统提供精确的时间基准，广泛应用于日常生活中，例如，水表、电表以及燃气表等。由于时钟芯片的特性，在工作过程中随着温度的变化会引起晶振的频率震荡，从而导致计时时间不准确，因此需要对时钟芯片进行频率补偿。
[0003]在现有方案中，时钟芯片的精度在出厂时已经定义好了，且在一个应用场合中可能存在有多种精度要求，例如，存在初始工作时精度要求低，在后续工作中精度要求高的情况，则一般选择设置时钟芯片精度要求的最高等级，从而以满足多种需求。
[0004]但是，上述方案存在低精度等级需求时需要使用高精度等级的时钟芯片进行工作的情况，导致功率损耗较大，从而造成资源浪费的问题。

技术实现思路

[0005]本专利技术实施例提供了一种时钟芯片频率补偿本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种时钟芯片频率补偿方法，其特征在于，包括：获取历史检测周期检测所述时钟芯片得到的历史温度值；根据所述历史温度值和所述时钟芯片的精度等级确定当前检测周期；获取所述当前检测周期检测所述时钟芯片得到的当前温度值；基于所述当前温度值对所述时钟芯片进行频率补偿。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述历史温度值和所述时钟芯片的精度等级确定当前检测周期，包括：根据所述历史温度值确定频率补偿误差；获取所述频率补偿误差的调节步长；根据所述频率补偿误差、所述调节步长和所述精度等级确定所述当前检测周期。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述历史温度值确定频率补偿误差，包括：σ＝a*|(T1
‑
t)2‑
(T2
‑
t)2|其中，σ表示所述频率补偿误差，α表示第一预设参数，t表示第二预设参数，所述历史检测周期包括第一检测周期和第二检测周期，所述第二检测周期为所述第一检测周期的上一检测周期，所述第一检测周期为所述当前检测周期的上一检测周期，T1表示所述第二检测周期检测得到的历史温度值，T2表示所述第一检测周期检测得到的历史温度值。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述频率补偿误差、所述调节步长和所述精度等级确定当前检测周期，包括：判断所述频率补偿误差是否超过所述精度等级；若不超过所述精度等级，则所述当前检测周期等于所述第一检测周期加上所述调节步长；若超过所述精度等级，则所述当前检测周期等于所述第一检测周期减去所述调节步长。5.根据权利要求1述的方法，其特征在于，基于所述当前温度值对所述时钟芯片进行频率补偿，包括：获取所述当前温度值对应的实际输出频率；从温度频率关系信息中获取所述当前温度值对应...

【专利技术属性】
技术研发人员：田学红，方佳泽，邱文才，林满院，
申请(专利权)人：广东大普通信技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：