时钟芯片频率补偿方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种时钟芯片频率补偿方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取历史检测周期检测时钟芯片得到的历史温度值；根据历史温度值和时钟芯片的精度等级确定当前检测周期；获取当前检测周期检测时钟芯片得到的当前温度值；基于当前温度值对时钟芯片进行频率补偿。通过使用上述方案，可根据时钟芯片的精度等级自适应调整时钟芯片的检测周期，解决了现有方案中在同一应用场景下时钟芯片存在多种等级需求时，导致的功耗高，以及资源浪费等问题，本发明专利技术实施例提供的方案可根据客户需求设置时钟芯片的精度等级，具备精度可调，节省资源等有益效果。节省资源等有益效果。节省资源等有益效果。

【技术实现步骤摘要】
时钟芯片频率补偿方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术实施例涉及芯片设计
，尤其涉及时钟芯片频率补偿方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]时钟芯片(Real
‑
Time Clock，简称RTC)能够为人们提供精确的实时时间，以及为电子系统提供精确的时间基准，广泛应用于日常生活中，例如，水表、电表以及燃气表等。由于时钟芯片的特性，在工作过程中随着温度的变化会引起晶振的频率震荡，从而导致计时时间不准确，因此需要对时钟芯片进行频率补偿。
[0003]在现有方案中，时钟芯片的精度在出厂时已经定义好了，且在一个应用场合中可能存在有多种精度要求，例如，存在初始工作时精度要求低，在后续工作中精度要求高的情况，则一般选择设置时钟芯片精度要求的最高等级，从而以满足多种需求。
[0004]但是，上述方案存在低精度等级需求时需要使用高精度等级的时钟芯片进行工作的情况，导致功率损耗较大，从而造成资源浪费的问题。

技术实现思路

[0005]本专利技术实施例提供了一种时钟芯片频率补偿方法、装置、电子设备及存储介质，以解决现有方案对时钟芯片进行补偿时的功率损耗较大，以致造成资源浪费的问题。
[0006]根据本专利技术实施例的一方面，提供了一种时钟芯片频率补偿方法，包括：
[0007]获取历史检测周期检测所述时钟芯片得到的历史温度值；
[0008]根据所述历史温度值和所述时钟芯片的精度等级确定当前检测周期；
[0009]获取所述当前检测周期检测所述时钟芯片得到的当前温度值；
[0010]基于所述当前温度值对所述时钟芯片进行频率补偿。
[0011]根据本专利技术的另一方面，提供了一种时钟芯片频率补偿装置，包括：
[0012]第一获取模块，用于获取历史检测周期检测所述时钟芯片得到的历史温度值；
[0013]确定模块，用于根据所述历史温度值和所述时钟芯片的精度等级确定当前检测周期；
[0014]第二获取模块，用于获取所述当前检测周期检测所述时钟芯片得到的当前温度值；
[0015]补偿模块，用于基于所述当前温度值对所述时钟芯片进行频率补偿。
[0016]根据本专利技术的另一方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：
[0017]至少一个处理器；以及
[0018]与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
[0019]所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本专利技术任一实施例所述的时钟芯片频率补偿方法。
[0020]根据本专利技术的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本专利技术任一实施例所述的时钟芯片频率补偿方法。
[0021]本专利技术实施例的技术公开的时钟芯片频率补偿方案，首先获取历史检测周期检测时钟芯片得到的历史温度值；然后根据历史温度值和时钟芯片的精度等级确定当前检测周期；再获取当前检测周期检测时钟芯片得到的当前温度值；最后基于当前温度值对时钟芯片进行频率补偿。通过使用上述方案，可根据时钟芯片的精度等级自适应调整时钟芯片的检测周期，解决了现有方案中在同一应用场景下时钟芯片存在多种等级需求时，导致的功耗高，以及资源浪费等问题，本专利技术实施例提供的方案可根据客户需求设置时钟芯片的精度等级，具备精度可调，节省资源等有益效果。
[0022]应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
[0023]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0024]图1是根据本专利技术实施例一提供的一种时钟芯片频率补偿方法的流程图；
[0025]图2是根据本专利技术实施例二提供的一种时钟芯片频率补偿方法的流程图；
[0026]图3是根据本专利技术实施例三提供的一种时钟芯片频率补偿装置的结构示意图；
[0027]图4是实现本专利技术实施例四提供的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0028]为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。
[0029]需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本专利技术的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0030]实施例一
[0031]图1为本专利技术实施例一提供了一种时钟芯片频率补偿时钟芯片频率补偿方法的流程图，本实施例可适用于对时钟芯片进行频率补偿的情况，该方法可以由时钟芯片频率补
偿装置来执行，该时钟芯片频率补偿装置可以采用硬件和/或软件的形式实现，该时钟芯片频率补偿装置可配置于服务器等计算机设备中。
[0032]时钟芯片是一款低功耗实时时钟芯片，在使用时需要满足高精度低功耗的要求，由于时钟芯片里面的32K音叉晶体会受温度变化的影响，其振荡频率会随着温度变化，从而导致时钟芯片计时不准确。因此，需要检测时钟芯片的温度变化情况。以通过温度变化情况来确定频率偏移情况，从而对不同温度状态下的时钟芯片的频率进行补偿，以使得时钟芯片在工作时持续满足高精度的要求。有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种时钟芯片频率补偿方案，通过对时钟芯片的温度值进行周期性检测，以对不同检测周期下的时钟芯片进行频率补偿，从而使得时钟芯片满足高精度低功耗的需求。
[0033]请参照图1，本专利技术实施例提供的时钟芯片频率补偿方法包括：
[0034]S110、获取历史检测周期检测时钟芯片得到的历史温度值。
[0035]历史检测周期表示在时钟芯片工作时每经一个检测周期便可获得一个对应的历史温度值，当前历史检测周期由两个及以上的连续检测周期组成，一个检测周期可以理解为一个时间周期，即至少积累两个连续时间周期对应的历史温度值后，才便于执行后续步骤，这样做的好处在于以保证后续步骤对时钟芯本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种时钟芯片频率补偿方法，其特征在于，包括：获取历史检测周期检测所述时钟芯片得到的历史温度值；根据所述历史温度值和所述时钟芯片的精度等级确定当前检测周期；获取所述当前检测周期检测所述时钟芯片得到的当前温度值；基于所述当前温度值对所述时钟芯片进行频率补偿。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述历史温度值和所述时钟芯片的精度等级确定当前检测周期，包括：根据所述历史温度值确定频率补偿误差；获取所述频率补偿误差的调节步长；根据所述频率补偿误差、所述调节步长和所述精度等级确定所述当前检测周期。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述历史温度值确定频率补偿误差，包括：σ＝a*|(T1
‑
t)2‑
(T2
‑
t)2|其中，σ表示所述频率补偿误差，α表示第一预设参数，t表示第二预设参数，所述历史检测周期包括第一检测周期和第二检测周期，所述第二检测周期为所述第一检测周期的上一检测周期，所述第一检测周期为所述当前检测周期的上一检测周期，T1表示所述第二检测周期检测得到的历史温度值，T2表示所述第一检测周期检测得到的历史温度值。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述频率补偿误差、所述调节步长和所述精度等级确定当前检测周期，包括：判断所述频率补偿误差是否超过所述精度等级；若不超过所述精度等级，则所述当前检测周期等于所述第一检测周期加上所述调节步长；若超过所述精度等级，则所述当前检测周期等于所述第一检测周期减去所述调节步长。5.根据权利要求1述的方法，其特征在于，基于所述当前温度值对所述时钟芯片进行频率补偿，包括：获取所述当前温度值对应的实际输出频率；从温度频率关系信息中获取所述当前温度值对应...

【专利技术属性】
技术研发人员：田学红，方佳泽，邱文才，林满院，
申请(专利权)人：广东大普通信技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：