一种集约化开关量检测模块制造技术

本实用新型专利技术涉及空调管家系统技术领域，尤指一种集约化开关量检测模块，包含：地址选通器、开关量采集电路、MCU处理器以及至少一个多路模拟开关，所述地址选通器的输出端与所述多路模拟开关的输入端连接，所述多路模拟开关的输出端与所述开关量采集电路的输入端连接，所述开关量采集电路的输出端与所述MCU处理器的输入端连接，所述MCU处理器的输出端与所述地址选通器的输入端连接。本实用新型专利技术可以减少重复的开关量采集电路的数量，同时选用更少IO口的MCU，从而降低生产成本以及实现开关量检测模块的小型化。模块的小型化。模块的小型化。

【技术实现步骤摘要】
一种集约化开关量检测模块


[0001]本技术涉及空调管家系统
，尤指一种集约化开关量检测模块。

技术介绍

[0002]在空调管家系统中，开关量输入信号的检测必不可少。开关量电路能实时检测多个开关量的状态，并将其状态传输给MCU以进行下一步动作判定。
[0003]传统的开关量监测模块采用多个重复的开关量采集电路来监测若干路开关量。例如，外部有开关量有50个需要监测，就需要50个开关量采集电路，且需要占用MCU的50个IO口。传统开关量监测模块的电路庞杂，控制困难；且需要采用较多IO口的MCU，造成整个模块体积大、成本高。

技术实现思路

[0004]为解决上述问题，本技术的主要目的在于提供一种集约化开关量检测模块，其可以减少重复的开关量采集电路的数量，同时选用更少IO口的MCU，从而降低生产成本以及实现开关量检测模块的小型化。
[0005]为实现上述目的，本技术采用的技术方案是：
[0006]一种集约化开关量检测模块，包含：地址选通器、开关量采集电路、MCU处理器以及至少一个多路模拟开关，
[0007]所述地址选通器的输出端与所述多路模拟开关的输入端连接，所述多路模拟开关的输出端与所述开关量采集电路的输入端连接，所述开关量采集电路的输出端与所述MCU处理器的输入端连接，所述MCU处理器的输出端与所述地址选通器的输入端连接。
[0008]进一步，所述MCU处理器连接有晶振电路和电源电路。
[0009]进一步，所述开关量采集电路包括光电耦合器或数字隔离器，r/>[0010]所述光电耦合器的输入端与所述多路模拟开关的输出端连接，所述光电耦合器的输出端与所述MCU处理器的输入端连接；
[0011]所述数字隔离器的输入端与所述多路模拟开关的输出端连接，所述数字隔离器的输出端与所述MCU处理器的输入端连接。
[0012]进一步，所述多路模拟开关的COM引脚与所述光电耦合器的输入端连接，所述多路模拟开关的地址输入端与所述地址选通器输出端连接。
[0013]进一步，所述地址选通器的输出端与所述多路模拟开关的地址输入端连接，所述地址选通器的输入端与所述MCU处理器的输出端连接。
[0014]进一步，所述多路模拟开关的COM引脚与所述光电耦合器的输入端之间连接有LED灯。
[0015]进一步，所述光电耦合器的型号为TLP181。
[0016]进一步，所述光电耦合器的第4引脚通过上拉电阻连接3.3V电压。
[0017]进一步，所述开关量采集电路还包括电容C1、电容C2和电阻R1。
[0018]本技术的有益效果在于：
[0019]本技术包含：地址选通器、开关量采集电路、MCU处理器以及至少一个多路模拟开关。本技术将多个重复的开关量电路合并为一路或若干路，可以减少重复的开关量采集电路的数量，同时选用更少IO口的MCU，从而降低生产成本以及实现开关量检测模块的小型化。
附图说明
[0020]图1是本技术的电路图。
[0021]图2是本技术的电路原理图。
[0022]图3是所述多路模拟开关的真值表示意图。
具体实施方式
[0023]请参阅图1－2所示，本技术关于一种集约化开关量检测模块，包含：地址选通器、开关量采集电路、MCU处理器以及至少一个多路模拟开关，
[0024]所述地址选通器的输出端与所述多路模拟开关的输入端连接，所述多路模拟开关的输出端与所述开关量采集电路的输入端连接，所述开关量采集电路的输出端与所述MCU处理器的输入端连接，所述MCU处理器的IO口与所述地址选通器的输入端连接。
[0025]在上述方案中，所述多路模拟开关可以接入多路开关量信号，所述MCU处理器控制所述地址选通器产生多个不同的地址信号，地址信号控制所述多路模拟开关切换不同的模拟通道，具体为：
[0026]地址选通器可以输出8位地址信号。一般多路模拟开关的地址信号为3位或4位，因此8位地址信号可分时控制若干个多路模拟开关，使多路模拟开关的扩展极其方便。多路模拟开关可选用8路或16路多路模拟开关，多路模拟开关地址信号由地址选通器发出，不同的地址信号控制某一路多路模拟开关的选通与否。如果为8选1多路模拟开关，其地址控制信号为3位；相应的，16选1多路模拟开关，其地址信号为4位。
[0027]本技术使用地址选通器和多路模拟开关实现了开关量采集电路的集约化设计。本技术采用地址选通器74HC595和若干多路模拟开关CD4067，省略了大量重复的开关量采集电路。通过地址信号来分时选通多路模拟开关的对应通道，保证所有开关量均能有效选通。每一时刻只有一个开关量被输入到MCU处理器。进一步地，为了提高系统的实时性，可以不将多路模拟开关的输出信号互连，即每个多路模拟开关的输出信号分别连接到MCU处理器的不同IO口。
[0028]采用上述操作方式，除去地址选通器的控制信号，MCU处理器还需要给每个多路模拟开关输出不同的片选信号。但是，与传统的开关量监测模块相比，本模块只需较少的IO口即可实现相同的开关量采集功能。
[0029]传统的开关量监测模块相比，本技术可选择较少IO口的MCU处理器，保证其资源合理利用。同时仅需一个或较少个开关量采集电路，大大减小了整体的体积，减小了设计的繁杂度。在现场安装中可以不受环境的强约束，大大增强了安装便利性。
[0030]进一步地，所述MCU处理器连接有晶振电路和电源电路。
[0031]进一步地，所述开关量采集电路包括光电耦合器或数字隔离器，
[0032]所述光电耦合器的输入端与所述多路模拟开关的输出端连接，所述光电耦合器的输出端与所述MCU处理器的输入端连接；
[0033]所述数字隔离器的输入端与所述多路模拟开关的输出端连接，所述数字隔离器的输出端与所述MCU处理器的输入端连接。
[0034]所述多路模拟开关的型号为CD4067或者CD4051，请参阅图2所示，所述多路模拟开关的COM引脚与所述光电耦合器的输入端连接，所述多路模拟开关的地址输入端与所述地址选通器输出端连接。所述地址选通器的型号为74HC595，所述地址选通器的输出端与所述多路模拟开关的地址输入端连接，所述地址选通器的输入端与所述MCU处理器的输出端连接；
[0035]在上述方案中，采用74HC595作为地址选通器，其控制信号由MCU处理器发出，输出8路地址信号，分别为S0－S7；图2中包含两个多路模拟开关，分别为U2和U3。U2的地址选通信号由S0、S1、S2、S3来控制，U3的地址选通信号由S1、S2、S3、S4来控制；同样的，可以通过增加多路模拟开关的个数来扩展多路模拟开关选择通道。
[0036]对于U2，S0－S3为0时，选择通道0，即KI0的值被选通到COM1处。S0－S3为1时，KI1的值被选通到COM1处。型号为CD4067的多路模拟开关的真值表如图3所示。对于U3，S1本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集约化开关量检测模块，其特征在于，包含：地址选通器、开关量采集电路、MCU处理器以及至少一个多路模拟开关，所述地址选通器的输出端与所述多路模拟开关的输入端连接，所述多路模拟开关的输出端与所述开关量采集电路的输入端连接，所述开关量采集电路的输出端与所述MCU处理器的输入端连接，所述MCU处理器的输出端与所述地址选通器的输入端连接。2.根据权利要求1所述的一种集约化开关量检测模块，其特征在于：所述MCU处理器连接有晶振电路和电源电路。3.根据权利要求2所述的一种集约化开关量检测模块，其特征在于：所述开关量采集电路包括光电耦合器或数字隔离器，所述光电耦合器的输入端与所述多路模拟开关的输出端连接，所述光电耦合器的输出端与所述MCU处理器的输入端连接；所述数字隔离器的输入端与所述多路模拟开关的输出端连接，所述数字隔离器的输出端与所述MCU处理器的输入端连接。4.根据权利要求3所述的一种集约...

【专利技术属性】
技术研发人员：薛贺杰，熊钧，张念东，
申请(专利权)人：珠海派诺科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：